一种芯片外观检测设备制造技术

本发明专利技术公开了一种芯片外观检测设备。本发明专利技术的技术方案是：包括机架，机架上设置有上料机构、引脚检测机构、字符检测机构、挑料机构以及下料机构；引脚检测机构包括可变距吸嘴模块以及针脚检测相机组，可变距吸嘴模块包括若干个并排设置的吸嘴；字符检测机构包括能够夹持住萃盘的X轴输送模块以及携带有字符检测相机的Y轴行走模块；挑料机构包括连接有挑料吸头的XYZ轴行走模块、与X轴输送模块连通的下料输送带以及萃盘放置区；下料机构包括下料输送带以及设置在下料输送带末端的萃盘收集区，萃盘收集区包括自动复位卡扣以及设置在萃盘收集区下部且能够顶升萃盘的顶升模块。本发明专利技术提供的方案自动化程度高且检测效率高。

A Chip Appearance Detection Equipment

【技术实现步骤摘要】
一种芯片外观检测设备
本专利技术涉及视觉检测
，特别涉及一种半导体行业固态硬盘芯片的外观检测设备。
技术介绍
芯片中IC引脚的平面度和正位度是影响线路板组装质量的一个重要因素，如何在生产过程中在线检测IC引脚的平面度和正位度，从而控制和提高产品的表面质量一直是电子行业非常关注的内容。现有技术中采用传统的检测方法进行人工检测，这种方法存在很多的问题：检测效率不高；检测结果容易受到人的主观因素影响；检测人员的劳动强度大；检测标准人工很难把握等。因此为了克服这些问题，如何设计一种基于视觉和伺服控制运动系统的芯片外观自动检测设备正是本专利技术人所要解决的问题。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足，本专利技术的主要目的在于提供一种检测效率高且全程自动化运行的芯片外观检测设备。为实现上述目的，本专利技术提供了如下技术方案：一种芯片外观检测设备，包括机架，所述机架上设置有上料机构、引脚检测机构、字符检测机构、挑料机构以及下料机构，所述上料机构包括设置在机架上的支撑架，所述支撑架上设置有能够带动若干个堆叠设置的萃盘升降的升降模块以及能够夹紧或松开萃盘两边的阻挡模块，所述升降模块能够带动萃盘进入萃盘下方的双列输送带上，每一萃盘中阵列设置有多个待检测芯片；所述引脚检测机构包括可变距吸嘴模块以及针脚检测相机组，所述可变距吸嘴模块包括若干个并排设置的吸嘴，所述双列输送带上设置有能够固定住萃盘的气爪；所述字符检测机构包括能够夹持住萃盘的X轴输送模块以及携带有字符检测相机的Y轴行走模块；所述挑料机构包括连接有挑料吸头的XYZ轴行走模块、与所述X轴输送模块连通的下料输送带以及萃盘放置区，所述萃盘放置区包括良品放置盘、针脚不良放置盘以及字符不良放置盘；所述下料机构包括下料输送带以及设置在下料输送带末端的萃盘收集区，所述萃盘收集区包括自动复位卡扣以及设置在萃盘收集区下部且能够顶升萃盘的顶升模块。优选的，所述升降模块包括伺服电缸以及与伺服电缸连接的顶板，所述伺服电缸设置在双列输送带的中间，所述阻挡模块包括设置在支撑架上且能够夹持住双列输送带上的最底部的萃盘的阻挡气缸。优选的，所述可变距吸嘴模块包括驱动动力源、与驱动动力源连接的变距驱动板、直线导柱以及套设在直线导柱上的一排吸嘴，所述变距驱动板上设置有若干个导向槽，相邻导向槽之间的间距在同一水平方向上相同且从下往上逐渐变大，所述吸嘴上设置有插设在对应导向槽内的导向杆。优选的，所述顶升模块包括伺服电缸以及与伺服电缸连接的顶块。优选的，所述下料输送带上设置有与X轴输送模块对应的对齐机构，所述对齐机构包括能够与X轴输送模块上的萃盘抵接的挡块以及与挡块相对设置的推料气缸，所述推料气缸连接有能够抵接萃盘拐角处的带有V形槽的推块。