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本实用新型提供一种小磁瓦微缺陷视觉检分装置：包括圆盘、正面检测工位、上面检测工位、反面监测工位、电磁铁剔除装置和磁瓦收集装置，正面检测工位、上面检测工位、反面监测工位和磁瓦收集装置周向均匀设置在圆盘正上方，磁瓦剔除机构与磁瓦收集装置配合使用...
该专利属于浙江理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江理工大学授权不得商用。

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