一种提升磁控溅射镀膜沉积速率装置制造方法及图纸

技术编号:22845560 阅读:20 留言:0更新日期:2019-12-17 22:32
本发明专利技术公开了一种提升磁控溅射镀膜沉积速率装置,包括真空腔室、设置真空腔室顶部的密封盖、穿设在密封盖上的升降台及固定设置在升降台上的助吸装置,所述助吸装置包括吸环、连管及半圆形密封盘,所述吸环上均匀分布吸气孔,所述连管与吸环相连通,所述半圆型密封盘设置在连管端部位置,所述吸环表面相对位置处设有支撑块,所述支撑块上设有紧固螺钉,并通过紧固螺钉与升降台相连。本发明专利技术的有益效果是:该装置设计结构合理,使用方便,应用本装置为样品进行磁控溅射镀膜,使镀膜效率得到提高,对薄膜的制造领域具有重要的意义。

【技术实现步骤摘要】
一种提升磁控溅射镀膜沉积速率装置
本专利技术涉及真空磁控溅射镀膜
,具体涉及一种磁控溅射中助吸靶原子的装置。
技术介绍
磁控溅射是物理气相沉积(PhysicalVaporDeposition,PVD)的一种,一般的溅射法可被用于制备金属、半导体、绝缘体等多材料,且具有设备简单、易于控制、镀膜面积大和附着力强等优点,而上世纪70年代发展起来的磁控溅射法更是实现了高速、低温、低损伤。因为是在低气压下进行高速溅射,必须有效地提高气体的离化率。磁控溅射通过在靶阴极表面引入磁场,利用磁场对带电粒子的约束来提高等离子体密度以增加溅射率。目前的磁控溅射镀膜仪中,溅射出的靶原子只有小部分能够沉积到基片上,剩下的都被真空泵抽走,尤其对于相对质量比较小的靶原子来说,更容易被抽走,因此大大制约了镀膜的效率。
技术实现思路
针对现有技术中存在的上述问题,本专利技术的目的在于提供一种提升磁控溅射镀膜沉积速率装置,以实现提高镀膜的效率。本专利技术技术方案如下:一种提升磁控溅射镀膜沉积速率装置,其特征在于,包括真空腔室、设置真空腔室顶部的密封盖、穿设在密封盖上的升降台及固定设置在升降台上的助吸装置,所述助吸装置包括吸环、连管及半圆形密封盘,所述吸环上均匀分布吸气孔,所述连管与吸环相连通,所述半圆型密封盘设置在连管端部位置,所述吸环表面相对位置处设有支撑块,所述支撑块上设有紧固螺钉,并通过紧固螺钉与升降台相连。所述的一种提升磁控溅射镀膜沉积速率装置,其特征在于,所述升降台外表面设有基准刻度线,所述紧固螺钉沿着基准刻度线移动,并紧压在基准刻度线位置,从而调节助吸装置的高度。所述的一种提升磁控溅射镀膜沉积速率装置,其特征在于,所述连管与半圆形密封盘相连的一端的截面采用半圆形,另一端焊接设置在吸环上。所述的一种提升磁控溅射镀膜沉积速率装置,其特征在于,所述半圆形密封盘采用硅胶材料,且半圆形密封盘与真空腔室内壁相贴合。本专利技术的有益效果是:1)通过在基片上方安装一个助吸装置,产生一个额外向上的吸力,增加靶原子沉积在基片上的数量,从而提高镀膜的效率。2)该装置设计结构合理,使用方便,应用本装置为样品进行磁控溅射镀膜,使镀膜效率得到提高,对薄膜的制造领域具有重要的意义。附图说明图1为本专利技术的安装示意图;图2为本专利技术的结构示意图;图3为本专利技术的局部结构图;图4为本专利技术的助吸装置示意图;图中:1-排气口,2-助吸装置,3-腔室,4-密封盖,5-升降台,6-进气口,7-靶材,8-支座,9-半圆型密封盘,10-连管,11-吸环,12-基准刻度线,13-基片,14-连接块,15-紧固螺钉,16-吸气孔。