表面缺陷检测系统技术方案

技术编号:22802340 阅读:75 留言:0更新日期:2019-12-11 12:21
本实用新型专利技术涉及一种表面缺陷检测系统,属于缺陷检测技术领域。该系统中,至少两个光源和第一图像采集设备位置相对固定;检测台,用于放置待检测表面;至少两个光源,每个光源点亮时射入待检测表面的光束的角度不同;在同步信号发生器控制下,每个光源按照分时控制器脉冲信号依次点亮,第一图像采集设备获取每个光源照射时的待检测表面的图像;处理器将图像进行合成,检测待检测表面的缺陷。在进行物件的表面缺陷时,将待检测表面放置于检测台上,至少两个光源在不同角度分别照射待检测表面,利用时分的方式,减少相机数量,节约检测成本,为镜面提供稳定的、角度全面的、利于暴露细微缺陷的光照方案,解决了现有技术中存在的无法准确检测镜面微缺陷问题。

Surface defect detection system

The utility model relates to a surface defect detection system, which belongs to the technical field of defect detection. In the system, at least two light sources and the first image acquisition device are relatively fixed; the detection platform is used to place the surface to be detected; at least two light sources, each of which is lighted at a different angle of light beam into the surface to be detected; under the control of the synchronous signal generator, each light source is successively lighted according to the pulse signal of the time-sharing controller, and the first image acquisition device acquires each light The image of the surface to be detected when the source irradiates; the processor synthesizes the image to detect the defects of the surface to be detected. When the surface defects of the object are detected, the surface to be detected is placed on the detection platform. At least two light sources irradiate the surface to be detected at different angles respectively. By time division, the number of cameras is reduced, the detection cost is saved, and a stable, comprehensive angle illumination scheme is provided for the mirror surface, which is beneficial to the exposure of minor defects. It solves the problem that the mirror cannot be detected accurately in the prior art Surface microdefects.

