小磁瓦微缺陷视觉检分装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种小磁瓦微缺陷视觉检分装置：包括圆盘、正面检测工位、上面检测工位、反面监测工位、电磁铁剔除装置和磁瓦收集装置，正面检测工位、上面检测工位、反面监测工位和磁瓦收集装置周向均匀设置在圆盘正上方，磁瓦剔除机构与磁瓦收集装置配合使用；本实用新型专利技术电机转速、相机位置和电磁铁位置都可调，可根据实际的工程需要方便调试；整个型材框架装置底部装有万向轮方便搬运；经过相应工位检测后能准确检测出小磁瓦的品质好坏，并且能准确地在剔除小磁瓦，根据检测出来的小磁瓦合格或缺陷种类控制舵机滑梯的倾斜角度，使小磁瓦进入相应的存储仓。

Visual inspection device for micro defects of small magnetic tile

The utility model provides a visual inspection and separation device for micro defects of small magnetic tile, which comprises a disc, a front inspection station, a top inspection station, a back monitoring station, an electromagnet rejection device and a magnetic tile collection device. The front inspection station, a top inspection station, a back monitoring station and a magnetic tile collection device are uniformly arranged on the top of the disc in the circumferential direction. The magnetic tile rejection mechanism and the magnetic tile collection device The motor speed, camera position and electromagnet position of the utility model can be adjusted, which is convenient for debugging according to the actual engineering needs; the bottom of the whole profile frame device is equipped with universal wheel for convenient handling; after the corresponding station detection, the quality of the small magnetic tile can be accurately detected, and the small magnetic tile can be accurately removed, which is qualified or defective according to the detected small magnetic tile The type controls the tilt angle of the steering gear slide to make the small magnetic tile enter the corresponding storage bin.

【技术实现步骤摘要】
小磁瓦微缺陷视觉检分装置
本技术涉及一种磁瓦处理装置，具体涉及一种小磁瓦微缺陷视觉检分装置。
技术介绍
目前磁瓦的缺陷特征均采用人工目测检测缺陷。人工检测方法主要依靠进行过一定培训的质检人员根据自身的经验通过观察、量具测量和触摸等手段来进行磁瓦质量的判定，存在很多局限性和缺点。由于工人的自身能力差异，存在一定的偶然性，评判的标准不一；检测速度非常慢，难以满足目前的生产速度和要求；并且，检测的结果易受质检人员视觉疲劳、熟练水平、情绪波动等因素的影响，在精度和稳定性上都难以保证，从而导致误判、漏判、错判的情况发生。人为的接触也有一定的几率损坏磁材，直接导致企业的经济损失；检测人员长时间接触磁性材料会对人身体健康产生一定的不良反应，进而企业招工困难。因此，如何快速精确检验小型磁瓦零件的表面缺陷成为急需解决的问题。因此，需要对现有技术进行改进。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种高效的小磁瓦微缺陷视觉检分装置。为解决上述技术问题，本技术提供一种小磁瓦微缺陷视觉检分装置：包括圆盘、正面检测工位、本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.小磁瓦微缺陷视觉检分装置，其特征在于：包括圆盘(3)、正面检测工位(4)、上面检测工位(5)、反面监测工位(6)、磁瓦剔除机构(7)和磁瓦收集装置(8)；/n所述正面检测工位(4)、上面检测工位(5)、反面监测工位(6)和磁瓦收集装置(8)周向均匀设置在圆盘(3)正上方；/n所述正面检测工位(4)包括相机一(4-1)、碗状光源一(4-4)和条形光源一(4-3)，条形光源一(4-3)的数量为两个；所述相机一(4-1)的镜头从圆盘(3)边缘位置朝向圆盘(3)中心位置；两个条形光源一(4-3)分别设置在相机一(4-1)的镜头的两侧，且两个条形光源一(4-3)正对着相机一(4-1)的镜头的正前方；...

【技术特征摘要】
1.小磁瓦微缺陷视觉检分装置，其特征在于：包括圆盘(3)、正面检测工位(4)、上面检测工位(5)、反面监测工位(6)、磁瓦剔除机构(7)和磁瓦收集装置(8)；
所述正面检测工位(4)、上面检测工位(5)、反面监测工位(6)和磁瓦收集装置(8)周向均匀设置在圆盘(3)正上方；
所述正面检测工位(4)包括相机一(4-1)、碗状光源一(4-4)和条形光源一(4-3)，条形光源一(4-3)的数量为两个；所述相机一(4-1)的镜头从圆盘(3)边缘位置朝向圆盘(3)中心位置；两个条形光源一(4-3)分别设置在相机一(4-1)的镜头的两侧，且两个条形光源一(4-3)正对着相机一(4-1)的镜头的正前方；所述碗状光源一(4-4)竖直向下朝向圆盘(3)且位于相机一(4-1)的镜头的正前方的正上方；
所述上面检测工位(5)包括相机二(5-1)和碗状光源二(5-3)；所述碗状光源二(5-3)的轴心位置开孔，碗状光源二(5-3)竖直向下朝向圆盘(3)，相机二(5-1)的镜头对准碗状光源二(5-3)的轴心位置朝向圆盘(3)；
所述反面监测工位(6)包括相机三(6-1)和条形光源三(6-3)，条形光源三(6-3)的数量为两个；所述相机三(6-1)的镜头从圆盘(3)中心位置朝向圆盘(3)边缘位置；两个条形光源三(6-3)分别设置在相机三(6-1)的镜头的两侧，且两个条形光源三(6-3)正对着相机三(6-1)的镜头的正前方；
所述磁瓦剔除机构(7)与磁瓦收集装置(8)配合使用；
所述磁瓦剔除机构(7)位于圆盘(3)中间位置的正上方；所述磁瓦剔除机构(7)包括带槽底板(7-1)、滑轨(7-2)和电磁铁(7-3)；所述带槽底板(7-1)上周向均匀设置有至少两个弧形的卡槽(7-5)；所述滑轨(7-2)沿着其长度方向等距设置有至少两个滑轨孔(...

【专利技术属性】
技术研发人员：孔卓，伍俊露，潘岩，王宏鹏，朱琳，张露滨，姚卓斌，汪子杰，李俊峰，沈军民，
申请(专利权)人：浙江理工大学，
类型：新型
国别省市：浙江;33