【技术实现步骤摘要】
一种新型高低温测试装置
本技术涉及高低温测试
，具体为一种新型高低温测试装置。
技术介绍
对要求较高的光器件或光模块产品，通常要求对产品进行特定温度点测试。如通常的3温度点测试，-40，25和85度，这通常要占用大量的测试机台时间，而成套的光模块测试机台包括数据通信分析仪、高速误码仪、光功率计、光衰减器、光谱仪等昂贵设备，分摊到每一只需要多温度点测试的产品的测试费用很高，而且极大的限制了需要做多温度点测试的产品的产能，目前采用的多温度点测试方案如下：1.采用普通快速温变箱，但是一般的快速温变箱的升降温速度也都在5度每分钟左右，这样测试一只模块的三个温度点需要花费很长时间。采用thermostream热流仪，这种设备测试升降温速度非常快，最高可以达到15度/秒，可以快速测试光器件、光模块的多个温度点，目前也是行业内普遍采用的一种设备。但是，这种设备价格非常昂贵，大幅度增加了测试成本。传统的高低温测试装置，一般实验箱体成本较高或者效果不是很好，不能够在设定温度点方便、快捷地对多个光器件和光模块进行逐个测试，并且难以保证实验箱体内的温度变化很小，增加了使用者的使用...
【技术保护点】
1.一种新型高低温测试装置，包括实验箱体(1)、孔塞(2)和L型轨道(3)，所述实验箱体(1)内腔的底部通过螺栓固定连接有L型轨道(3)，其特征在于：所述实验箱体(1)内部的一侧开设有方形孔(4)，所述孔塞(2)一侧的顶部和底部均固定连接有D型密封条(5)，并且D型密封条(5)的表面与方形孔(4)的内壁接触，所述孔塞(2)的一侧固定连接有滑板(6)，所述滑板(6)的一侧贯穿实验箱体(1)并延伸至实验箱体(1)的内腔，并且滑板(6)延伸至实验箱体(1)内腔的底部固定连接有U型滑轨(7)，所述U型滑轨(7)的内壁与L型轨道(3)的内壁滑动连接，所述滑板(6)位于实验箱体(1)内...
【技术特征摘要】
1.一种新型高低温测试装置，包括实验箱体(1)、孔塞(2)和L型轨道(3)，所述实验箱体(1)内腔的底部通过螺栓固定连接有L型轨道(3)，其特征在于：所述实验箱体(1)内部的一侧开设有方形孔(4)，所述孔塞(2)一侧的顶部和底部均固定连接有D型密封条(5)，并且D型密封条(5)的表面与方形孔(4)的内壁接触，所述孔塞(2)的一侧固定连接有滑板(6)，所述滑板(6)的一侧贯穿实验箱体(1)并延伸至实验箱体(1)的内腔，并且滑板(6)延伸至实验箱体(1)内腔的底部固定连接有U型滑轨(7)，所述U型滑轨(7)的内壁与L型轨道(3)的内壁滑动连接，所述滑板(6)位于实验箱体(1)内腔的顶部通过螺钉固定连接有放置板(8)，并且放...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙全意，周四海，齐鹏远，
申请(专利权)人：尚宁光电无锡有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。