一种新型测试设备制造技术

本发明专利技术公开了一种新型测试设备，旨在提供一种下针密度大、精度高的便于产品升级和维护以及经济性较好的新型测试设备。本发明专利技术包括设备本体、抽屉和压板，抽屉滑动设置在设备本体内，设备本体的两边的内侧均设置有下压装置，压板的两端分别与对应的下压装置相连接且位于抽屉的上方，抽屉上设置有与压板相配合的PCBA板测试组件，PCBA板测试组件包括由上至下依次设置的载板、针板、WIB板和SIB板，载板和WIB板均与针板相配合，WIB板与SIB板相配合，测试时，待测试PCBA板放置在载板上，下压装置下压，针板上的探针的上端穿过载板与PCBA板接触，探针的下端与WIB板接触。本发明专利技术可应用于检测设备的技术领域。

A new type of testing equipment

The invention discloses a new type of testing equipment, which aims to provide a new type of testing equipment with large density and high precision, convenient for product upgrading and maintenance and good economy. The invention includes a device body, a drawer and a pressing plate. The drawer is slidably arranged in the device body. The inner sides of both sides of the device body are provided with a pressing device. The two ends of the pressing plate are respectively connected with the corresponding pressing device and are located above the drawer. The drawer is provided with a PCBA board test component which is matched with the pressing plate. The PCBA board test component includes a loading plate which is arranged from top to bottom Needle plate, WIB plate and sib plate, carrier plate and WIB plate are all matched with needle plate, WIB plate and sib plate are matched. During the test, PCBA plate to be tested is placed on carrier plate, and pressing device is used to press down. The upper end of probe on needle plate is in contact with PCBA plate through carrier plate, and the lower end of probe is in contact with WIB plate. The invention can be applied to the technical field of detection equipment.

