一种多节锂电检测电路制造技术

本实用新型专利技术属于一种多节锂电检测电路，MCU处理器的PA0脚通过电阻R10连接MOS管Q2、Q4、Q6的栅极，MCU处理器的PA1脚通过电阻R11连接MOS管Q3、Q5、Q7的栅极，MOS管Q2‑Q7的漏极分别连接电阻电阻R4‑R9，MOS管Q2、Q3的源极均连接电容C6、R12相并联的电路一端，MOS管Q4、Q5的源极均连接电容C7、R13相并联的电路一端，MOS管Q6、Q7的源极均连接电容C8、R14相并联的电路一端。本实用新型专利技术通过对采样电池电压点进行分组，根据电容充电电路的不同充电时间来区分每组电池电压采样点，实现MCU少数采样点就可以实现多数电池电压采样的目的。

A Multi-section Lithium Electricity Detection Circuit

【技术实现步骤摘要】
一种多节锂电检测电路
本技术涉及锂电池充电管理
，尤其涉及一种多节锂电检测电路。
技术介绍
多节锂电检测电路用于检测多节锂电池的电压，多节锂电检测电路一般基于单片机检测电池电压，常规情况下单片机具有8个及以下的AD采样接口，锂电池检测节数受限于单片机AD接口，导致不能同时检测多节锂电池电压。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种多节锂电检测电路，根据电容充电时间设置各组采样MOS导通及截止时间，分时采样多节锂电池电压。本技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种多节锂电检测电路，包括MCU处理器，MOS管Q2、Q3、Q4、Q5、Q6、Q7，电阻R4、R5、R6、R7、R8、R9、R10、R11、R12、R13、R14，电容C6、C7、C8，所述MCU处理器的PA0脚通过电阻R10连接MOS管Q2、Q4、Q6的栅极，所述MCU处理器的PA1脚通过电阻R11连接MOS管Q3、Q5、Q7的栅极，所述MOS管Q2、Q3、Q4、Q5、Q6、Q7的漏极分别连接电阻电阻R4、R5、R6、R7、R8、R9，所述MOS管Q2、Q3的源极均连接电容C6、R12相并联的电路一端，所述MOS管Q4、Q5的源极均连接电容C7、R13相并联的电路一端，所述MOS管Q6、Q7的源极均连接电容C8、R14相并联的电路一端，所述电容C6、R12相并联的电路和电容C7、R13相并联的电路以及电容C8、R14相并联的电路另一端接地，所述MOS管Q2、Q3的源极还连接MCU处理器的电压检测端ADC0脚，所述MOS管Q4、Q5的源极还连接MCU处理器的电压检测端ADC1脚，所述MOS管Q6、Q7的源极还连接MCU处理器的电压检测端ADC2脚。进一步地，所述电阻R4、R5、R6、R7、R8、R9电阻各不相同。进一步地，所述电阻R12、R13、R14电阻各不相同。进一步地，所述电容C6、C7、C8电容值各不相同。进一步地，所述电阻R4、R5、R6、R7、R8、R9分别连接不同电池输出端。本技术的有益效果是：本技术使用扫描方式对多节锂电池进行采样，取消AD接口对节数的限制，通过对采样电池电压点进行分组，根据电容充电电路的不同充电时间来区分每组电池电压采样点，实现了MCU少数采样点就可以实现多数电池电压采样的目的。附图说明为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。图1为本技术电路原理图。具体实施方式下面将结合附图对本技术技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本技术的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本技术的保护范围。如图1所示，一种多节锂电检测电路，包括MCU处理器，MOS管Q2、Q3、Q4、Q5、Q6、Q7，电阻R4、R5、R6、R7、R8、R9、R10、R11、R12、R13、R14，电容C6、C7、C8，MCU处理器的PA0脚通过电阻R10连接MOS管Q2、Q4、Q6的栅极，MCU处理器的PA1脚通过电阻R11连接MOS管Q3、Q5、Q7的栅极，MOS管Q2、Q3、Q4、Q5、Q6、Q7的漏极分别连接电阻电阻R4、R5、R6、R7、R8、R9，MOS管Q2、Q3的源极均连接电容C6、R12相并联的电路一端，MOS管Q4、Q5的源极均连接电容C7、R13相并联的电路一端，MOS管Q6、Q7的源极均连接电容C8、R14相并联的电路一端，电容C6、R12相并联的电路和电容C7、R13相并联的电路以及电容C8、R14相并联的电路另一端接地，MOS管Q2、Q3的源极还连接MCU处理器的电压检测端ADC0脚，MOS管Q4、Q5的源极还连接MCU处理器的电压检测端ADC1脚，MOS管Q6、Q7的源极还连接MCU处理器的电压检测端ADC2脚。其中，电阻R4、R5、R6、R7、R8、R9电阻各不相同。