一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置制造方法及图纸

技术编号:22637357 阅读:41 留言:0更新日期:2019-11-26 15:06
本发明专利技术公开了一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置,包括光源系统、狭缝微动系统、准直系统和摆镜系统,其中:狭缝微动系统设于光源系统和准直系统之间,光源系统用以发出连续光至狭缝微动系统,狭缝微动系统用以调节进入准直系统的光线的入射角度,准直系统用以将经狭缝微动系统调节的光线转变为准直光线射入摆镜系统,摆镜系统用以调节进入待定标成像光谱仪的探测器的光线的入射角度。上述推扫式成像光谱仪的几何定标装置可以实现对待定标成像光谱仪单个像元的精细摆扫,从而完成对待定标成像光谱仪的几何定标,它可以解决由于配置相应设备而导致造价昂贵的问题,从而可以在一定程度上降低几何定标装置的研发成本。

A geometric calibration device of push scan imaging spectrometer

The invention discloses a geometric calibration device of push broom imaging spectrometer, including a light source system, a slit micro motion system, a collimation system and a mirror swing system, wherein the slit micro motion system is arranged between the light source system and the collimation system, the light source system is used to emit continuous light to the slit micro motion system, the slit micro motion system is used to adjust the incident angle and collimation of the light entering the collimation system The straightening system is used to convert the light regulated by the slit micro motion system into the collimated light and shoot it into the swing mirror system, and the swing mirror system is used to adjust the incident angle of the light entering the detector of the undetermined standard imaging spectrometer. The geometric calibration device of push scan imaging spectrometer can realize fine scanning of single pixel of the imaging spectrometer to be calibrated, thus completing the geometric calibration of the imaging spectrometer to be calibrated. It can solve the problem of high cost due to the configuration of corresponding equipment, so as to reduce the research and development cost of the geometric calibration device to a certain extent.

【技术实现步骤摘要】
一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置
本专利技术涉及光谱成像
,特别涉及一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置。
技术介绍
推扫式成像光谱仪可同时获得目标的一维光谱信息和二维图像信息,在天文、地质、化工、医疗等领域都有着广泛的应用。成像光谱仪在应用过程中,用户希望能够得到真实的、精确的、无畸变的图像信息和光谱信息,获得目标空间位置的准确与否直接影响到信息捕获质量的好坏,尤其在军事领域对这种信息捕获的误判将导致灾难性的后果。因此,在成像光谱仪使用之前,通过对成像光谱仪的检测和评估,验证其工作性能的稳定性,就显得至关重要。几何定标的目的是建立光谱影像与地物目标间的几何位置关系,成像光谱仪几何定标的精度很大程度上依赖于光线入射角度的准确性和相邻入射角度的分辨率,目前,成像光谱仪几何定标系统基本上都是采用平行光管与高精度转台的组合,采用此类几何定标装置需要高精度、高分辨率的旋转台,造价昂贵,且对控制系统稳定性要求很高,现有的一些几何定标装置已不能满足需求。因此,如何避免由于现有几何定标装置需要高精度转台而导致研发成本较高是本领域技术人员本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置,其特征在于,包括光源系统(1)、狭缝微动系统(2)、准直系统(3)和摆镜系统(4),其中:/n所述狭缝微动系统(2)设于所述光源系统(1)和所述准直系统(3)之间,所述光源系统(1)用以发出连续光至所述狭缝微动系统(2),所述狭缝微动系统(2)用以调节进入所述准直系统(3)的光线的入射角度,所述准直系统(3)用以将经所述狭缝微动系统(2)调节的光线转变为准直光线射入所述摆镜系统(4),所述摆镜系统(4)用以调节进入待定标成像光谱仪的探测器的光线的入射角度。/n

【技术特征摘要】
1.一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置,其特征在于,包括光源系统(1)、狭缝微动系统(2)、准直系统(3)和摆镜系统(4),其中:
所述狭缝微动系统(2)设于所述光源系统(1)和所述准直系统(3)之间,所述光源系统(1)用以发出连续光至所述狭缝微动系统(2),所述狭缝微动系统(2)用以调节进入所述准直系统(3)的光线的入射角度,所述准直系统(3)用以将经所述狭缝微动系统(2)调节的光线转变为准直光线射入所述摆镜系统(4),所述摆镜系统(4)用以调节进入待定标成像光谱仪的探测器的光线的入射角度。


2.根据权利要求1所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置,其特征在于,所述光源系统(1)包括:
光源;
用以放置所述光源的光源座(11);
还包括:第一平面镜(12)、第一球面镜(13)和出射狭缝,其中:
所述第一平面镜(12)用以将所述光源发出的连续光反射至所述第一球面镜(13);
所述第一球面镜(13)用以将经所述第一平面镜(12)反射的光线会聚并转射至所述出射狭缝;
所述出射狭缝用以将经所述第一球面镜(13)会聚的光线射出至所述狭缝微动系统(2)。


3.根据权利要求2所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置,其特征在于,所述狭缝微动系统(2)包括:
与所述出射狭缝垂直设置的微动狭缝(25),所述微动狭缝(25)竖直设置;
用以固定安装所述微动狭缝(25)并能够带动所述微动狭缝(25)以预设方向运动的挡板(24);
设有转轴(23)的第一电机(21);
与所述转轴(23)配合连接并能够推动所述挡板(24)沿垂直于所述转轴(23)的轴向运动的楔形滑块(22);
所述第一电机(21)用以驱动所述转轴(23)、以供所述楔形滑块(22)沿所述转轴(23)的轴向运动。


4.根据权利要求3所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置,其特征在于,所述准直系统(3)包括第二球面镜(32)和第二平面镜(31);
所述第二球面镜(32)用以会聚从所述微动狭缝(25)中射出的光线并将其转射至所述第二平面镜(31);
所述第二平面镜(31)用以反射来自所述第二球面镜(32)的光线、以供光线沿竖向射入所述摆镜...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙慈崔继承姚雪峰杨晋冯树龙宋楠王明佳李天骄
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
类型:发明
国别省市:吉林;22

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