【技术实现步骤摘要】
精确的角反射器几何误差测量方法
本专利技术属于雷达探测
，具体涉及一种精确的角反射器几何误差测量方法。
技术介绍
合成孔径雷达技术(SAR)是一种能够获取高分辨率微波遥感图像的技术，具有不受光照和气候条件等限制实现全天时、全天候对地观测的特点。随着定量应用需求的不断提高，辐射定标技术对提高SAR图像精度起着至关重要的作用。对于星载SAR系统，经常利用陆地固定定标场的人工点目标来完成辐射定标，三面角反射器由于它宽波束、高RCS的优点，常作为人工点目标参与辐射定标。目标的RCS精度对定标结果有直接的影响，因此，角反射器的RCS精度直接决定了辐射定标过程的准确性。然而角反射器在制作、运输、安装、存放过程中，会有相当的几何误差，如直角度、尺寸、板面平整度等几何误差，使得角反射器的实际RCS偏离RCS理论值，会对辐射定标精度有直接影响，因此需要定期验证角反射器结构是否满足使用需求。传统测量角反射器几何误差的方法主要有接触式测量法和三维测量仪测量法。接触式测量法主要利用直尺、测角仪等接触式几何测量工具确定几何误差。三维测量仪测量法利用三维扫描仪测量目标的三维坐标，构建不...
【技术保护点】
1.一种角反射器几何误差测量方法，其特征在于，包括：建立角反射器的理想三维模型；使用3D激光雷达对待测角反射器进行扫描，得到所述待测角反射器的真实三维点云模型；利用所述真实三维点云模型与所述理想三维模型进行误差计算，得到所述待测角反射器的各个平面的平整度误差、直角度误差和边长误差。
【技术特征摘要】
1.一种角反射器几何误差测量方法，其特征在于，包括：建立角反射器的理想三维模型；使用3D激光雷达对待测角反射器进行扫描，得到所述待测角反射器的真实三维点云模型；利用所述真实三维点云模型与所述理想三维模型进行误差计算，得到所述待测角反射器的各个平面的平整度误差、直角度误差和边长误差。2.根据权利要求1所述的角反射器几何误差测量方法，其特征在于，在所述建立角反射器的理想三维模型之前还包括：设备准备。3.根据权利要求2所述的角反射器几何误差测量方法，其特征在于，所述设备准备包括：确定待测角反射器尺寸在3D激光雷达扫描范围内；摆放所述待测量角反射器和所述3D激光雷达；清除周围影响测量的物体或光源。4.根据权利要求1所述的角反射器几何误差测量方法，其特征在于，所述利用所述真实三维点云模型与所述理想三维模型进行误差计算，得到所述待测角反射器的各个平面的平整度误差包括：将所述真实三维点云模型的点云分割到相应平面，计算点云中每个点与所述理想三维模型的最佳拟合点的偏差；根据所述偏差计算各平面的均方根误差得到所述待测角反射器的各个平面的平整度误差。5.根据权利要求4所述的角反射器几何误差测量方法，其特征在于，所述计算点云中每个点与所述理想三维模型的最佳拟合点的偏差的公式为：其中，δm_n为所述偏差，(xm_n，ym_n，zm_n)为第m个平面上的第...
【专利技术属性】
技术研发人员：杜少岩，洪峻，王宇，郑巧娜，李一明，
申请(专利权)人：中国科学院电子学研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11
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