一种背光芯片检测方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及背光检测技术领域，公开了一种背光芯片检测方法、装置及存储介质。所述背光芯片检测方法包括：将背光芯片调整为第一标准亮度值之后，检测获得第一实际亮度值；将背光芯片调整为第二标准亮度值之后，检测获得第二实际亮度值；将第一实际亮度值转换为第一电压值，将所述第二实际亮度值转换为第二电压值，判断第一电压值与第二电压值的差值是否超过预设的电压差门限值，若超过则判定背光芯片为良品。本发明专利技术通过归一化第一标准亮度值、第二标准亮度值以及电压差门限值，实现了背光芯片的检测，兼容各种机型和各种类型/厂家的背光芯片，降低各种不可预知因素的影响，无需分析大量测试记录和采样大量样本，节约了人力成本和时间成本。

A Backlight Chip Detection Method, Device and Storage Media

【技术实现步骤摘要】
一种背光芯片检测方法、装置及存储介质
本专利技术涉及背光检测
，尤其涉及一种背光芯片检测方法、装置及存储介质。
技术介绍
随着科学技术的发展，手机已经成为人们不可缺少的通讯工具，人们对其需求越来越大，同时也对其产品外观、显示效果、品质性能等方面的要求也越来越高。手机显示屏包括液晶模组和位于液晶模组背后的背光模组；由于液晶本身并不发光，因此背光模组作为显示屏的关键零组件之一，其功能在于供应充足的亮度与分布均匀的光源，使得液晶模组能够正常显示图像。背光模组包括背光芯片和LED灯，手机显示屏的背光显示亮度即是通过背光芯片对与其相连的若干LED灯进行调节来实现。在手机生产制造过程中，在板端需要检验主板各硬件器件好坏、线路设计是否合理等，此外还需要对背光芯片是否为良品进行检测。而目前针对背光芯片的通用检测方法存在着易受外界因素影响(如手机显示屏的初始亮度值不同)而出现误测的缺陷，在产品量产时容易引发较大的风险。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种背光芯片检测方法、装置及存储介质，克服传统检测方法存在的易受外界因素影响而出现误测的缺陷。为达此目的，本专利技术采用以下技术方案：一种背光芯片检测方法，应用于具有液晶显示屏的终端，所述背光芯片检测方法包括步骤：将待测的背光芯片由初始标准亮度值调整为第一标准亮度值之后，检测获得第一实际亮度值；将所述背光芯片由第一标准亮度值调整为第二标准亮度值之后，检测获得第二实际亮度值；将所述第一实际亮度值转换为第一电压值，将所述第二实际亮度值转换为第二电压值，判断所述第一电压值与第二电压值的差值是否超过预设的电压差门限值，若超过则判定所述背光芯片为良品。可选的，所述第一标准亮度值与第二标准亮度值的差值不小于100尼特。可选的，所述第一标准亮度值和第二标准亮度值中，其中一个不大于100尼特、另一个不小于200尼特。可选的，所述背光芯片检测方法还包括步骤：完成背光芯片检测后，将所述背光芯片调整为其相应的初始标准亮度值。可选的，通过光传感器来检测获得所述第一实际亮度值和第二实际亮度值。一种背光芯片检测装置，应用于具有液晶显示屏的终端，所述背光芯片检测装置包括：亮度设定单元，用于在芯片检测过程中，将待测的背光芯片由初始标准亮度值调整为第一标准亮度值，以及将背光芯片由第一标准亮度值调整为第二标准亮度值；实际亮度检测单元，用于分别检测获得屏幕在所述第一标准亮度值下的第一实际亮度值，以及在所述第二标准亮度值下的第二实际亮度值；判断单元，用于将所述第一实际亮度值转换为第一电压值，将所述第二实际亮度值转换为第二电压值，判断所述第一电压值与第二电压值的差值是否超过预设的电压差门限值，若超过则判定所述背光芯片为良品。可选的，所述亮度设定单元，还用于在芯片检测检测结束后将所述背光芯片调整为其相应的初始标准亮度值。可选的，所述实际亮度检测单元为光传感器。可选的，所述终端包括手机、平板电脑。一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有多条指令，所述指令适于处理器进行加载，以执行如上任一所述的背光芯片检测方法中的步骤。与现有技术相比，本专利技术实施例具有以下有益效果：本专利技术实施例中通过归一化第一标准亮度值、第二标准亮度值以及电压差门限值，实现了背光芯片的检测，兼容各种机型和各种类型/厂家的背光芯片，降低各种不可预知因素的影响，无需分析大量测试记录和采样大量样本，节约了人力成本和时间成本。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。图1为本专利技术实施例提供的背光芯片检测方法流程图。具体实施方式为使得本专利技术的专利技术目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而非全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。实施例一请参阅图1，本专利技术实施例提供了一种背光芯片检测方法，包括步骤：步骤101、将待测的背光芯片由初始标准亮度值调整为第一标准亮度值。在正常情况下，各个手机显示屏的初始标准亮度值通常会相同。但是，在不同服务需求下，有可能对部分手机显示屏的默认标准亮度值有所调整，即造成待测背光芯片的初始标准亮度值不统一。为此，在开始测试时，本实施例将所有待测背光芯片的初始标准亮度值调整为相同值，以避免因初始值不同导致误测发生。同时，工作人员无需针对不同初始标准亮度值，来分别进行采样分析以获取相应的最佳门限值(该门限值是判断背光芯片是否为良品的重要参考值)，以保持统一无误的背光芯片检测标准。具体的，在运行PCBA软件(即测试软件)的初始时刻，即可通过在MainActivity函数中调用changeAppBrightness方法，来调整背光芯片的标准亮度值。步骤102、在第一标准亮度值下，检测获得屏幕的第一实际亮度值。其中，标准值指的是设定的理论值，而实际亮度值可通过定位于屏幕周围的光传感器来进行检测。步骤103、将背光芯片由第一标准亮度值调整为第二标准亮度值。本步骤中的第二标准亮度值与第一标准亮度值的大小须不同。可选的，第一标准亮度值为预设的低亮度值，如100尼特；第二标准亮度值为预设的高亮度值，如220尼特。当然，也可以采用以下方式：第一标准亮度值为预设的高亮度值，而第二标准亮度值为预设的低亮度值。实质上两种方式仅顺序不同。具体的，运行PCBA软件至进行背光测试时，在LightService函数里，调用changeAppBrightness方法，来调整背光芯片的标准亮度值。步骤104、在第二标准亮度值下，检测获得第二实际亮度值。步骤105、将第一实际亮度值转换为第一电压值，将第二实际亮度值转换为第二电压值，判断第一电压值与第二电压值的差值是否超过预设的电压差门限值，若超过，则判定待测背光芯片为良品，否则判定待测背光芯片为次品。此外，在测试结束后，将背光芯片调整为其相应的初始标准亮度值，以使其恢复至测试前的数据状态。本实施例通过归一化第一标准亮度值、第二标准亮度值以及电压差门限值，实现了背光芯片的检测，兼容各种机型和各种类型/厂家的背光芯片，降低各种不可预知因素的影响，无需分析大量测试记录和采样大量样本，节约了人力成本和时间成本。实施例二本专利技术实施例提供了另一种背光芯片检测方法，包括步骤：步骤201、将待测的背光芯片由初始标准亮度值调整为第一标准亮度值。步骤202、在第一标准亮度值下，检测获得显示屏的第一实际亮度值。步骤203、将背光芯片由第一标准亮度值调整为第二标准亮度值，第二标准亮度值与第一标准亮度值的差值不小于100尼特。步骤204、在第二标准亮度值下，检测获得屏幕的第二实际亮度值。步骤205、将第一实际亮度值转换为第一电压值，将第二实际亮度值转换为第二电压值，判断第一电压值与第二电压值的差值是否超过预设的电压差门限值，若超过，则判定待测背光芯片为良品，否则判定待测背光芯片为次品。与实施例一相比较，本实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种背光芯片检测方法，应用于具有液晶显示屏的终端，其特征在于，所述背光芯片检测方法包括步骤：将待测的背光芯片由初始标准亮度值调整为第一标准亮度值之后，检测获得第一实际亮度值；将所述背光芯片由第一标准亮度值调整为第二标准亮度值之后，检测获得第二实际亮度值；将所述第一实际亮度值转换为第一电压值，将所述第二实际亮度值转换为第二电压值，判断所述第一电压值与第二电压值的差值是否超过预设的电压差门限值，若超过则判定所述背光芯片为良品。

