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本发明公开了一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置，包括光源系统、狭缝微动系统、准直系统和摆镜系统，其中：狭缝微动系统设于光源系统和准直系统之间，光源系统用以发出连续光至狭缝微动系统，狭缝微动系统用以调节进入准直系统的光线的入射角度，准直系统用...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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