芯线检测设备和芯线检测方法技术

技术编号:7143071 阅读:297 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供能够对多孔单模光纤进行芯线检测的芯线检测设备,其包括:通过多个突起部(23)对光纤(1)施加载荷(F)来形成光栅的光栅形成器具(20)、和检测光纤(1)所发生的漏光(λ1′)的受光器(30),多个突起部(23)以0.24mm~0.75mm范围内的周期Λ进行配置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及作为光传输系统中光导通试验的试验装置的芯线检测设备及芯线检 测方法,具体而言,涉及使用了长周期光栅的芯线检测设备及芯线检测方法。
技术介绍
随着FTTH (Fiber To The Home 光纤到户)服务的普及,光纤路的施工和维护工 作增加。现有光纤的允许弯曲半径较大而可操作性较差。因此,近年来,人们开发了各种弯 曲损耗特性得到改善、允许弯曲半径变小的光纤。特别是,专利文献1中记载的多孔单模光 纤具有优良的弯曲损耗特性,而且与现有的单模光纤的连接性也优良,因此对其的研究在 积极地推进。为了在光纤路的施工、使用时对任意的光纤芯线进行确认,需要能够在作业现场 找到任意的光纤芯线。芯线检测设备(例如,参照专利文献2)由于能够将光纤中传播的光 的一部分取出从而确认该光纤是否为所需要的光纤,因此被广泛利用。芯线检测设备通过 使光纤中形成弯曲部并对由弯曲部漏出的光进行检测来判断光是否在该光纤中传播。专利文献1 日本国专利公报“特许第3邪4627号”专利文献2 日本国专利公报“特许第3407812号”
技术实现思路
但是,较之于现有的单模光纤,专利文献1所示的多孔单模光纤的弯曲损耗非常 小,因此,无法通过现有的芯线检测方法进行芯线检测。因此,本专利技术为解决上述问题而完成,其目的在于提供能够对多孔单模光纤进行 芯线检测的芯线检测设备及芯线检测方法。解决上述问题的本专利技术第1方面的芯线检测设备,其特征在于,包括光栅形成装 置,通过多个突起部对光纤施加载荷来形成光栅;以及受光装置,检测由所述光栅发生的漏光。解决上述问题的本专利技术第2方面的芯线检测设备,其特征在于,在第1方面的芯线 检测设备中,所述多个突起部的周期沿所述光纤的设置方向变化。解决上述问题的本专利技术第3方面的芯线检测设备,其特征在于,在第1或第2方面 的芯线检测设备中,所述载荷为8N以上。解决上述问题的本专利技术第4方面的芯线检测设备,其特征在于,在第1 3方面的 任一项所述的芯线检测设备中,还包括对所述光纤赋予弯曲的光纤弯曲赋予装置,所述弯 曲的曲率半径处于8mm 12mm范围内。解决上述问题的本专利技术第5方面的芯线检测设备,其特征在于,在第1 4方面的 任一项所述的芯线检测设备中,所述多个突起部以0. 24mm 0. 75mm范围内的周期进行配置。解决上述问题的本专利技术第6方面的芯线检测设备,其特征在于,在第4方面的芯线检测设备中,所述多个突起部配置于所述光纤弯曲赋予装置。解决上述问题的本专利技术第7方面的芯线检测方法,其特征在于,通过多个突起部 对光纤施加载荷来形成长周期光栅,其中,所述多个突起部以0. 24mm 0. 75mm范围内的周 期进行配置;通过检测由所述光纤发生的漏光来对光波在所述光纤中的导通进行确认。解决上述问题的本专利技术第8方面的芯线检测方法,其特征在于,在第7方面的芯线 检测方法中,通过改变所述多个突起部与所述光纤间的角度来形成所述长周期光栅。解决上述问题的本专利技术第9方面的芯线检测方法,其特征在于,在第7或第8方面 的芯线检测方法中,对所述光纤赋予弯曲,并检测由所述光纤发生的漏光。根据本专利技术的芯线检测设备及芯线检测方法,能够对多孔单模光纤进行芯线检 测。附图说明图IA是用于说明本专利技术第一实施方式的芯线检测设备的概略图。图IB是表示通过本专利技术第一实施方式的芯线检测设备所具备的光栅形成器具来 赋予应力的部位与折射率变化量的关系的图。图IC是使用本专利技术第一实施方式的芯线检测设备进行芯线检测的流程图。图2A是示意地表示具有6个空孔的多孔单模光纤的图。图2B是示意地表示具有10个空孔的多孔单模光纤的图。