【技术实现步骤摘要】
一种笔管式可携带探针制备、封口、开口、组装及其设计方法
本专利技术涉及一种笔管式可携带探针制备、封口、开口、组装及其设计方法。
技术介绍
局部腐蚀微区的电化学及物理信息是表征金属腐蚀速率的重要参数，然而由于局部腐蚀区域的不规则和介观尺寸的局限使得测试精度受限。近年来发展的扫描电化学显微镜和扫描振动电极技术成为微区电化学研究的热点，然而这些技术的关键在于微区电极探针的制备和使用。本专利提出一种笔管式可携带的探针制备、封口、开口、组装及其设计方法，有利于探针保护和使用，大大提高了微区测试的安全寿命。
技术实现思路
本专利技术为一种笔管式可携带的探针制备、封口、开口、组装及其设计方法，包括笔管上下部分、笔帽部分以及针尖制备、封口机开口部分。本专利技术针对超敏钨丝电极(0.1-0.5mm直径)，利用恒电位仪(10-12V，电流密度0.1-0.3A)在氢氧化钾溶液(0.1-0.3M)刻蚀5-20s，利用可移动摄像头观察液面处钨丝电极的缩颈过程，直至没有气泡，结束刻蚀，针尖制备完成。针尖尖端直径在1-5微米，缩颈长度在300-500微米。针尖封口的方法是，利用恒电位仪(2-4V,...
【技术保护点】
1.本专利涉及一种笔管式可携带探针制备、封口、开口、组装及其设计方法，具体零部件尺寸及安装如下：a.探针制备方法，针对超敏钨丝电极(0.1‑0.5mm直径)，利用恒电位仪(10‑12V，电流密度0.1‑0.3A)在氢氧化钾溶液(0.1‑0.3M)刻蚀5‑20s，利用可移动摄像头观察液面处钨丝电极的缩颈过程，直至没有气泡，结束刻蚀，针尖制备完成。针尖尖端直径在1‑5微米，缩颈长度在300‑500微米b.针尖封口的方法是，利用恒电位仪(2‑4V,6‑9A)将电阻丝上的沥青融化，而组装好的笔管式探针针尖朝上，由XYZ水平仪控制探针自下往上移动，穿过融化的沥青，实现封装保存。此外，...
【技术特征摘要】
1.本专利涉及一种笔管式可携带探针制备、封口、开口、组装及其设计方法，具体零部件尺寸及安装如下：a.探针制备方法，针对超敏钨丝电极(0.1-0.5mm直径)，利用恒电位仪(10-12V，电流密度0.1-0.3A)在氢氧化钾溶液(0.1-0.3M)刻蚀5-20s，利用可移动摄像头观察液面处钨丝电极的缩颈过程，直至没有气泡，结束刻蚀，针尖制备完成。针尖尖端直径在1-5微米，缩颈长度在300-500微米b.针尖封口的方法是，利用恒电位仪(2-4V,6-9A)将电阻丝上的沥青融化，而组装好的笔管式探针针尖朝上，由XYZ水平仪控制探针自下往上移动，穿过融化的沥青，实现封装保存。此外，利用光学显微镜测试针尖完全被沥青包裹，如果没有完全包裹，需重复封装。c.探针针尖开口的方法是利用恒电位仪(2-4V,10-11.0A)将电阻丝烧红，而组装好的笔管式探针针尖朝上，由XYZ水平仪控制探针自下往上移动，靠近烧红的电阻丝，发现针尖出现烧焦的烟气或闻到烧焦的气味，即针尖开口成功，移走针尖和关闭恒电位仪。d.笔管前端(1)具体尺寸：笔管前端壳体厚度为1.1mm，其内壁加工有M5规格的内螺纹可与笔管后端(2)的M5外螺纹连接。e.笔管后端(2)具体尺寸：笔管后端壳体厚度为0.8mm，壳体外壁加工有M5外螺纹，可与笔管前端(1)的M5内螺纹配合。f.笔帽部分具体尺寸：壳体厚度为0.8mm。作用是在不使用电极时保护电极尖端不受到撞击而产生变...
【专利技术属性】
技术研发人员：齐建涛，李振轩，赵晶晶，王思权，张智松，丁一航，
申请(专利权)人：中国石油大学华东，
类型：发明
国别省市：山东,37
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