一种测试治具制造技术

技术编号:22165981 阅读:27 留言:0更新日期:2019-09-21 10:11
本实用新型专利技术公开了一种测试治具,包括第一USB接口、电位检测电路以及处理器,电位检测电路包括设定电位检测点,处理器与设定电位检测点电连接;电位检测电路根据第一USB接口是否通过USB线与上位机电连接调节设定电位检测点的电位,处理器根据检测到的设定电位检测点的电位判断第一USB接口是否通过USB线与上位机电连接,处理器能够根据设定电位检测点的电位来判断测试治具是否与上位机电连接,解决了现有技术中依靠硬件拨码开关判断测试治具是否与上位机电连接时容易产生误判断的问题,实现了测试治具能够自动识别是否与上位机电连接。

A test fixture

【技术实现步骤摘要】
一种测试治具
本技术实施例涉及显示
,尤其涉及一种测试治具。
技术介绍
测试治具一般用于对产品的特定性能参数进行测试或者验证,通常情况下需要将测试治具与上位机电连接以通过上位机对测试治具的一些测试参数进行设置,或通过上位机来显示测试治具的测试结果。目前一般通过判定一个硬件拨码开关的开关状态判断测试治具是否与上位机电连接,当测试治具不与上位机相连接时可以通过拨码开关选择测试治具处于单机模式,当测试治具与上位机相连接时通过拨码开关选择测试治具处于远程模式。操作人员在拿到治具且未确认拨码开关的开关状态时经常无法判断此时测试治具是处于单机模式还是远程模式,导致测试人员无法准确判断测试治具是否与上位机电连接,从而使得测试人员对测试治具与上位机的连接关系产生误判。
技术实现思路
本技术提供一种测试治具,解决了现有技术中依靠硬件拨码开关判断测试治具是否与上位机电连接时容易产生误判断的问题,实现了测试治具能够自动识别是否与上位机电连接。根据本技术实施例提供了一种测试治具,包括第一USB接口,还包括:电位检测电路以及处理器,所述电位检测电路包括设定电位检测点,所述处理器与所述设定电位检测点电连接;所述电位检测电路根据所述第一USB接口是否通过USB线与上位机电连接调节所述设定电位检测点的电位,所述处理器根据检测到的所述设定电位检测点的电位判断所述第一USB接口是否通过所述USB线与所述上位机电连接。进一步地,所述上位机包括第二USB接口,所述第一USB接口通过所述第二USB接口与所述上位机电连接;所述第一USB接口包括第一外壳,所述第二USB接口包括第二外壳和第二接地引脚,所述第二接地引脚与所述第二外壳电连接,所述电位检测电路与所述第一外壳电连接。进一步地,所述电位检测电路包括第一阻抗元件,所述第一阻抗元件的一端接入第一电源信号,所述第一阻抗元件的另一端与所述第一外壳电连接,所述第一阻抗元件与所述第一外壳电连接的一端作为所述电位检测电路的所述设定电位检测点,所述第一电源信号的电平值为高电平。进一步地,所述上位机包括第二USB接口,所述第一USB接口通过所述第二USB接口与所述上位机电连接;所述第一USB接口包括第一电源引脚,所述第二USB接口包括对应所述第一电源引脚设置的第二电源引脚,所述第二电源引脚上电源信号的电平值为高电平,所述电位检测电路与所述第一电源引脚电连接。进一步地,所述电位检测电路包括第二阻抗元件,所述第二阻抗元件的一端与所述第一电源引脚电连接,所述第二阻抗元件的另一端接入第二电源信号,所述第二阻抗元件与所述第一电源引脚电连接的一端作为所述电位检测电路的所述设定电位检测点,所述第二电源信号的电平值为低电平。进一步地,所述电位检测电路包括第三阻抗元件和第四阻抗元件,所述第三阻抗元件的一端与所述第四阻抗元件的一端电连接,所述第三阻抗元件未与所述第四阻抗元件电连接的一端与所述第一电源引脚电连接,所述第四阻抗元件未与所述第三阻抗元件电连接的一端接入第三电源信号,所述第三阻抗元件与所述第四阻抗元件电连接的一端作为所述电位检测电路的所述设定电位检测点,所述第三电源信号的电平值为低电平。进一步地,所述第一USB接口、所述电位检测电路以及所述处理器均设置于所述测试治具中的印刷电路板上。进一步地,所述上位机包括第二USB接口,所述第一USB接口通过所述第二USB接口与所述上位机电连接;所述第一USB接口包括第一接地引脚,所述第二USB接口包括第二接地引脚,所述第一接地引脚与所述第二接地引脚电连接。进一步地,所述USB线包括第三USB接口与第四USB接口,所述第三USB接口的外壳与第四USB接口的外壳通过屏蔽结构电连接。进一步地,所述屏蔽结构为屏蔽编制网。本技术公开了一种测试治具,包括第一USB接口、电位检测电路以及处理器,电位检测电路包括设定电位检测点,处理器与设定电位检测点电连接;电位检测电路根据第一USB接口是否通过USB线与上位机电连接调节设定电位检测点的电位,处理器根据检测到的设定电位检测点的电位判断第一USB接口是否通过USB线与上位机电连接,即处理器能够根据设定电位检测点的电位来判断测试治具是否与上位机电连接,解决了现有技术中依靠硬件拨码开关判断测试治具是否与上位机电连接时容易产生误判断的问题,实现了测试治具能够自动识别是否与上位机电连接。附图说明图1是根据本技术实施例一提供的一种测试治具的结构图;图2是根据本技术实施例二提供的一种测试治具的结构图示意图;图3是根据本技术实施例三提供的一种测试治具的结构图示意图;图4是根据本技术实施例三提供的另一种测试治具的结构图示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本技术,而非对本技术的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部结构。实施例一图1是根据本技术实施例一提供的一种测试治具的结构图。如图1所示,该测试治具包括第一USB接口11,还包括电位检测电路12以及处理器13,电位检测电路包括设定电位检测点121,处理器13与设定电位检测点121电连接。电位检测电路12根据第一USB接口11是否通过USB线与上位机电连接调节设定电位检测点121的电位,处理器13根据检测到的设定电位检测点121的电位判断第一USB接口11是否通过USB线与上位机电连接。如图1所示,处理器13与电位检测电路12中的设定电位检测点121相连接,用于检测设定电位检测点121处的电位,可以通过对电位检测电路内部结构的设置使得第一USB接口11通过USB线与上位机电连接前后设定电位检测点121处的电位的高低不同,处理器13可以通过检测到的设定电位检测点121的电位判断测试治具是否与上位机电连接,以实现测试治具自动识别是否与上位机电连接。可选地,第一USB接口11、电位检测电路12以及处理器13均可以设置于测试治具中的印刷电路板上。示例性地,处理器13可以为ARM(AdvancedRISCMachine)处理器,也可以是其他能够满足本申请的处理器芯片。可选地,如图1所示,上位机包括第二USB接口21,第一USB接口11通过第二USB接口21与上位机电连接;第一USB接口11包括第一接地引脚,第二USB接口21包括第二接地引脚,可以设置第一接地引脚与第二接地引脚电连接。具体地,测试治具设置有PCB(PrintedCircuitBoard,印刷电路板)板,在PCB板的边缘设置有第一USB接口11,电位检测电路12以及处理器13均集成在该PCB板上。测试治具的第一USB接口11中的多个引脚包含有第一接地引脚,上位机端的第二USB接口21中包含有第二接地引脚,由于测试治具与上位机之间的电连接是通过USB线将第一USB接口11与第二USB接口21连接起来实现的,因此当第一接地引脚与第二接地引脚之间电连接时,测试治具与上位机共地,处理器13对于测试治具与上位机是否电连接的判定过程中涉及的电位的测试更加准确。本技术中,电位检测电路12根据第一USB接口11是否通过USB线与上位机电连接调节设定电位检测点121的电位,处理器13根据检本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试治具,包括第一USB接口,其特征在于,还包括:电位检测电路以及处理器,所述电位检测电路包括设定电位检测点,所述处理器与所述设定电位检测点电连接;所述电位检测电路根据所述第一USB接口是否通过USB线与上位机电连接调节所述设定电位检测点的电位,所述处理器根据检测到的所述设定电位检测点的电位判断所述第一USB接口是否通过所述USB线与所述上位机电连接。