图3A是表示本专利技术第一实施方式的芯线检测设备中波长与损耗谱的关系的曲线 图。图;3B是表示本专利技术第一实施方式的芯线检测设备中突起部周期与中心波长(损 耗谱达到最大值的波长)的关系的曲线图。图4是表示本专利技术第一实施方式的芯线检测设备中HAF的光栅周期对空孔结构的 依赖性的一例的曲线图。图5A是表示本专利技术第一实施方式的芯线检测设备中HAF的芯直径加(μ m)与光 栅周期(μπι)的关系的曲线图。图5Β是表示本专利技术第一实施方式的芯线检测设备中HAF的相对折射率差Δ ) 与光栅周期(μπι)的关系的曲线图。图6Α是表示本专利技术第一实施方式的芯线检测设备中HAF的标准化空孔直径d/加 与光栅周期(μπι)的关系的曲线图。图6Β是表示本专利技术的第一实施方式中的芯线检测设备中标准化空孔直径d/加与 光栅周期(μπι)的关系的曲线图。图6C是表示本专利技术第一实施方式的芯线检测设备中标准化空孔直径d/加与光栅 周期(μπι)的关系的曲线图。图6D是表示本专利技术第一实施方式的芯线检测设备中标准化空孔直径d/加与光栅 周期(μπι)的关系的曲线图。图7是表示通过本专利技术第一实施方式的芯线检测设备所具备的光栅形成器具来 赋予应力的部位与折射率变化量的关系的图。图8是表示本专利技术第一实施方式的芯线检测设备的、HAF的标准化空孔位置c/加与光栅周期的关系的曲线图。图9A是用于说明本专利技术第一实施方式的芯线检测设备所具备的光栅形成器具的 其他示例的俯视图。图9B是用于说明本专利技术的第一实施方式中的芯线检测设备所具备的光栅形成器 具的其他示例的侧视图。图9C是表示在本专利技术第一实施方式的芯线检测设备所具备的光栅形成器具的其 他示例中,光纤的设置角度为0度时的光纤位置与折射率变化量的关系的图。图9D是表示在本专利技术第一实施方式的芯线检测设备所具备的光栅形成器具的其 他示例中,光纤的设置角度为θ时的光纤位置与折射率变化量的关系的图。图9Ε是表示利用本专利技术第一实施方式的芯线检测设备所具备的光栅形成器具的 其他示例进行芯线检测的流程图。图10是表示在本专利技术第一实施方式的芯线检测设备所具备的光栅形成器具的其 他示例的情况下波长与损耗谱的关系的曲线图。图11是表示本专利技术第一实施方式的芯线检测设备进行光栅形成时的载荷F与漏 光功率的关系的曲线图。图12Α是表示在本专利技术第二实施方式的芯线检测设备中,具备一个光纤弯曲赋予 机构时的图。图12Β是表示在本专利技术第二实施方式的芯线检测设备中,具备二个光纤弯曲赋予 机构时的图。图12C是表示利用本专利技术第二实施方式的芯线检测设备进行芯线检测的流程图。图13Α是表示在本专利技术第二实施方式的芯线检测设备所具备的光纤弯曲赋予机 构的情况下弯曲半径(mm)与弯曲损耗(dB)的关系的图。图1 是表示在本专利技术第二实施方式的芯线检测设备所具备的光纤弯曲赋予机 构的情况下弯曲半径(mm)与漏光功率(dBm)的关系的图。图14是示意地表示本专利技术第三实施方式的芯线检测设备的图。图15是表示在本专利技术第三实施方式的芯线检测设备中,光栅形成时的漏光功率 及插入损耗的曲线图。具体实施例方式以下,通过各实施方式对本专利技术的芯线检测设备的最优方式进行详细说明。参照图IA至图1C、图2A及图2B对本专利技术芯线检测设备及方法的第一实施方式进 行说明。在本实施方式中,对适用于弯曲损耗特性得到改善的光纤的情况进行说明。图IA及图IB是用于说明本专利技术第1实施方式的芯线检测设备的图。图IA示出 其概略,图IB是表示通过芯线检测设备所具备的光栅形成器具来赋予应力的部位与折射 率变化量的关系的图。另外,在图IA中,λ 1表示光纤本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.芯线检测设备,其特征在于,包括:光栅形成装置,通过多个突起部对光纤施加载荷来形成光栅;以及受光装置,检测由所述光栅发生的漏光。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:松井隆
申请(专利权)人:日本电信电话株式会社
类型:发明
国别省市:JP

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