一种光电子器件金属外壳密封测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光电子器件金属外壳密封测试装置，包括底座、密封检测箱、控制器、放置架、金属外壳本体、气压传感器和真空泵，底座的上部安装有密封检测箱，密封检测箱的外壁上安装有控制器，密封检测箱的内部放置有放置架，放置架放置有金属外壳本体，金属外壳本体的内部安置有气压传感器，密封检测箱的上部安装有箱盖，密封检测箱上安装有抽气管，抽气管上安装有真空泵，密封检测箱的箱壁上安装有进气管，进气管上安装有电磁阀。本发明专利技术通过设置的底座、密封检测箱、控制器、放置架、金属外壳本体、气压传感器和真空泵，解决了人工逐个的对其金属外壳进行检测，检测起来速度慢、效率低的问题。

A Sealing Testing Device for Metal Shell of Optoelectronic Devices

【技术实现步骤摘要】
一种光电子器件金属外壳密封测试装置
本专利技术涉及密封测试
，具体为一种光电子器件金属外壳密封测试装置。
技术介绍
光电器件主要有：利用半导体光敏特性工作的光电导器件，利用半导体光生伏特效应工作的光电池和半导体发光器件等。半导体光电器件如光导管、光电池、光电二极管、光电晶体管等；半导体热电器件如热敏电阻、温差发电器和温差电致冷器等。其中光电器件使用时载气外部会安装上金属外壳，在金属外壳使用之前需要对其进行检测，检测金属外壳的密封性能。但是，现有技术具有以下不足：人工逐个的对其金属外壳进行检测，检测起来速度慢、效率低。
技术实现思路
（一）解决的技术问题针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种光电子器件金属外壳密封测试装置，解决了人工逐个的对其金属外壳进行检测，检测起来速度慢、效率低的问题。（二）技术方案为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种光电子器件金属外壳密封测试装置，包括底座、密封检测箱、控制器、放置架、金属外壳本体、气压传感器和真空泵，所述底座的上部安装有密封检测箱，所述密封检测箱的外壁上安装有控制器，所述密封检测箱的内部放置有放置架，所述放置架放置有金属外壳本体，所述金属外壳本体的内部安置有气压传感器，所述密封检测箱的上部安装有箱盖，所述密封检测箱上安装有抽气管，所述抽气管上安装有真空泵，所述密封检测箱的箱壁上安装有进气管，所述进气管上安装有电磁阀。优选的，所述密封检测箱的下部与底座固定连接，所述密封检测箱与箱盖的连接部位处设置有橡胶密封圈，所述箱盖上开设有穿孔。优选的，所述密封检测箱上部的外壁上安装有螺纹杆，所述螺纹杆下端通过固定座与密封检测箱固定连接，所述螺纹杆的上端穿过箱盖上的穿孔与螺帽螺纹连接，且螺纹杆与穿孔一一对应设置。优选的，所述真空泵固定连接在底座上，所述真空泵的进气口与抽气管一端相互连通，所述抽气管的另一端延伸到密封检测箱的内部，且抽气管与密封检测箱之间密封连接，所述真空泵的出气口上安装有排气管。优选的，所述放置架上设置有五个等间距分布的载物板，所述放置架的每一个载物板上均放置有金属外壳本体，所述金属外壳本体内部的气压传感器与控制器电性连接。（三）有益效果本专利技术提供了一种光电子器件金属外壳密封测试装置，具备以下有益效果：本专利技术，使用时，直接在需要检测金属外壳本体的内部放置好气压传感器，随后在将其金属外壳本体组装成一个完成的壳体，接着在将金属外壳本体整齐的放置到放置架上，随后在将放置架安置到密封检测箱的内部，再将箱盖上穿孔对准螺纹杆，并将其箱盖盖到密封检测箱上，随后在将螺帽安装到螺纹杆上，随后真空泵运行利用抽气管抽取密封检测箱内的空气，并将其密封检测箱的内部抽至真空，随后静置一段时间，利用控制器来查看各个金属外壳本体内部气压传感器检测到气压的变化，气压变化则表示密封性差，气压不便则表示密封性好，检测结束后，打开电磁阀进气管向密封检测箱内输气，平衡密封检测箱的气压后打开箱盖取出放置架即可，利用密封检测箱一次检测多个金属外壳，检测速度快、效率高，且结构简单，检测操作起来简单便捷，解决了人工逐个的对其金属外壳进行检测，检测起来速度慢、效率低的问题。附图说明图1为本专利技术结构示意图；图2为本专利技术图1的放置架结构示意图；图3为本专利技术图1中箱盖的结构示意图。图中附图标记为：1、底座；2、密封检测箱；3、控制器；4、放置架；5、金属外壳本体；6、气压传感器；7、箱盖；8、橡胶密封圈；9、固定座；10、螺纹杆；11、螺帽；12、抽气管；13、真空泵；14、排气管；15、进气管；16、电磁阀；17、穿孔。