【技术实现步骤摘要】
一种新型测试设备
本专利技术可应用于检测设备的
，涉及一种新型测试设备。
技术介绍
功能类测试冶具：PCBA功能测试的设备。测试对象为PCBA电路板，通过探针作为PCBA板与外部电路接触媒介进行相应测试，包括电压、电流、功率、功率因素、频率、占空比；扫码读取、字符识别、声音识别；温度测量、压力测量、运动控制、FLASH和EEPROM烧录等。探针：电测试的接触媒介，实现外部电路与目标PCBA板的连通。探针包括测试探针、半导体探针、ICT探针、高频探针、高电流探针、电池接触探针等。无线接口板，与探针尾部连接，接收探针从测试PCBA板采集的信号，无任何信号处理或功能测试。信号接口板，将从WIB传输的信号处理并测试，包含主要外部测试用功能板卡。下针式结构在PCBA测试夹具应用极及广泛，一般是从上到下由压板、载板、托盘、进出抽屉、针板和测试板卡组成。压板（包含压棒、上端测试探针）固定在夹具最上方，通过气缸驱动在垂直方向升、降。载板布置在压板下方，进出抽屉托盘上搭载载板和测试PCBA板进、出夹具，载板可上、下浮动，使PCBA产品可跟随压板上升、下降，同时，载板上开导针孔，使下层针板上的探针可穿过载板接触PCBA板的测试点。针板布置在载板之下，用于固定探针，探针位置取决于测试PCBA板自身元件和测试点布置。针板下层是测试板卡，测试板卡上表面预留测试点与探针尾部接触，测试板卡上的测试点、探针和测试PCBA上的测试点一一对应，测试板卡接收探针从测试PCBA板采集的信号并进行信号处理和测试。在现有测试设备中，针板和测试板卡整体固定在夹具内部不可移动，为了保证进出抽屉上的载板与PCBA产品进、出夹具，针板与抽屉托盘之间会预留较大间隙，以防止抽屉进、出时撞击到针板上的探针；结构针板与抽屉托盘上的载板分离，针板与抽屉托盘之间预留较大间隙，为使针板上探针顺利穿过载板的导针孔，导针孔的直径大于探针针头直径0.1mm-0.12mm的针孔加大使相邻探针间隔距离增加，不利于PCBA板高密度、高精度下针；由于测试板卡的测试点、探针和测试PCBA测试点为一一对应关系，产品的升级，导致测试板卡与针板需重新布局和生产，无法重复利用，使PCBA夹具的生产成本高昂，生产周期长，经济性较差；产品升级更换针板和测试板卡，而针板和测试板卡整体固定在夹具内部，产品升级和维护难。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种下针密度大、精度高的便于产品升级和维护以及经济性较好的新型测试设备。本专利技术所采用的技术方案是：本专利技术包括设备本体、抽屉和压板，所述抽屉滑动设置在所述设备本体内，所述设备本体的两边的内侧均设置有下压装置，所述压板的两端分别与对应的所述下压装置相连接且位于所述抽屉的上方，所述抽屉上设置有与所述压板相配合的PCBA板测试组件，所述PCBA板测试组件包括由上至下依次设置的载板、针板、WIB板和SIB板，所述载板和所述WIB板均与所述针板相配合，所述WIB板与所述SIB板相配合，测试时，待测试PCBA板放置在所述载板上，所述下压装置下压，所述针板上的探针的上端穿过所述载板与PCBA板接触，探针的下端与所述WIB板接触。进一步，所述设备本体的底侧设置有底板，所述底板的左侧设置有左水平驱动机构，所述底板的右侧设置有右水平驱动机构，所述抽屉的左侧面设置有与所述左水平驱动机构相适配的左滑块，所述抽屉的右侧面设置有与所述右水平驱动机构相适配的右滑块，所述左滑块滑动设置在所述左水平驱动机构上，所述右滑块滑动设置在所述右水平驱动机构上。进一步，所述底板的左侧和右侧均设置有对位联锁保护机构，所述抽屉的左侧和右侧均设置有与所述对位联锁保护机构相配合的接触块，所述对位联锁保护机构与所述下压装置相配合。进一步，所述下压装置包括支撑件和升降气缸，所述支撑件的中部设置有凹槽，所述升降气缸设置在所述凹槽上并与所述支撑件相配合，所述升降气缸的输出端上设置有连接块，所述连接块与所述压板相配合。进一步，所述底板的后侧设置有电磁锁，所述电磁锁与所述抽屉相配合。进一步，所述底板的后侧还设置有两个缓冲器，两个所述缓冲器均与所述抽屉相配合，所述电磁锁位于两个所述缓冲器之间。进一步，所述设备本体的前侧设置有显示面板。进一步，所述抽屉的前侧还设置有抽屉面板，所述抽屉面板与所述设备本体的前侧相适配，所述抽屉面板上还设置有抽屉拉手。进一步，所述设备本体的上侧、左侧、右侧和后侧均设置有外钣金，所述设备本体的左外侧和右外侧上的所述外钣金均设置有侧拉手。进一步，所述设备本体的上侧的所述外钣金上还设置有若干透气孔和拉手位。本专利技术的有益效果是：由于本专利技术结构上采用了包括设备本体、抽屉和压板，所述抽屉滑动设置在所述设备本体内，所述设备本体的两边的内侧均设置有下压装置，所述压板的两端分别与对应的所述下压装置相连接且位于所述抽屉的上方，所述抽屉上设置有与所述压板相配合的PCBA板测试组件，所述PCBA板测试组件包括由上至下依次设置的载板、针板、WIB板和SIB板，所述载板和所述WIB板均与所述针板相配合，所述WIB板与所述SIB板相配合，测试时，待测试PCBA板放置在所述载板上，所述下压装置下压，所述针板上的探针的上端穿过所述载板与PCBA板接触，探针的下端与所述WIB板接触。本专利技术与最接近的现有技术相比具有以下优点：本专利技术PCBA板测试组件采用一体化结构，针板上的探针嵌入载板，探针与载板不分离，避免因过大导孔对探针的间隔产生影响，探针下针密度大、精度高；采用抽屉式结构，PCBA板测试组件设置在可拉出的抽屉上，在测试组件需要更换或维修时能够十分方便；PCBA板测试组件采用了WIB板和SIB板，WIB板与探针尾部连接，接收探针从测试PCBA板采集的信号，SIB板与WIB之间采用高速连接器对接，不与测试PCBA板直接连接，因此其与测试PCBA产品上的测试点也无位置对应关系，测试PCBA产品升级时，只需更换与探针对接的WIB板，SIB板可重复使用，这样大大减小生产成本和制作周期，经济性较好。附图说明图1是本专利技术的立体结构示意图；图2是本专利技术抽屉拉开时的爆炸示意图；图3是本专利技术立体结构的爆炸示意图；图4是图3中A的放大图；图5是图3中B的放大图；图6是本专利技术下压装置的立体结构示意图；图7是本专利技术安装外钣金后的立体结构示意图；图8是本专利技术抽屉及安装在抽屉上的部件的爆炸示意图。具体实施方式如图1至图8所示，在本实施例中，本专利技术包括设备本体1、抽屉2和压板3，所述抽屉2滑动设置在所述设备本体1内，所述设备本体1的两边的内侧均设置有下压装置30，所述压板3的两端分别与对应的所述下压装置30相连接且位于所述抽屉2的上方，所述抽屉2上设置有与所述压板3相配合的PCBA板测试组件，所述PCBA板测试组件包括由上至下依次设置的载板4、针板5、WIB板6和SIB板7，所述载板4和所述WIB板6均与所述针板5相配本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种新型测试设备，其特征在于：包括设备本体（1）、抽屉（2）和压板（3），所述抽屉（2）滑动设置在所述设备本体（1）内，所述设备本体（1）的两边的内侧均设置有下压装置（30），所述压板（3）的两端分别与对应的所述下压装置（30）相连接且位于所述抽屉（2）的上方，所述抽屉（2）上设置有与所述压板（3）相配合的PCBA板测试组件，所述PCBA板测试组件包括由上至下依次设置的载板（4）、针板（5）、WIB板（6）和SIB板（7），所述载板（4）和所述WIB板（6）均与所述针板（5）相配合，所述WIB板（6）与所述SIB板（7）相配合，测试时，待测试PCBA板放置在所述载板（4）上，所述下压装置（30）下压，所述针板（5）上的探针的上端穿过所述载板（4）与PCBA板接触，探针的下端与所述WIB板（6）接触。/n

