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本公开涉及一种检测方法和装置，光谱检测设备及存储介质，所述检测方法应用于光谱检测设备，所述方法包括：获取被测样品表面的待测区域的区域信息；根据所述区域信息确定所述待测区域内的测量点的数量和位置信息；根据所述测量点的数量和位置信息调整所述光谱...
该专利属于北京云端光科技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京云端光科技术有限公司授权不得商用。

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