本专利技术相对于现有技术具有如下优点，上料机构带动萃盘至引脚检测机构处进行检测，通过可变距吸嘴模块将双列输送带上的芯片吸取并送至针脚检测相机组进行拍照检测然后送回，多个吸嘴同时吸取芯片，八个芯片不间断连续拍照，拍照结束后自动放回原位，之后双列输送带向前移动一排产品的距离重复以上步骤直到整盘芯片检查完成，气爪松开萃盘，双列输送带将萃盘传到下一工序；然后字符检测机构包括能够夹持住萃盘的X轴输送模块以及携带有字符检测相机的Y轴行走模块，Y轴行走模块直接带动字符检测相机在X轴输送模块上对芯片进行拍照检测；挑料机构包括连接有挑料吸头的XYZ轴行走模块、与X轴输送模块连通的下料输送带以及萃盘放置区，萃盘放置区包括良品放置盘、针脚不良放置盘以及字符不良放置盘，XYZ轴行走模块能够带动挑料吸头将该萃盘中的针脚不良以及字符不良的产品分别挑出到针脚不良放置盘以及字符不良放置盘，然后再利用挑料吸头将良品放置盘中的芯片补充到该萃盘中进行下料；下料机构包括下料输送带以及设置在下料输送带末端的萃盘收集区，萃盘收集区包括自动复位卡扣以及设置在萃盘收集区下部且能够顶升萃盘的顶升模块，自动复位卡扣即只能使得萃盘从下往上堆叠，能够防止萃盘从上往下跌落，这样利用顶升模块将萃盘顶升，然后利用下料输送带将萃盘送至最底部实现下料。本方案能够自动化检测并上下料，自动化运行，效率高。附图说明图1为本专利技术的一种芯片外观检测设备的整体结构示意图一；图2为本专利技术的一种芯片外观检测设备的上料机构的结构示意图；图3为本专利技术的一种芯片外观检测设备的可变距吸嘴模块的结构示意图；图4为本专利技术的一种芯片外观检测设备的整体结构示意图二；图5为图4中A部放大结构示意图；图6为本专利技术的一种芯片外观检测设备的下料机构的结构示意图。图中：1、机架；2、上料机构；3、引脚检测机构；4、字符检测机构；5、挑料机构；6、下料机构；7、支撑架；8、萃盘；9、双列输送带；10、伺服电缸；11、阻挡气缸；12、可变距吸嘴模块；13、针脚检测相机组；14、驱动动力源；15、变距驱动板；16、直线导柱；17、吸嘴；18、导向槽；19、导向杆；20、挡块；21、推料气缸；22、推块；23、气爪；24、字符检测相机；25、X轴输送模块；26、Y轴行走模块；27、XYZ轴行走模块；28、下料输送带；29、良品放置盘；30、针脚不良放置盘；31、字符不良放置盘；32、自动复位卡扣。具体实施方式下面结合附图对本专利技术作进一步说明。如图1所示，一种芯片外观检测设备，包括机架1，所述机架1上设置有上料机构2、引脚检测机构3、字符检测机构4、挑料机构5以及下料机构6，所述上料机构2包括设置在机架1上的支撑架7，所述支撑架7上设置有能够带动若干个堆叠设置的萃盘8升降的升降模块以及能够夹紧或松开萃盘8两边的阻挡模块，所述升降模块能够带动萃盘8进入萃盘8下方的双列输送带9上，每一萃盘8中阵列设置有多个待检测芯片；所述引脚检测机构3包括可变距吸嘴模块12以及针脚检测相机组13，所述可变距吸嘴模块12包括若干个并排设置的吸嘴17，所述双列输送带9上设置有能够固定住萃盘8的气爪23；所述字符检测机构4包括能够夹持住萃盘8的X轴输送模块25以及携带有字符检测相机24的Y轴行走模块26；所述挑料机构5包括连接有挑料吸头的XYZ轴行走模块27、与所述X轴输送模块25连通的下料输送带以及萃盘放置区，所述萃盘放置区包括良品放置盘29、针脚不良放置盘30以及字符不良放置盘31；所述下料机构6包括下料输送带28以及设置在下料输送带28末端的萃盘收集区，所述萃盘收集区包括自动复位卡扣32以及设置在萃盘收集区下部且能够顶升萃盘8的顶升模块。