【技术特征摘要】
1.一种测试治具,包括第一USB接口,其特征在于,还包括:电位检测电路以及处理器,所述电位检测电路包括设定电位检测点,所述处理器与所述设定电位检测点电连接;所述电位检测电路根据所述第一USB接口是否通过USB线与上位机电连接调节所述设定电位检测点的电位,所述处理器根据检测到的所述设定电位检测点的电位判断所述第一USB接口是否通过所述USB线与所述上位机电连接。2.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述上位机包括第二USB接口,所述第一USB接口通过所述第二USB接口与所述上位机电连接;所述第一USB接口包括第一外壳,所述第二USB接口包括第二外壳和第二接地引脚,所述第二接地引脚与所述第二外壳电连接,所述电位检测电路与所述第一外壳电连接。3.根据权利要求2所述的测试治具,其特征在于,所述电位检测电路包括第一阻抗元件,所述第一阻抗元件的一端接入第一电源信号,所述第一阻抗元件的另一端与所述第一外壳电连接,所述第一阻抗元件与所述第一外壳电连接的一端作为所述电位检测电路的所述设定电位检测点,所述第一电源信号的电平值为高电平。4.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述上位机包括第二USB接口,所述第一USB接口通过所述第二USB接口与所述上位机电连接;所述第一USB接口包括第一电源引脚,所述第二USB接口包括对应所述第一电源引脚设置的第二电源引脚,所述第二电源引脚上电源信号的电平值为高电平,所述电位检测电路与所述第一电源引脚电连接。5.根据权利要求4所述的测试治具,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘胜利蒋敏
申请(专利权)人:昆山龙腾光电有限公司
类型:新型
国别省市:江苏,32

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