阵列基板、显示装置及其测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种阵列基板、显示装置及其测试方法，涉及显示技术领域，阵列基板包括：衬底基板以及位于衬底基板同一侧的扇出走线和测试电极；扇出走线位于扇出走线区，沿垂直于衬底基板所在平面的方向，任意相邻的两条扇出走线之间包括第一间隔区域；测试电极位于扇出走线区，沿垂直于衬底基板所在平面的方向，测试电极与扇出走线之间由至少一层绝缘层隔离；测试电极包括主体部和分别与主体部连接的多个延伸部，主体部和扇出走线在垂直于衬底基板所在平面的方向上的投影具有交叠区域；延伸部和扇出走线在衬底基板所在平面的正投影不交叠，且至少部分延伸部在衬底基板所在平面的正投影位于第一间隔区域。如此，既方便解析测试还有利于窄边框设计。

【技术实现步骤摘要】
阵列基板、显示装置及其测试方法
本专利技术涉及显示
，更具体地，涉及一种阵列基板、显示装置及其测试方法。
技术介绍
随着面板显示屏运用越来越广泛，宽屏技术成为其中的重要技术项，与此同时，显示面板窄下边框的技术也越来越重要。先进的电子产品，尤其是手携式电子产品，越来越趋向于小尺寸化。柔性电路板(FlexiblePrintedCircuit简称FPC)是实现电子产品窄边框化的重要技术。FPC是以聚酰亚胺或聚酯薄膜为基材制成的一种具有高度可靠性，绝佳的可挠性印刷电路板，具有配线密度高、重量轻、厚度薄、弯折性好的特点。现有技术中，会将控制芯片设计在柔性电路板上，将柔性电路板绑定在显示面板的绑定区，再将柔性电路板反折至显示面板的背面，从而实现显示装置的窄边框化。在显示面板的绑定区周围的非显示区，通常设置有若干的扇出走线，扇出走线用于与显示面板上的电路电连接。图1所示为现有技术所提供的显示面板的一种结构示意图，在图1所示视角下，在显示面板300的下边框区域设置有扇出走线301和焊盘302，在VT测试阶段，可以通过解焊盘302为显示面板提供显示信号，但当将柔性电路板与显示面板电连接后，柔性电路板会将焊盘302覆盖防止焊盘302被腐蚀，导致当显示装置出现显示异常时，工作人员没办法利用焊盘对显示面板中存在的问题进行解析。但是，另外当需要进一步减小显示面板的边框宽度时，在显示面板上也没有空间设置焊盘，导致无法在显示面板出现显示异常时对显示面板中所存在的问题进行解析。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种阵列基板、显示装置及其测试方法，将用来进行测试解析的测试电极设置于扇出走线区，复用扇出走线区的空间，既有利于实现显示装置的窄边框设计，又能够实现对扇出走线所连接的电路的解析测试，从而有利于提升显示装置的良率。第一方面，本申请提供一种阵列基板，包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述非显示区包括扇出走线区；所述阵列基板包括：衬底基板以及位于所述衬底基板同一侧的扇出走线和测试电极；所述扇出走线位于所述扇出走线区，沿垂直于所述衬底基板所在平面的方向，任意相邻的两条所述扇出走线之间包括第一间隔区域；所述测试电极位于所述扇出走线区，沿垂直于所述衬底基板所在平面的方向，所述测试电极与所述扇出走线之间由至少一层绝缘层隔离；所述测试电极包括主体部和分别与所述主体部连接的多个延伸部，所述主体部和所述扇出走线在垂直于所述衬底基板所在平面的方向上的投影具有交叠区域；所述延伸部和所述扇出走线在所述衬底基板所在平面的正投影不交叠，且至少部分所述延伸部在所述衬底基板所在平面的正投影位于所述第一间隔区域。第二方面，本申请提供一种显示装置，包括本申请所提供的阵列基板。第三方面，本申请还体用一种显示装置的测试方法，包括：提供本申请所提供的显示装置；对所述交叠区域进行激光烧熔，使所述测试电极和任一所述扇出走线电连接；向所述测试电极输入测试信号，使所述测试信号输入与所述测试电极电连接的所述扇出走线。与现有技术相比，本专利技术提供的阵列基板、显示装置及其测试方法，至少实现了如下的有益效果：本申请所提供的阵列基板、显示装置及其测试方法中，在扇出走线区引入了测试电极，测试电极的主体部沿垂直于衬底基板所在平面的正投影与扇出走线交叠，延伸部沿垂直于衬底基板所在平面的正投影位于第一间隔区域，如此，测试电极在阵列基板上的空间复用扇出走线区即可，无需占用其他非显示区的空间，有利于实现显示装置的窄边框设计。当显示面板出现显示异常，需要对扇出走线所连接的电路进行解析测试时，对主体部和待测扇出走线的交叠区域进行激光烧熔，使测试电极和待测扇出走线形成电连接，如此即可通过测试电极获取到与其电连接待测扇出走线及电路的工作状态(例如电路对应的波形等)，通过对工作状态进行分析即可判断该待测扇出走线及与其连接的电路是否出现异常。因此，本申请的上述设计既有利于实现显示装置的窄边框设计，还不会影响对扇出走线所连接的电路的测试与解析，从而有利于提升显示装置的良率。当然，实施本专利技术的任一产品必不特定需要同时达到以上所述的所有技术效果。通过以下参照附图对本专利技术的示例性实施例的详细描述，本专利技术的其它特征及其优点将会变得清楚。附图说明被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本专利技术的实施例，并且连同其说明一起用于解释本专利技术的原理。图1所示为现有技术所提供的显示面板的一种结构示意图；图2所示为本申请实施例所提供的阵列基板的一种俯视图；图3所示为图2实施例所提供的阵列基板中扇出走线区的局部放大图；图4所示为图3实施例所提供的阵列基板的一种AA’截面图；图5所示为将主体部和待测扇出走线的交叠区域进行激光烧熔后的一种示意图；图6所示为图3实施例所提供的阵列基板的另一种AA’截面图；图7所示为测试电极与第一电极层通过过孔连接时的一种俯视图；图8所示为图2实施例所提供的阵列基板的一种BB’截面图；图9所示为本申请实施例所提供的测试电极与扇出走线的一种相对位置关系图；图10所示为本申请实施例所提供的测试电极与扇出走线的另一种相对位置关系图；图11所示为本申请实施例所提供的测试电极与扇出走线的再一种相对位置关系图；图12所示为本申请实施例所提供的测试电极与扇出走线的又一种相对位置关系图；图13所示为本申请实施例所提供的测试电极与扇出走线的又一种相对位置关系图；图14所示为第一电极层的一种俯视图；图15所示为本申请实施例所提供的阵列基板的另一种俯视图；图16所示为本申请实施例所提供的显示装置的一种结构示意图；图17所示为本申请实施例所提供的显示装置的测试方法的一种流程图。具体实施方式现在将参照附图来详细描述本专利技术的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本专利技术的范围。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本专利技术及其应用或使用的任何限制。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。现有技术所提供的显示面板300中，例如请参见图1，通常将焊盘302设定在绑定区303沿第一方向的两侧，在VT测试阶段，可以通过焊盘302为显示面板提供显示信号，但当将柔性电路板与显示面板电连接后，柔性电路板会将焊盘302覆盖防止焊盘302被腐蚀，导致当显示装置出现显示异常时，工作人员没办法利用焊盘对显示面板中存在的问题进行解析。另外，当需本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阵列基板，其特征在于，包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述非显示区包括扇出走线区；所述阵列基板包括：衬底基板以及位于所述衬底基板同一侧的扇出走线和测试电极；/n所述扇出走线位于所述扇出走线区，沿垂直于所述衬底基板所在平面的方向，任意相邻的两条所述扇出走线之间包括第一间隔区域；/n所述测试电极位于所述扇出走线区，沿垂直于所述衬底基板所在平面的方向，所述测试电极与所述扇出走线之间由至少一层绝缘层隔离；/n所述测试电极包括主体部和分别与所述主体部连接的多个延伸部，所述主体部和所述扇出走线在垂直于所述衬底基板所在平面的方向上的投影具有交叠区域；所述延伸部和所述扇出走线在所述衬底基板所在平面的正投影不交叠，且至少部分所述延伸部在所述衬底基板所在平面的正投影位于所述第一间隔区域。/n