本方案的一种芯片外观检测设备，其工作过程是，上料机构2带动萃盘8至引脚检测机构3处进行检测，通过可变距吸嘴17模块12将双列输送带9上的芯片吸取并送至针脚检测相机组13进行拍照检测然后送回，多个吸嘴17同时吸取芯片，八个芯片不间断连续拍照，拍照结束后自动放回原位，之后双列输送带9向前移动一排产品的距离重复以上步骤直到整盘芯片检查完成，气爪23松开萃盘8，双列输送带9将萃盘8传到下一工序；然后字符检测机构4包括能够夹持住萃盘8的X轴输送模块25以及携带有字符检测相机24的Y轴行走模块26，Y轴行走模块26直接带动字符检测相机24在X轴输送模块25上对芯片进行拍照检测；挑料机构5包括连接有挑料吸头的XYZ轴行走模块27、与X轴输送模块25连通的下料输送带28以及萃盘放置区，萃盘放置区本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片外观检测设备，包括机架，其特征在于：所述机架上设置有上料机构、引脚检测机构、字符检测机构、挑料机构以及下料机构，所述上料机构包括设置在机架上的支撑架，所述支撑架上设置有能够带动若干个堆叠设置的萃盘升降的升降模块以及能够夹紧或松开萃盘两边的阻挡模块，所述升降模块能够带动萃盘进入萃盘下方的双列输送带上，每一萃盘中阵列设置有多个待检测芯片；所述引脚检测机构包括可变距吸嘴模块以及针脚检测相机组，所述可变距吸嘴模块包括若干个并排设置的吸嘴，所述双列输送带上设置有能够固定住萃盘的气爪；所述字符检测机构包括能够夹持住萃盘的X轴输送模块以及携带有字符检测相机的Y轴行走模块；所述挑料机构包括连接有挑料吸头的XYZ轴行走模块、与所述X轴输送模块连通的下料输送带以及萃盘放置区，所述萃盘放置区包括良品放置盘、针脚不良放置盘以及字符不良放置盘；所述下料机构包括下料输送带以及设置在下料输送带末端的萃盘收集区，所述萃盘收集区包括自动复位卡扣以及设置在萃盘收集区下部且能够顶升萃盘的顶升模块。

【技术特征摘要】
1.一种芯片外观检测设备，包括机架，其特征在于：所述机架上设置有上料机构、引脚检测机构、字符检测机构、挑料机构以及下料机构，所述上料机构包括设置在机架上的支撑架，所述支撑架上设置有能够带动若干个堆叠设置的萃盘升降的升降模块以及能够夹紧或松开萃盘两边的阻挡模块，所述升降模块能够带动萃盘进入萃盘下方的双列输送带上，每一萃盘中阵列设置有多个待检测芯片；所述引脚检测机构包括可变距吸嘴模块以及针脚检测相机组，所述可变距吸嘴模块包括若干个并排设置的吸嘴，所述双列输送带上设置有能够固定住萃盘的气爪；所述字符检测机构包括能够夹持住萃盘的X轴输送模块以及携带有字符检测相机的Y轴行走模块；所述挑料机构包括连接有挑料吸头的XYZ轴行走模块、与所述X轴输送模块连通的下料输送带以及萃盘放置区，所述萃盘放置区包括良品放置盘、针脚不良放置盘以及字符不良放置盘；所述下料机构包括下料输送带以及设置在下料输送带末端的萃盘收集区，所述萃盘收集区包括自动复位卡扣以及设置在萃盘收集区下部且能够顶升萃盘的顶升模块...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩骏，
申请(专利权)人：苏州市福殷润自动化设备有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32