电阻R12、R13、R14电阻各不相同。电容C6、C7、C8电容值各不相同。电阻R4、R5、R6、R7、R8、R9分别连接不同电池输出端。如图1所示，当PAO输出高电平，Q2、Q4、Q6导通，电池分别通过电阻R4、R6、R8给电容C6、C7、C8充电，充电时间分别由R4与C6乘积、R5与C7乘积、R8与C8乘积决定，假设三组电路充电时间分别为t1、t2、t3，当电容C6、C7、C8充满，MCU处理器的电压检测端ADC0脚、ADC1脚、ADC2脚分别检测到三个电压值，也就是电阻R4、R6、R8连接的电池电压值。当PA1输出高电平，Q3、Q5、Q7导通，电池分别通过电阻R5、R7、R9给电容C6、C7、C8充电，充电时间分别由R5与C6乘积、R7与C7乘积、R9与C8乘积决定，设此三组电路充电时间分别为t4、t5、t6。当电容C6、C7、C8充满，MCU处理器的电压检测端ADC0脚、ADC1脚、ADC2脚分别检测到三个电压值，也就是电阻R5、R7、R9连接的电池电压值。综上，由于电阻R4和R5不同、R6和R7不同、R8和R9不同，MCU处理器的电压检测端ADC0脚可以通过电容C6在不同时间充满电后检测到的稳定电压区分检测到的是哪一路电池电压，电压检测端ADC1脚、ADC2脚原理相同，也就实现了MCU通过三个电压检测脚就可以检测6路电池电压的目的，实现了检测扩展。可见，本技术只用来三个电压采集端就可以检测6路电池的电压值，也就是说电池电压采集端是处理器电压采集端子的两倍，这主要是本技术的电池电压采样控制端为两个(PA0和PA1)以及不同充电系数的电容充电电路的设置，因此本技术不限于两个控制端，也可以是PA0、PA1、PA3....PAn个控制端，这样电池采样的个数就是控制器采样端ADC个数的n倍。另外，由于与电池连接的电阻阻值不同，这样各路RC充电电路的充电系数也就不同，与控制器采样端ADC连接的电容也就在不同时间充满，这样通过不同电阻电容的设置就可以设置不同充电时间，从而MCU同一检测端通过不同的充电充满时间来确定是哪一路电池电压。最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本技术的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本技术进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本技术各实施例技术方案的范围，其均应涵盖在本技术的权利要求和说明书的范围当中。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多节锂电检测电路，其特征在于：包括MCU处理器，MOS管Q2、Q3、Q4、Q5、Q6、Q7，电阻R4、R5、R6、R7、R8、R9、R10、R11、R12、R13、R14，电容C6、C7、C8，所述MCU处理器的PA0脚通过电阻R10连接MOS管Q2、Q4、Q6的栅极，所述MCU处理器的PA1脚通过电阻R11连接MOS管Q3、Q5、Q7的栅极，所述MOS管Q2、Q3、Q4、Q5、Q6、Q7的漏极分别连接电阻电阻R4、R5、R6、R7、R8、R9，所述MOS管Q2、Q3的源极均连接电容C6、R12相并联的电路一端，所述MOS管Q4、Q5的源极均连接电容C7、R13相并联的电路一端，所述MOS管Q6、Q7的源极均连接电容C8、R14相并联的电路一端，所述电容C6、R12相并联的电路和电容C7、R13相并联的电路以及电容C8、R14相并联的电路另一端接地，所述MOS管Q2、Q3的源极还连接MCU处理器的电压检测端ADC0脚，所述MOS管Q4、Q5的源极还连接MCU处理器的电压检测端ADC1脚，所述MOS管Q6、Q7的源极还连接MCU处理器的电压检测端ADC2脚。

【技术特征摘要】
1.一种多节锂电检测电路，其特征在于：包括MCU处理器，MOS管Q2、Q3、Q4、Q5、Q6、Q7，电阻R4、R5、R6、R7、R8、R9、R10、R11、R12、R13、R14，电容C6、C7、C8，所述MCU处理器的PA0脚通过电阻R10连接MOS管Q2、Q4、Q6的栅极，所述MCU处理器的PA1脚通过电阻R11连接MOS管Q3、Q5、Q7的栅极，所述MOS管Q2、Q3、Q4、Q5、Q6、Q7的漏极分别连接电阻电阻R4、R5、R6、R7、R8、R9，所述MOS管Q2、Q3的源极均连接电容C6、R12相并联的电路一端，所述MOS管Q4、Q5的源极均连接电容C7、R13相并联的电路一端，所述MOS管Q6、Q7的源极均连接电容C8、R14相并联的电路一端，所述电容C6、R12相并联的电路和电容C7、R...

【专利技术属性】
技术研发人员：涂建远，章进武，
申请(专利权)人：厦门炬研电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：福建,35