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，其特征在于，包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述非显示区包括扇出走线区；所述阵列基板包括：衬底基板以及位于所述衬底基板同一侧的扇出走线和测试电极；
所述扇出走线位于所述扇出走线区，沿垂直于所述衬底基板所在平面的方向，任意相邻的两条所述扇出走线之间包括第一间隔区域；
所述测试电极位于所述扇出走线区，沿垂直于所述衬底基板所在平面的方向，所述测试电极与所述扇出走线之间由至少一层绝缘层隔离；
所述测试电极包括主体部和分别与所述主体部连接的多个延伸部，所述主体部和所述扇出走线在垂直于所述衬底基板所在平面的方向上的投影具有交叠区域；所述延伸部和所述扇出走线在所述衬底基板所在平面的正投影不交叠，且至少部分所述延伸部在所述衬底基板所在平面的正投影位于所述第一间隔区域。


2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，在垂直于所述衬底基板所在平面的方向，所述测试电极位于所述扇出走线远离所述衬底基板的一侧；
所述阵列基板还包括第一电极层，在垂直于所述衬底基板所在平面的方向，所述第一电极层位于所述测试电极远离所述衬底基板的一侧；在所述扇出走线区，所述第一电极层通过至少一个过孔与所述测试电极电连接。


3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述测试电极中，各所述延伸部分别通过至少一个所述过孔与所述第一电极层电连接。


4.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括像素电极层和公共电极层，所述像素电极层位于所述公共电极层远离所述衬底基板的一侧，或者，所述像素电极层位于所述公共电极层靠近所述衬底基板的一侧；
当所述像素电极层位于所述公共电极层远离所述衬底基板的一侧时，所述像素电极层复用为所述第一电极层；当所述像素电极位于所述公共电极层靠近所述衬底基板的一侧时，所述公共电极层复用为所述第一电极层。


5.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述扇出走线包括第一扇出走线，所述第一扇出走线用于传递栅极驱动信号；
所述主体部与各所述第一扇出走线在垂直于所述衬底基板所在平面的正投影均具有交叠区域。


6.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，同一所述测试电极包括一个所述主体部，各所述延伸部均匀分布于所述主体部的同一侧；或者，各所述延伸部对称分布于所述主体部的两侧。


7.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，同一所述测试电极包括至少两个所述主体部，各所述主体...

【专利技术属性】
技术研发人员：金慧俊，
申请(专利权)人：上海中航光电子有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31