【技术特征摘要】
1.一种背光芯片检测方法，应用于具有液晶显示屏的终端，其特征在于，所述背光芯片检测方法包括步骤：将待测的背光芯片由初始标准亮度值调整为第一标准亮度值之后，检测获得第一实际亮度值；将所述背光芯片由第一标准亮度值调整为第二标准亮度值之后，检测获得第二实际亮度值；将所述第一实际亮度值转换为第一电压值，将所述第二实际亮度值转换为第二电压值，判断所述第一电压值与第二电压值的差值是否超过预设的电压差门限值，若超过则判定所述背光芯片为良品。2.根据权利要求1所述的背光芯片检测方法，其特征在于，所述第一标准亮度值与第二标准亮度值的差值不小于100尼特。3.根据权利要求1所述的背光芯片检测方法，其特征在于，所述第一标准亮度值和第二标准亮度值中，其中一个不大于100尼特、另一个不小于200尼特。4.根据权利要求1所述的背光芯片检测方法，其特征在于，所述背光芯片检测方法还包括步骤：完成背光芯片检测后，将所述背光芯片调整为其相应的初始标准亮度值。5.根据权利要求1所述的背光芯片检测方法，其特征在于，通过光传感器来检测获得所述第一实际亮度值和第二实际亮度值。6.一种背光芯片检测装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁鹏，
申请(专利权)人：上海创功通讯技术有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31