宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针制造技术

技术编号:22127533 阅读:35 留言:0更新日期:2019-09-18 05:09
一种宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针,包括针杆和圆球测量头,所述针杆为圆柱体,该圆柱体的一端设有一圆柱凸台,该圆柱凸台的直径小于所述针杆的直径,针杆端面与圆柱凸台之间形成定位轴肩,所述圆球测量头设有一切平面,该切平面中心设有一圆柱盲孔,该圆柱盲孔的直径与圆柱凸台的直径吻合,所述圆球测量头通过圆柱盲孔套在圆柱凸台上且粘接固定。

A measuring needle for the length of fine holes in spherical grooves of gemstone elements

【技术实现步骤摘要】
宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针
本技术涉及测量领域,具体涉及一种宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针。
技术介绍
在设有球面凹槽的宝石元件中,很多宝石元件的球面凹槽设置有竖直的细微孔,通常这种细微孔的孔径≤0.10mm。在加工过程中,这种细微孔的直孔段长度公差≤0.01mm,测量精度≤0.001mm,由此常常会遇见带球面凹槽的宝石元件直孔段长度的精确测量问题。如采用50倍卧式投影仪检测,测量精度为0.01mm左右,无法达到测量精度为0.001mm直孔段长度检测的要求,且不适合生产现场批量检测。又如采用数显投影仪检测,由于设备本身精度、检验人员变化和视觉习惯等因素影响,测量误差在0.003mm,也无法达到测量精度为0.001mm直孔段长度检测的要求,且不适合批量检测。也有采用千分表测针来测量直孔段长度,但是千分表测针为一体结构,其测量端头在测量宝石元件时,磨损较快,严重影响测量精度,测量端头一旦磨损,就只能将整个测量针报废,造成企业检测成本增大。并且由于一体结构的千分表测针对测量头的加工难度较大,难于保证测量头的表面粗糙度和尺寸的一致性,每批次测量针检测精度都会受到严重影响,不利于宝石元件加工的质量检测。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术对应的不足,提供一种宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针,既能达到测量要求,又可以节省材料,易于生产,而且还便于安装的。本技术的目的是采用下述方案实现的:一种宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针,包括针杆和圆球测量头,所述针杆为圆柱体,该圆柱体的一端设有一圆柱凸台,该圆柱凸台的直径小于所述针杆的直径,针杆端面与圆柱凸台之间形成定位轴肩,所述圆球测量头设有一切平面,该切平面中心设有一圆柱盲孔,该圆柱盲孔的直径与圆柱凸台的直径吻合,所述圆球测量头通过圆柱盲孔套在圆柱凸台上且粘接固定。所述圆球测量头的球半径小于球面凹槽的球半径,且大于细微孔的半径。所述圆球测量头套在圆柱凸台上,圆柱凸台与圆球测量头的配合间隙为0.01~0.02mm。所述圆球测量头的精度等级至少为G10级。所述圆柱盲孔的深度大于所述圆柱凸台的长度。所述圆柱凸台顶端设置有倒角。由于采用了上述技术,所述针杆为圆柱体,该圆柱体的一端设有一圆柱凸台,该圆柱凸台的直径小于所述针杆的直径,针杆端面与圆柱凸台之间形成定位轴肩,所述圆球测量头设有一切平面,该切平面中心设有一圆柱盲孔,该圆柱盲孔的直径与圆柱凸台的直径吻合,所述圆球测量头通过圆柱盲孔套在圆柱凸台上且粘接固定,当因为圆球测量头磨损导致测试精度达不到要求的时候,不需要将整个测量针替换掉,只需要换上全新的圆球测量头,便可以继续进行测量工作,不但方便快捷,便于安装,还大大节省了检测成本,甚至可以针对不同直径的细微孔,换上不同型号的圆球测量头来进行检测。所述圆球测量头的球半径小于球面凹槽的球半径,且大于细微孔的半径,保证所述圆球测量头既能够抵达球面凹槽底部,又不至于会穿到细微孔内部去。所述圆球测量头套在圆柱凸台上,圆柱凸台与圆球测量头的配合间隙为0.01~0.02mm,保证圆柱凸台与圆球测量头能够紧密粘接固定在一起。所述圆球测量头的精度等级至少为G10级,保证测量针具有足够的测试精度。所述圆柱盲孔的深度大于所述圆柱凸台的长度,能够保证圆球测量头与圆柱凸台装配到位,不会受到干涉,也有利于圆球测量头的切平面与针杆的轴肩贴合,在测量头盲孔孔壁涂胶与圆柱凸台的圆柱面粘接时,为多余的胶水提供让位空间。所述圆柱凸台顶端设置有倒角,起导向定位作用,方便装配。