一种双能探测器及平面探测器制造技术

本实用新型专利技术公开了一种双能探测器及平面探测器；上述双能探测器包括：第一闪烁体、第一光电二极管阵列、滤波器、第二光电二极管阵列以及第二闪烁体；其中，第一闪烁体、滤波器以及第二闪烁体沿射线入射方向依次设置；第一闪烁体的出光面和第二闪烁体的出光面平行于射线入射方向，且第一闪烁体的出光面和第二闪烁体的出光面面向同一侧；第一光电二极管阵列耦合第一闪烁体的出光面，第二光电二极管阵列耦合第二闪烁体的出光面。

A Dual-energy Detector and Planar Detector

【技术实现步骤摘要】
一种双能探测器及平面探测器
本申请涉及但不限于射线检测
，尤指一种双能探测器及平面探测器。
技术介绍
电离辐射产生的射线(X射线或伽玛射线，以下简称射线)穿过被照射物体后，因物体吸收部分射线能量引起射线能谱变化，通过检测射线能谱可以分辨出被照射物体。传统的双能探测器包括高低两个探测器，低能探测器布置在靠近被照射物体的一侧，主要吸收射线能谱中的低能部分，高能探测器部署在低能探测器后面，主要吸收射线能谱中的高能部分。双能探测器可以应用于安检及其他对被检测物体的材质辨识准确度要求比较高的检测领域。
技术实现思路
本技术提供了一种双能探测器及平面探测器，可以提高物质分辨准确度。一方面，本申请实施例提供了一种双能探测器，包括：第一闪烁体、第一光电二极管阵列、滤波器、第二光电二极管阵列以及第二闪烁体；其中，第一闪烁体、滤波器以及第二闪烁体沿射线入射方向依次设置；第一闪烁体的出光面和第二闪烁体的出光面平行于射线入射方向，且第一闪烁体的出光面和第二闪烁体的出光面面向同一侧；第一光电二极管阵列耦合第一闪烁体的出光面，第二光电二极管阵列耦合第二闪烁体的出光面。另一方面，本申请实施例提供一种平面探测器，包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双能探测器，其特征在于，包括：第一闪烁体、第一光电二极管阵列、滤波器、第二光电二极管阵列以及第二闪烁体；其中，所述第一闪烁体、所述滤波器以及所述第二闪烁体沿射线入射方向依次设置；所述第一闪烁体的出光面和所述第二闪烁体的出光面平行于所述射线入射方向，且所述第一闪烁体的出光面和所述第二闪烁体的出光面面向同一侧；所述第一光电二极管阵列耦合所述第一闪烁体的出光面，所述第二光电二极管阵列耦合所述第二闪烁体的出光面。

【技术特征摘要】
1.一种双能探测器，其特征在于，包括：第一闪烁体、第一光电二极管阵列、滤波器、第二光电二极管阵列以及第二闪烁体；其中，所述第一闪烁体、所述滤波器以及所述第二闪烁体沿射线入射方向依次设置；所述第一闪烁体的出光面和所述第二闪烁体的出光面平行于所述射线入射方向，且所述第一闪烁体的出光面和所述第二闪烁体的出光面面向同一侧；所述第一光电二极管阵列耦合所述第一闪烁体的出光面，所述第二光电二极管阵列耦合所述第二闪烁体的出光面。2.根据权利要求1所述的双能探测器，其特征在于，所述第二闪烁体吸收的射线光子能量大于所述第一闪烁体吸收的射线光子能量。3.根据权利要求1所述的双能探测器，其特征在于，所述第二闪烁体的出光面大于或等于所述第一闪烁体的出光面。4.根据权利要求1所述的双能探测器，其特征在于，所述第二光电二极管阵列的尺寸大于或等于所述第一光电二极管阵列的尺寸。5.根据权利要求1所述的双能探测器，其特征在于，所述第二闪烁体为长方体；或者，所述第二闪烁体沿射线入射方向上的横截面为六边形，所述六边形包括一个长方...

【专利技术属性】
技术研发人员：李碧丹，王维宴，
申请(专利权)人：地太科特电子制造北京有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11