具体实施方式以下结合说明书附图1-4,对本专利技术的技术方案做进一步的描述:磁控溅射镀膜装置包括真空腔室3、设置在真空腔室3顶部的密封盖4、设置在密封盖4上的升降台5及设置在真空腔室3底部且位于升降台5下方的三个支座8,真空腔室3两侧分别设有排气口1、进气口6;靶材7放置在三个支座8上,基片13放置在升降台5上,且靶材7与基片13斜对设置;基片13上连接阳极,三个靶材7上分别连接着阴极。磁控溅射中提升沉积镀膜效率装置,包括固定设置在升降台5上的助吸装置2,助吸装置2包括吸环11、连管10及半圆形密封盘9,吸环11下端面周向均匀分布吸气孔16,吸环11与连管10相连通,半圆型密封盘9设置在连管10端部位置,吸环11表面相对位置处设有支撑块14,支撑块14上设有紧固螺钉15,并通过紧固螺钉15与升降台5相连。升降台5外表面设有基准刻度线12,紧固螺钉15沿着基准刻度线12移动,并紧压在基准刻度线12位置,从而调节助吸装置2的高度。连管10与半圆形密封盘9相连的一端的截面采用半圆形,另一端焊接设置在吸环11上,连管10能够占用排气口1的一半面积。半圆形密封盘9与真空腔室2接触的面贴合设置,目的是为了保持两个面的吻合性,安装施加一定的压力,确保半圆形密封盘9与真空腔室3内壁紧密接触。工作过程:首先,根据镀膜试验选择的基片13与靶材7之间的间隔距离参数,调节紧固螺钉15在基准刻度线12上的位置,从而调整好助吸装置2在升降台5上的位置。密封盖4合上后,启动设备,当设备正常工作时,真空泵开始抽出气体,气体通过排气口1抽出。达到一定真空度后,控制升降台5平稳下降,达到指定的高度后,此时连管10占用排气孔1的一半面积。施加电场后,进气口6通入的气体开始电离启辉,靶材7上溅射出的靶原子一部分撞击在基片13上,镀膜沉积开始进行,助吸装置2借助排气孔1的部分吸力,吸引溅射原子向上运动,使得其中一部分溅射原子撞击基片13并沉积,剩余的经由排气孔排出。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种提升磁控溅射镀膜沉积速率装置,其特征在于,包括真空腔室(3)、设置真空腔室(3)顶部的密封盖(4)、穿设在密封盖(4)上的升降台(5)及固定设置在升降台(5)上的助吸装置(2),所述助吸装置(2)包括吸环(11)、连管(10)及半圆形密封盘(9),所述吸环(11)上均匀分布吸气孔(16),所述连管(10)与吸环(11)相连通,所述半圆型密封盘(9)设置在连管(10)端部位置,所述吸环(11)表面相对位置处设有支撑块(14),所述支撑块(14)上设有紧固螺钉(15),并通过紧固螺钉(15)与升降台(5)相连。/n

【技术特征摘要】
1.一种提升磁控溅射镀膜沉积速率装置,其特征在于,包括真空腔室(3)、设置真空腔室(3)顶部的密封盖(4)、穿设在密封盖(4)上的升降台(5)及固定设置在升降台(5)上的助吸装置(2),所述助吸装置(2)包括吸环(11)、连管(10)及半圆形密封盘(9),所述吸环(11)上均匀分布吸气孔(16),所述连管(10)与吸环(11)相连通,所述半圆型密封盘(9)设置在连管(10)端部位置,所述吸环(11)表面相对位置处设有支撑块(14),所述支撑块(14)上设有紧固螺钉(15),并通过紧固螺钉(15)与升降台(5)相连。


2.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:马毅谢续友黄先伟俞越翎张泰华
申请(专利权)人:浙江工业大学
类型:发明
国别省市:浙江;33

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