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本发明为空间光束绝对位置测量装置及校准方法，涉及空间光学精密测量领域，解决了精密测量平台装调过程中无法对光束在特定全局坐标系下的绝对位置进行直接测量的问题。技术特征包括光束绝对位置测量机构；所述光束绝对位置测量机构包括基板、透镜组、半反半透...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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