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1-3所示，本专利技术提供的一种实施例；一种光电子器件金属外壳密封测试装置，包括底座1、密封检测箱2、控制器3、放置架4、金属外壳本体5、气压传感器6和真空泵13，底座1的上部安装有密封检测箱2，密封检测箱2的外壁上安装有控制器3，控制器3的型号为MAM-330，为现有技术，密封检测箱2的内部放置有放置架4，放置架4放置有金属外壳本体5，金属外壳本体5的内部安置有气压传感器6，气压传感器6的型号为PY210，为现有技术，放置架4上设置有五个等间距分布的载物板，放置架4的每一个载物板上均放置有金属外壳本体5，金属外壳本体5内部的气压传感器6与控制器3电性连接，密封检测箱2的上部安装有箱盖7，密封检测箱2的下部与底座1固定连接，密封检测箱2与箱盖7的连接部位处设置有橡胶密封圈8，箱盖7上开设有穿孔17，密封检测箱2上部的外壁上安装有螺纹杆10，螺纹杆10下端通过固定座9与密封检测箱2固定连接，螺纹杆10的上端穿过箱盖7上的穿孔17与螺帽11螺纹连接，且螺纹杆10与穿孔17一一对应设置，密封检测箱2上安装有抽气管12，抽气管12上安装有真空泵13，真空泵13的型号为XZ-0.5，为现有技术，真空泵13固定连接在底座1上，真空泵13的进气口与抽气管12一端相互连通，抽气管12的另一端延伸到密封检测箱2的内部，且抽气管12与密封检测箱2之间密封连接，真空泵13的出气口上安装有排气管14，密封检测箱2的箱壁上安装有进气管15，进气管15上安装有电磁阀16，电磁阀16的型号为SLDF，为现有技术。工作原理：使用时，直接在需要检测金属外壳本体5的内部放置好气压传感器6，随后在将其金属外壳本体5组装成一个完成的壳体，接着在将金属外壳本体5整齐的放置到放置架4上，随后在将放置架4安置到密封检测箱2的内部，再将箱盖7上穿孔17对准螺纹杆10，并将其箱盖7盖到密封检测箱2上，随后在将螺帽11安装到螺纹杆10上，随后真空泵13运行利用抽气管12抽取密封检测箱2内的空气，并将其密封检测箱2的内部抽至真空，随后静置一段时间，利用控制器3来查看各个金属外壳本体5内部气压传感器6检测到气压的变化，气压变化则表示密封性差，气压不便则表示密封性好，检测结束后，打开电磁阀16进气管15向密封检测箱2内输气，平衡密封检测箱2的气压后打开箱盖7取出放置架4即可。综上可得，本专利技术通过设置的底座1、密封检测箱2、控制器3、放置架4、金属外壳本体5、气压传感器6和真空泵13，解决了人工逐个的对其金属外壳进行检测，检测起来速度慢、效率低的问题。需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。尽管已经示出和描述了本专利技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本专利技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本专利技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光电子器件金属外壳密封测试装置，包括底座（1）、密封检测箱（2）、控制器（3）、放置架（4）、金属外壳本体（5）、气压传感器（6）和真空泵（13），其特征在于：所述底座（1）的上部安装有密封检测箱（2），所述密封检测箱（2）的外壁上安装有控制器（3），所述密封检测箱（2）的内部放置有放置架（4），所述放置架（4）放置有金属外壳本体（5），所述金属外壳本体（5）的内部安置有气压传感器（6），所述密封检测箱（2）的上部安装有箱盖（7），所述密封检测箱（2）上安装有抽气管（12），所述抽气管（12）上安装有真空泵（13），所述密封检测箱（2）的箱壁上安装有进气管（15），所述进气管（15）上安装有电磁阀（16）。

【技术特征摘要】
1.一种光电子器件金属外壳密封测试装置，包括底座（1）、密封检测箱（2）、控制器（3）、放置架（4）、金属外壳本体（5）、气压传感器（6）和真空泵（13），其特征在于：所述底座（1）的上部安装有密封检测箱（2），所述密封检测箱（2）的外壁上安装有控制器（3），所述密封检测箱（2）的内部放置有放置架（4），所述放置架（4）放置有金属外壳本体（5），所述金属外壳本体（5）的内部安置有气压传感器（6），所述密封检测箱（2）的上部安装有箱盖（7），所述密封检测箱（2）上安装有抽气管（12），所述抽气管（12）上安装有真空泵（13），所述密封检测箱（2）的箱壁上安装有进气管（15），所述进气管（15）上安装有电磁阀（16）。2.根据权利要求1所述的一种光电子器件金属外壳密封测试装置，其特征在于：所述密封检测箱（2）的下部与底座（1）固定连接，所述密封检测箱（2）与箱盖（7）的连接部位处设置有橡胶密封圈（8），所述箱盖（7）上开设有穿孔（17）。3.根据权利要求2所...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱俊，丁绍平，晋传彬，
申请(专利权)人：马鞍山秉信光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34