一种时序特性获取方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术实施例涉及数据处理技术领域，具体而言，涉及一种时序特性获取方法、装置及电子设备，该方法首先根据测试数据生成特征曲线，其次根据特征曲线获取梯度曲线，然后根据梯度曲线查找出位于设定梯度范围内的至少一个梯度值对应的横坐标值，最后根据位于设定梯度范围内的至少一个梯度值对应的横坐标值确定特征曲线的特征值，通过将特征曲线转换为梯度曲线，有效解决了无法对离散的特征曲线求导的问题，直接通过梯度曲线确定特征值，避免了对特征值进行逐一获取，能够高效、准确地确定特征曲线的特征值，从而高效、准确地确定时序逻辑单元的时序特性。

A Method, Device and Electronic Equipment for Acquiring Sequence Characteristics

【技术实现步骤摘要】
一种时序特性获取方法、装置及电子设备
本专利技术实施例涉及时序特性获取
，具体而言，涉及一种时序特性获取方法、装置及电子设备。
技术介绍
时序逻辑单元，如标准单元库中的触发器及锁存器等，是大规模集成电路芯片的重要组成部分。时序逻辑单元的时序特性对集成电路芯片的性能至关重要。随着集成电路芯片技术的发展，现有技术难以高效、准确地确定时序逻辑单元的时序特性。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种时序特性获取方法、装置及电子设备。本专利技术实施例提供了一种时序特性获取方法，包括：获取时序逻辑单元的测试数据，根据所述测试数据生成特征曲线；根据所述特征曲线获取梯度曲线；基于所述梯度曲线查找出位于设定梯度范围内的至少一个梯度值对应的横坐标值；根据所述位于设定梯度范围内的至少一个梯度值对应的横坐标值确定所述特征曲线的特征值。可选地，所述方法还包括：基于所述梯度曲线查找出位于预设梯度范围内的至少一个梯度值对应的横坐标值；根据所述位于预设梯度范围内的至少一个梯度值对应的横坐标值确定所述特征曲线的延时时长值。可选地，根据所述横坐标值确定所述特征曲线的特征值的步骤，包括：若所述横坐标值为多个，确定本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种时序特性获取方法，其特征在于，包括：获取时序逻辑单元的测试数据，根据所述测试数据生成特征曲线；根据所述特征曲线获取梯度曲线；基于所述梯度曲线查找出位于设定梯度范围内的至少一个梯度值对应的横坐标值；根据所述位于设定梯度范围内的至少一个梯度值对应的横坐标值确定所述特征曲线的特征值。

【技术特征摘要】
1.一种时序特性获取方法，其特征在于，包括：获取时序逻辑单元的测试数据，根据所述测试数据生成特征曲线；根据所述特征曲线获取梯度曲线；基于所述梯度曲线查找出位于设定梯度范围内的至少一个梯度值对应的横坐标值；根据所述位于设定梯度范围内的至少一个梯度值对应的横坐标值确定所述特征曲线的特征值。2.根据权利要求1所述的时序特性获取方法，其特征在于，所述方法还包括：基于所述梯度曲线查找出位于预设梯度范围内的至少一个梯度值对应的横坐标值；根据所述位于预设梯度范围内的至少一个梯度值对应的横坐标值确定所述特征曲线的延时时长值。3.根据权利要求1所述的时序特性获取方法，其特征在于，根据所述横坐标值确定所述特征曲线的特征值的步骤，包括：若所述横坐标值为多个，确定多个所述横坐标值的中位数，根据所述中位数确定所述特征值。4.根据权利要求2所述的时序特性获取方法，其特征在于，根据所述位于预设梯度范围内的至少一个梯度值对应的横坐标值确定所述特征曲线的延时时长值的步骤，包括：若位于所述预设梯度范围内的梯度值为多个，将位于所述预设梯度范围内的每个梯度值对应的横坐标值代入所述特征曲线中，获得对应的纵坐标值；确定所有纵坐标值的众数，根据所述众数确定所述延时时长值。5.根据权利要求1所述的时序特性获取方法，其特征在于，所述设定梯度范围通过以下步骤得到：基于所述梯度曲线...

【专利技术属性】
技术研发人员：许婷，闫珍珍，郭燕萍，卜建辉，刘海南，罗家俊，韩郑生，
申请(专利权)人：中国科学院微电子研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11