一种摄像装置环境试验稳定性的检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开的一种摄像装置环境试验稳定性的检测装置，包括光学平台，光学平台上间隔安装剪切架I和剪切架II，所述剪切架I上放置PSD自准直仪，剪切架II上放置摄像装置，调整剪切架I和剪切架II的高度控制PSD自准直仪的光轴与摄像装置的光轴等高。本实用新型专利技术公开的检测装置结构简单，调整便捷，便于在试验现场快速搭建和测量，受环境影响因素小的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种摄像装置环境试验稳定性的检测装置
本技术属于光电测试
，涉及一种摄像装置环境试验稳定性的检测装置。
技术介绍
随着CCD摄像装置的应用领域不断拓展，对其能够耐受的使用环境提出了更加苛刻的要求，希望其能够耐受冲击、振动、高低温等恶劣条件，提高稳定性和可靠性。为了验证CCD摄像装置在经历各类环境试验后，其光学机械结构与CCD焦面结构是否发生变化，从而为进一步的性能测试提供参考，因此，就需要采取某种测试方法，对比光学机械结构与CCD焦面结构的相对位置的变化。目前，用于检查摄像装置光学机械结构与CCD焦面结构的相对位置的变化两种方法：一种是比对摄像装置试验前后的调制传递函数值，另一种是通过测量摄像装置试验前后的主点坐标值。其中，测量摄像装置的传递函数值，需要在平行光管焦面处放置一个与摄像装置参数相适应的条纹板，条纹板由均匀光源照亮，摄像装置对条纹板成像，由计算机采集图像，并按照摄像装置调制传递函数的计算方法对黑白条纹像进行计算。通过对比试验前后，摄像装置不同视场处的调制传递函数值，判断摄像装置的光学机械结构与CCD焦面结构有无发生相对位移。此方法通过直接对摄像装置的成像性能进行测试，可一次性完成性能测试和比对验证，但是调制传递函数的测试调整过程比较复杂，测试时间较长，且容易受到周围环境因素的影响，如温度、湿度和气流等，造成的测试重复性偏差，不易判断根本原因，不便于在环境试验现场快速开展。测量摄像装置试验前后的主点坐标值，需要在平行光管焦面处放置一个大小与摄像装置参数匹配的星点，星点由均匀光源照亮，摄像装置位于平行光管出口处。摄像装置安装在二维转台的回转中心上，摄像装置光轴与平行光管同轴等高，对星点成像。二维转台带动相机沿从左到右，从上到下的方向按照一定间隔对星点成像，采集图像和转台角度数据。采集完毕，按照相机内方位元素的计算方法，对采集图像进行数据处理，得到相机的主点坐标。通过比对试验前后，摄像装置的主点坐标，检查光学机械结构与CCD焦面结构的相对位置有无发生变化。此方法的优点是测量精度高，缺点是对测量环境要求高，测量和数据处理过程复杂，只有专业人员才能完成，测量过程稍有差错，就只能重新开始，因而测量效率低，不便于在环境试验现场快速开展。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种摄像装置环境试验稳定性的测试，解决了现有技术调整过程复杂以及对环境要求高从而导致工作效率低的问题。本技术所采用的技术方案是，一种摄像装置环境试验稳定性的检测装置，其特征在于，包括光学平台，光学平台上间隔安装剪切架I和剪切架II，剪切架I上放置PSD自准直仪，剪切架II上放置摄像装置，调整剪切架I和剪切架II的高度控制PSD自准直仪的光轴与摄像装置的光轴等高。本技术的其他特点还在于，PSD自准直仪包括目标反射面、望远透镜组、光源、聚焦透镜、分光棱镜、汇聚透镜和PSD芯片，汇聚透镜的焦点处与光源之间安装有十字分划板。光源33采用了中心波长为780nm的LED光源，调频驱动为1kHz频率方波。PSD自准直仪3上设置有方位微调旋钮4和俯仰微调旋钮5，用于调整PSD自准直仪3测得的偏差角度为零。本技术的有益效果是，一种摄像装置环境试验稳定性的检测装置，解决了现有技术调整过程复杂以及对环境要求高从而导致工作效率低的问题。利用PSD自准直仪的自准直原理，在PSD自准直仪光源聚焦透镜焦面处设置一个十字分划板，使投射光束与经摄像装置窗口玻璃反射的反射光束重合，由摄像装置拍摄PSD自准直仪发射的包含十字分划板像的图像，判读环境试验前后十字分划板像在图像中的位置，检查摄像装置光学机械结构与CCD焦面结构位置变化，从而来评价摄像装置的稳定性。附图说明图1是本技术的一种摄像装置环境试验稳定性的检测装置示意图；图2是PSD自准直仪系统图；图3是自准直仪测量显示界面；图4是本技术的检测装置中十字分划板的像中心判读算法流程图；图5是某摄像装置冲击试验前后十字分划板位置的对比结果；其中，(a)为测试前的十字分划板位置，(b)为测试后的十字分划板位置。