【技术实现步骤摘要】
检测方法和装置，光谱检测设备及存储介质
本公开涉及检测
，具体地，涉及一种检测方法和装置，光谱检测设备及存储介质。
技术介绍
当前的光谱检测，通常是将激光或者其他光源通过透镜聚焦到被测样品表面的某一点，然后测量这一点的光谱数据，根据这一点的光谱数据确定被测样品在此点处的物质信息。由于被测样品往往物质分布不均匀，基于某一点的光谱数据无法准确得到整个被测样品的真实信息。此外，该方法得到的测量结果的重复性差，难以实现大批量的检测作业。
技术实现思路
本公开的目的是提供一种检测方法和装置，光谱检测设备及存储介质，用以解决上述技术问题。为了实现上述目的，根据本公开实施例的第一方面，提供一种检测方法，应用于光谱检测设备，所述方法包括：获取被测样品表面的待测区域的区域信息；根据所述区域信息确定所述待测区域内的测量点的数量和位置信息；根据所述测量点的数量和位置信息调整所述光谱检测设备射入的光的入射角，以使所述光谱检测设备射出的光在所述待测区域的不同位置聚焦。根据本公开实施例的第二方面，提供一种检测装置，应用于光谱检测设备，所述装置包括：获取模块，用于获取被测样品表面的待测区域的...
【技术保护点】
1.一种检测方法，其特征在于，应用于光谱检测设备，所述方法包括：获取被测样品表面的待测区域的区域信息；根据所述区域信息确定所述待测区域内的测量点的数量和位置信息；根据所述测量点的数量和位置信息调整所述光谱检测设备射入的光的入射角，以使所述光谱检测设备射出的光在所述待测区域的不同位置聚焦。
【技术特征摘要】
1.一种检测方法，其特征在于，应用于光谱检测设备，所述方法包括：获取被测样品表面的待测区域的区域信息；根据所述区域信息确定所述待测区域内的测量点的数量和位置信息；根据所述测量点的数量和位置信息调整所述光谱检测设备射入的光的入射角，以使所述光谱检测设备射出的光在所述待测区域的不同位置聚焦。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述区域信息包括所述待测区域的形状和尺寸信息；所述根据所述区域信息确定所述待测区域内的测量点的数量和位置信息，包括：根据区域形状与测量点分布信息之间的预设对应关系，以及所述待测区域的形状，确定所述待测区域的测量点分布信息，其中，所述测量点分布信息包括测量点在区域中的分布区域，以及各个所述分布区域内的测量点密度或者数量；根据所述待测区域的尺寸信息和测量点分布信息，确定所述待测区域内的测量点数量以及各个测量点的位置信息。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述区域信息包括所述待测区域的尺寸信息；所述根据所述测量点的数量和位置信息调整所述光谱检测设备射入的光的入射角，以使所述光谱检测设备射出的光在所述待测区域的不同位置聚焦，包括：根据所述测量点的数量和所述待测区域的尺寸信息，确定所述待测区域内的测量点密度；若所述测量点密度大于或等于预设阈值，则依次根据每一所述测量点的位置信息调整所述光谱检测设备射入的光的入射角，以使所述光谱检测设备射出的光依次在各个所述测量点聚焦。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述测量点的数量和位置信息调整所述光谱检测设备射入的光的入射角，以使所述光谱检测设备射出的光在所述待测区域的不同位置聚焦，还包括：若所述测量点密度小于所述预设阈值，则根据所述待测区域的尺寸信息和各个所述测量点的位置信息，将所述测量区域划分为与所述测量点的数量相等的多个测量子区域，得到每一所述测量子区域的尺寸信息，其中，一个所述测量子区域包含一个所述测量点，且各个所述测量子区域之间互不重叠；依次针对每一所述测量子区域，根据该测量子区域的尺寸信息和预设的平面扫描方式调整所述光谱检测设备射入的光的入射角，以使所述光谱检测设备射出的光依次在每一所述测量子区域的不同位置聚焦。5.一种检测装置，其特征在于，应用于...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘武宏，杨威，牟涛涛，
申请(专利权)人：北京云端光科技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11
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