【技术实现步骤摘要】
表面缺陷检测系统
本技术属于缺陷检测
,具体涉及一种表面缺陷检测系统。
技术介绍
随着科技的飞速发展,视觉图像技术得到了广泛的应用。作为视觉图像技术的重要组成部分,缺陷检测系统得到了全面的发展。目前缺陷检测系统通常被应用于金属表面、玻璃表面、纸张表面、电子元器件表面等对外观有严格要求又有明确指标的物品。通常在进行物件的表面缺陷检测时,往往采用通过拍摄物件表面图像,通过对图像进行分析,从而得到物件表面缺陷的方法。在对物件表面进行拍照的过程中,需要光源照射。但是,针对镜面微缺陷的检测,例如,电镀表面或者镜面的细微反射性划痕,由于其缺陷表面也是镜面,会对光线产生反射、折射,这就使得所拍图像不能真实的反映出所拍物件的缺陷。
技术实现思路
为了解决现有技术存在的无法准确检测镜面微缺陷问题,本技术提供了一种表面缺陷检测系统,其具有能够准确检测镜面微缺陷等特点。本技术提供的技术方案如下:一种表面缺陷检测系统,包括:检测台、至少两个光源、同步信号发生器、第一图像采集设备和处理器,所述至少两个光源和所述第一图像采集设备位置相对固定;所述检测台,用于放置待检测表面;所述至少两个光源,每个所述光源点亮时射入所述待检测表面的光束的角度不同;在所述同步信号发生器控制下,每个所述光源按照分时控制器脉冲信号依次点亮,所述第一图像采集设备获取每个所述光源照射时的待检测表面的图像;处理器,用于将所述图像进行合成,检测所述待检测表面的缺陷。进一步可选地,所述相对固定的所述至少两个光源和所述第一图像采集设备与所述待检测表面做相对运动,以获取所述待检测表面不同区域的图像。进一步可选地,所述检测台可移动,以使所述相对固定的所述至少两个光源和所述第一图像采集设备与所述待检测表面做相对运动。进一步可选地,还包括机械臂,所述至少两个光源和所述第一图像采集设备固定在所述机械臂上,所述机械臂移动带动所述至少两个光源和所述第一图像采集设备移动,以使相对固定的所述至少两个光源和所述第一图像采集设备与所述待检测表面做相对运动。进一步可选地,所述待检测表面是透明的,所述系统还包括:第二图像采集设备和背景板,所述背景板包括深色背景板和浅色背景板;所述第二图像采集设备和所述第一图像采集设备并排设置在所述待检测表面一侧,所述背景板设置在所述待检测表面另一侧,所述浅色背景板置于所述第一图像采集设备拍摄视场内,所述深色背景板置于所述第二图像采集设备拍摄视场内;在所述同步信号发生器控制下,所述第二图像采集设备获取每个所述光源照射时的待检测表面的图像。进一步可选地,所述背景板放置于所述检测台台面上;和/或,所述背景板与所述检测台呈预设夹角。进一步可选地,还包括:第三图像采集设备,所述第三图像采集设备与所述至少两个光源和所述第一图像采集设备相对位置固定;所述第三图像采集设备用于采集所述待检测表面的反射光。进一步可选地,所述图像采集设备为SK线阵相机。进一步可选地,所述光源下方设置有反射板。进一步可选地,所述光源为线阵光源。本技术实施例提供的表面缺陷检测系统,用于检测光洁表面,包括:检测台、至少两个光源、同步信号发生器和第一图像采集设备,至少两个光源和第一图像采集设备位置相对固定;检测台,用于放置待检测表面;至少两个光源,每个光源点亮时射入待检测表面的光束的角度不同;在同步信号发生器控制下,每个光源按照分时控制器脉冲信号依次点亮,第一图像采集设备获取每个光源照射时的待检测表面的图像;处理器将图像进行合成,检测待检测表面的缺陷。在进行物件的表面缺陷时,将待检测表面放置于检测台上,至少两个光源在不同角度分别照射待检测表面,利用时分的方式,以及光照方式,为镜面提供稳定的、角度全面的、利于暴露细微缺陷的光照方案,解决了现有技术中存在的无法准确检测镜面微缺陷问题。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例提供的一种表面缺陷检测系统结构示意图;图2为本实施例提供的时分控制器脉冲示意图;图3为本技术又一实施例提供的一种表面缺陷检测系统结构示意图;图4为本技术又一实施例提供的时分控制器脉冲示意图;图5为本技术又一实施例提供的一种表面缺陷检测系统结构示意图。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将对本技术的技术方案进行详细的描述。显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式,都属于本技术所保护的范围。图1为本技术实施例提供的一种表面缺陷检测系统结构示意图。参见图1,本实施例的表面缺陷检测系统包括:检测台1、至少两个光源2、同步信号发生器3、第一图像采集设备41、处理器5。其中,至少两个光源2和第一图像采集设备41位置相对固定。检测台1用于放置待检测表面。至少两个光源2,每个光源点亮时摄入待检测表面的光束的角度不同。在同步信号发生器3的控制下,每个光源按照分时控制器脉冲信号依次点亮,第一图像采集设备41获取每个光源照射时的待检测表面的图像。处理器5,用于将图像进行合成,检测待检测表面的缺陷。具体地,将待检测表面放置于检测台上,用至少两个光源对其进行照射。两个光源在同步信号发射器的控制器下,每个光源按照分时控制器脉冲信号依次点亮,进行照射,第一图像采集设备在每个光源点亮时,获取待检测表面的图像,处理器将上述图像进行合成,检测合成后图像中待检测表面的缺陷。例如,在本实施例中,采用SK线阵相机作为第一图像采集设备,光源采用线阵光源。线阵相机顾名思义就是取像是成线性的,它的传感器是成线型的。比如面阵相机的分辨率是640*480,就是说这个相机横向有640个像元,纵向有480个像元。而线阵相机分辨率只体现在横向,比如2048像素的线阵相机就是说横向有2048个像元,纵向大多数为1,RGB相机和TDI相机除外。作为对比,我们通常接触的民用相机都是面阵相机,对于面阵相机,我们表达他的分辨率都是长乘宽,例如1920x1080,而对于面阵相机,每次扫描仅仅获得一条线的像素,比如8K相机,扫描意思得到8000个像素点。配合被测物体的匀速运动,可以得到8000x任意长度的图像。线阵相机得到图像,要控制线阵相机按照一个固定的频率周期性扫描,从而聚线成面。线阵相机可以接受一个外部方波信号,然后按照方波信号的频率进行图像采集。本实施例中,线阵光源可以配备专业的工业光源,其中LED光源同样可以根据输入电频,实现高频闪本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种表面缺陷检测系统,其特征在于,包括:检测台、至少两个光源、同步信号发生器、第一图像采集设备和处理器,所述至少两个光源和所述第一图像采集设备位置相对固定;/n所述检测台,用于放置待检测表面;/n所述至少两个光源,每个所述光源点亮时射入所述待检测表面的光束的角度不同;/n在所述同步信号发生器控制下,每个所述光源按照分时控制器脉冲信号依次点亮,所述第一图像采集设备获取每个所述光源照射时的待检测表面的图像;/n处理器,用于将所述图像进行合成,检测所述待检测表面的缺陷。/n

【技术特征摘要】
1.一种表面缺陷检测系统,其特征在于,包括:检测台、至少两个光源、同步信号发生器、第一图像采集设备和处理器,所述至少两个光源和所述第一图像采集设备位置相对固定;
所述检测台,用于放置待检测表面;
所述至少两个光源,每个所述光源点亮时射入所述待检测表面的光束的角度不同;
在所述同步信号发生器控制下,每个所述光源按照分时控制器脉冲信号依次点亮,所述第一图像采集设备获取每个所述光源照射时的待检测表面的图像;
处理器,用于将所述图像进行合成,检测所述待检测表面的缺陷。


2.根据权利要求1所述的表面缺陷检测系统,其特征在于,所述相对固定的所述至少两个光源和所述第一图像采集设备与所述待检测表面做相对运动,以获取所述待检测表面不同区域的图像。


3.根据权利要求2所述的表面缺陷检测系统,其特征在于,所述检测台可移动,以使所述相对固定的所述至少两个光源和所述第一图像采集设备与所述待检测表面做相对运动。


4.根据权利要求2所述的表面缺陷检测系统,其特征在于,还包括机械臂,所述至少两个光源和所述第一图像采集设备固定在所述机械臂上,所述机械臂移动带动所述至少两个光源和所述第一图像采集设备移动,以使相对固定的所述至少两个光源和所述第一图像采集设备与所述待检测表面做相对运动。


5.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:方勇戚骁亚冯学智姚江华
申请(专利权)人:北京深度奇点科技有限公司
类型:新型
国别省市:北京;11

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