图中，1.光学平台，2.剪切架I，3.PSD自准直仪，4.方位微调旋钮，5.俯仰微调旋钮，6.摄像装置，7.剪切架II；31.目标反射面，32.望远透镜组，33.光源，34.十字分划板，35.聚焦透镜，36.分光棱镜，37.汇聚透镜，38.PSD芯片。具体实施方式下面结合附图和具体实施方式对本技术进行详细说明。本技术的一种摄像装置环境试验稳定性的检测装置，如图1所示，包括光学平台1，光学平台1上间隔安装剪切架I2和剪切架II7，剪切架I2上放置PSD自准直仪3，剪切架II7上放置摄像装置6，调整剪切架I2和剪切架II7的高度控制PSD自准直仪3的光轴与摄像装置6的光轴等高。如图2所示，PSD自准直仪3包括目标反射面31、望远透镜组32、光源33、聚焦透镜35、分光棱镜36、汇聚透镜37和PSD芯片38，汇聚透镜37的焦点处与光源33之间安装有十字分划板34，光源33采用了中心波长为780nm的LED光源，调频驱动为1kHz频率方波。采用该检测装置检测摄像装置环境试验稳定性方法，具体操作过程包括如下步骤：步骤1.安装一种摄像装置环境试验稳定性的检测装置，包括光学平台1，光学平台1上间隔安装剪切架I2和剪切架II7，剪切架I2上放置PSD自准直仪3，剪切架II7上放置摄像装置6，调整剪切架I2和剪切架II7的高度控制PSD自准直仪3的光轴与摄像装置6的光轴等高；PSD自准直仪3包括目标反射面31、望远透镜组32、光源33、聚焦透镜35、分光棱镜36、汇聚透镜37和PSD芯片38，汇聚透镜37的焦点处与光源33之间安装有十字分划板34，光源33采用了中心波长为780nm的LED光源，调频驱动为1kHz频率方波；步骤2.调整剪切架I2和剪切架II7的高度，使得PSD自准直仪3的光轴与摄像装置6的光轴等高，调整PSD自准直仪3与摄像装置6粗对准，保证PSD自准直仪3的测量光束投射在摄像装置6的前表面玻璃上并反射回被PSD自准直仪3接收，PSD自准直仪3会有提示音，并在显示屏幕显示偏差角度，如图3所示；然后，根据偏差角度通过调整方位微调旋钮4和俯仰微调旋钮5微调PSD自准直仪3使得十字丝光标与屏幕中心十字线重合，偏差角度为零；步骤3.摄像装置6通电，拍摄PSD自准直仪3发射的含有十字分划板34的像的图像，按照一定判读算法计算十字分划板34的像在图像中的位置；步骤4.对比试验前后的十字分划板4的像在图像中的位置，确定摄像装置6光学机械结构与CCD焦面结构的相对位置变化，确定摄像装置6在经历规定的环境试验后的稳定性。每次环境试验结束后，先调整PSD自准直仪3与摄像装置6的相对位置，满足上述步骤中的条件后，拍摄PSD自准直仪3发射的十字分划板图像，再计算十字分划板的像在图像中的位置。因拍摄图像为几乎全黑背景，十字分划板像相对整辐图像来说所占像元数很少，不便于直接进行判读，步骤3中十字划分板4的像在图像中的位置的判读过程，如图4所示，具体过程如下：步骤3.1使用加权质心算法寻找灰度最大值像元中心点的位置(xc,yc)，如公式(1)和公式(2)所示：式中，xi,j——图像第j行第i列的像素本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种摄像装置环境试验稳定性的检测装置，其特征在于，包括光学平台(1)，所述光学平台(1)上间隔安装剪切架I(2)和剪切架II(7)，所述剪切架I(2)上放置PSD自准直仪(3)，所述剪切架II(7)上放置摄像装置(6)，调整所述剪切架I(2)和所述剪切架II(7)的高度控制所述PSD自准直仪(3)的光轴与所述摄像装置(6)的光轴等高。

【技术特征摘要】
1.一种摄像装置环境试验稳定性的检测装置，其特征在于，包括光学平台(1)，所述光学平台(1)上间隔安装剪切架I(2)和剪切架II(7)，所述剪切架I(2)上放置PSD自准直仪(3)，所述剪切架II(7)上放置摄像装置(6)，调整所述剪切架I(2)和所述剪切架II(7)的高度控制所述PSD自准直仪(3)的光轴与所述摄像装置(6)的光轴等高。2.如权利要求1所述的一种摄像装置环境试验稳定性的检测装置，其特征在于，所述PSD自准直仪(3)包括目标反射面(31)、望远透镜组(32)、光源(33)、聚...

【专利技术属性】
技术研发人员：昌明，赵建科，周艳，乔卫东，郭梁，王争锋，薛勋，李晶，巩立，李跃，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，西安理工大学，
类型：新型
国别省市：陕西,61