所述宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针既能达到测量要求,又可以节省材料,易于生产,而且还便于安装与维护,大大减少了了测量成本,在宝石元件加工的质量检测中起到了重要作用。附图说明图1为本技术的结构分解图;图2为本技术的结构图;图3为本技术的检测状态图。图中,1.针杆,2.圆球测量头,3.圆柱凸台,4.轴肩,5.切平面,6.圆柱盲孔,7.测量针尖部,8.蓝宝石基片,9.宝石元件,10.球面凹槽,11.细微孔。具体实施方式参见图1至图3,一种宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针,包括针杆1和圆球测量头2,所述圆球测量头2的精度等级至少为G10级,所述圆球测量头2可以用宝石材料,也可以用不锈钢材料,或者其他的硬质材料来制作。所述针杆1为圆柱体,该圆柱体的一端设有一圆柱凸台3,该圆柱凸台3顶端设置有倒角,且该圆柱凸台3的直径小于所述针杆1的直径,针杆1端面与圆柱凸台3之间形成定位轴肩4,所述圆球测量头2设有一切平面5,该切平面5中心设有一圆柱盲孔6,该圆柱盲孔6的直径与圆柱凸台3的直径吻合,所述圆柱盲孔6的深度大于圆柱凸台3的长度。所述圆球测量头2通过圆柱盲孔6套在圆柱凸台3上且粘接固定,该圆柱凸台3与圆球测量头2的配合间隙为0.01~0.02mm。所述圆球测量头2的球半径小于球面凹槽10的球半径,且大于细微孔11的半径。利用该测量针测量宝石元件9球面凹槽10中的细微孔11长度的方法如下:1.调零:调整测量针位置,使圆球测量头2与蓝宝石基片8表面接触,使千分表表针归零。2.测量:将宝石元件9放在蓝宝石基片8表面上,然后将所述测量针垂直放入宝石元件9的球面凹槽10内,使该测量针的轴心线与宝石元件9的球面凹槽10的轴心线重合,使测量针尖部7落入宝石元件9球面凹槽10的最底部,此时千分表显示的数值为H2。测量针尖部7落入球面凹槽10的最底部的同时也落入细微孔11中,测量针尖部7与细微孔11的顶部产生的距离为H1。可以看出,细微孔11的长度H=H1+H2,即用千分表的显示值H2比细微孔11的长度H偏小,偏小数值为H1。3.误差计算:微孔产品孔径D对测量针测量细微孔的长度H产生的误差影响如下:注:H1是通过下列公式计算得到的:其中,SR为圆球测量头的半径,D为微孔产品孔径,在该实施例中,圆球测量头2的半径SR为0.90mm,微孔产品孔径D为0.05~0.10mm。从上表可以看出采用该测量针的检测值与宝石元件球面凹槽中细微孔长度的误差最大为偏小0.00139mm。因此,我们对检测值的数据进行如下修约:这样,我们就解决了宝石元件球面凹槽中细微孔长度的精确测量问题。以上所述仅为本技术的优选实施例,并不用于限制本技术,显然,本领域的技术人员可以对本技术进行各种改动和变型而不脱离本技术的精神和范围。这样,倘若本技术的这些修改和变型属于本技术权利要求及其等同技术的范围之内,则本技术也意图包含这些改动和变型在内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针,其特征在于:包括针杆(1)和圆球测量头(2),所述针杆(1)为圆柱体,该圆柱体的一端设有一圆柱凸台(3),该圆柱凸台(3)的直径小于所述针杆(1)的直径,针杆(1)端面与圆柱凸台(3)之间形成定位轴肩(4),所述圆球测量头(2)设有一切平面(5),该切平面(5)中心设有一圆柱盲孔(6),该圆柱盲孔(6)的直径与圆柱凸台(3)的直径吻合,所述圆球测量头(2)通过圆柱盲孔(6)套在圆柱凸台(3)上且粘接固定。

【技术特征摘要】
1.一种宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针,其特征在于:包括针杆(1)和圆球测量头(2),所述针杆(1)为圆柱体,该圆柱体的一端设有一圆柱凸台(3),该圆柱凸台(3)的直径小于所述针杆(1)的直径,针杆(1)端面与圆柱凸台(3)之间形成定位轴肩(4),所述圆球测量头(2)设有一切平面(5),该切平面(5)中心设有一圆柱盲孔(6),该圆柱盲孔(6)的直径与圆柱凸台(3)的直径吻合,所述圆球测量头(2)通过圆柱盲孔(6)套在圆柱凸台(3)上且粘接固定。2.根据权利要求1所述的宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针,其特征在于:所述圆球测量头(2)的球半径小于球面凹槽(10)...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈锋李杰英
申请(专利权)人:重庆川仪自动化股份有限公司
类型:新型
国别省市:重庆,50

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