【技术特征摘要】
1.一种新型测试设备，其特征在于：包括设备本体（1）、抽屉（2）和压板（3），所述抽屉（2）滑动设置在所述设备本体（1）内，所述设备本体（1）的两边的内侧均设置有下压装置（30），所述压板（3）的两端分别与对应的所述下压装置（30）相连接且位于所述抽屉（2）的上方，所述抽屉（2）上设置有与所述压板（3）相配合的PCBA板测试组件，所述PCBA板测试组件包括由上至下依次设置的载板（4）、针板（5）、WIB板（6）和SIB板（7），所述载板（4）和所述WIB板（6）均与所述针板（5）相配合，所述WIB板（6）与所述SIB板（7）相配合，测试时，待测试PCBA板放置在所述载板（4）上，所述下压装置（30）下压，所述针板（5）上的探针的上端穿过所述载板（4）与PCBA板接触，探针的下端与所述WIB板（6）接触。


2.根据权利要求1所述的一种新型测试设备，其特征在于：所述设备本体（1）的底侧设置有底板（8），所述底板（8）的左侧设置有左水平驱动机构（9），所述底板（8）的右侧设置有右水平驱动机构（10），所述抽屉（2）的下侧面上并列设置有两根滑轨（11），每根所述滑轨（11）上均滑动设置有与所述滑轨（11）相适配的滑块（12），所述滑块（12）与所述底板（8）相连接，所述左水平驱动机构（9）和所述右水平驱动机构（10）均与所述抽屉（2）相配合。


3.根据权利要求2所述的一种新型测试设备，其特征在于：所述底板（8）的左侧和右侧均设置有对位联锁保护机构（13），所述抽屉（2）的左侧和右侧均设置有与所述对位联锁保护机构（13）相配合的接触块（14），所述对位联锁保护机构（13）与所述下压装置（30）相配合。
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【专利技术属性】
技术研发人员：罗祝良，郗旭斌，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44