一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具制造技术

本实用新型专利技术提供一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具，片式元器件具有两端电极，包括上屏蔽金属盖、下屏蔽金属盖、上绝缘块、下绝缘块、上电极探针、下电极探针、上引线和下引线，上屏蔽金属盖可盖紧在下屏蔽金属盖上，上、下绝缘块分别设置在上、下屏蔽金属盖内，上、下电极探针相对布置，上电极探针设置在上绝缘块内且其下端可向上收缩，下电极探针固定设置在下绝缘块内，上、下引线分别与上电极探针上端、下电极探针下端连接，下电极探针顶部与下绝缘块之间形成有放置片式元器件的凹槽，上屏蔽金属盖盖紧在下屏蔽金属盖上后，片式元器件的两端电极分别与上、下电极探针接触。本实用新型专利技术操作简便，片式元器件不易掉落，提高测试效率和准确度。

A Fixture for Insulation Resistance Testing of Chip Components

【技术实现步骤摘要】
一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具
本技术涉及一种片式元器件绝缘电阻测试的夹具。
技术介绍
微波单层电容器在质量一致性检验过程中，需要对产品进行绝缘电阻的试验，此试验可以检查出产品在制造过程中是否有缺陷。在现有的测试方式中，通常采用水平式探针夹具，存在电容器的安装不方便、电容器表面金层被划伤或电容器在测试过程中掉落的缺陷，从而导致测试效率低、测试准确率低。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术的不足，提出一种片式元器件绝缘电阻测试的夹具，操作简便，片式元器件不易掉落，对片式元器件无损伤，能够提高测试效率和准确度。本技术通过以下技术方案实现：一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具，片式元器件具有两端电极，包括上屏蔽金属盖、下屏蔽金属盖、上绝缘块、下绝缘块、上电极探针、下电极探针、上引线和下引线，上屏蔽金属盖可盖紧在下屏蔽金属盖上，上、下绝缘块分别设置在上、下屏蔽金属盖内，上、下电极探针相对布置，上电极探针设置在上绝缘块内且其下端可向上收缩，下电极探针固定设置在下绝缘块内，上、下引线分别与上电极探针上端、下电极探针下端连接，下电极探针顶部与下绝缘块之间形成有放置片式元器件的凹槽，上屏蔽金属盖盖紧在下屏蔽金属盖上后，片式元器件的两端电极分别与上、下电极探针接触。进一步的，所述上、下电极探针均包括针管和设置在针管一端的针头，下绝缘块上设置有用于安装所述下电极探针的第一下安装孔，第一下安装孔包括相互连通的一段孔和二段孔，下电极探针的针头直径小于一段孔直径且大于二段孔直径，所述凹槽由下电极探针针头与一段孔形成。进一步的，所述上电极探针为弹簧探针。进一步的，所述片式元器件包括微波单层电容器。进一步的，所述下绝缘块呈“T”字型，所述上绝缘块下端设置有与“T”字上部匹配的安装槽，所述上、下屏蔽金属盖上分别设置有用于安装上、下绝缘块的第二上安装孔和第二上安装孔。进一步的，所述上绝缘块上设置有用于安装所述上电极探针的第一上安装孔。进一步的，所述上屏蔽金属盖上设置有让位孔，所述下屏蔽金属盖上设置有与让位孔对应的螺孔，螺栓穿过让位孔后锁紧在螺孔中，以使上屏蔽金属盖盖紧在下屏蔽金属盖上。本技术具有如下有益效果：1、测试时，将上、下电极探针分别设置在上、下绝缘块内，再分别将上、下绝缘块设置在上、下屏蔽金属盖内，片式元器件放置在凹槽内以防止片式元器件掉出，再将上屏蔽金属盖盖紧在下屏蔽金属盖上，此时上电极探针下端向上收缩以将片式元器件下压在下电极探针上，保证片式元器件的两端电极分别与上、下电极探针的良好接触，将上引线和下引线连接至绝缘电阻测试仪表即可进行测试，测试过程中，片式元器件的两端电极与上、下电极探针能够保持良好的接触，从而提高测试的准确度，测试完成后，拆开上、下屏蔽金属盖即可去除片式元器件，测试过程中对片式元器件无损伤，且操作简便，测试效率高，可重复使用，可测试的片式元器件的尺寸从0.1mm*0.1mm*0.05mm到6mm*6mm*3mm，通用性强。2、下安装孔的结构设置与下电极探针相适应，既能方便下电极探针的安装，又能使下电极探针与一段孔形成凹槽以放置片式元器件，既使片式元器件不易掉落，又保证良好的接触性。3、上、下绝缘块的结构设置更加便于安装，从而提高测试效率。附图说明下面结合附图对本技术做进一步详细说明。图1为本技术的剖视结构示意图。图2为图1的爆炸图。图3为图1中A部分的放大图。其中，1、片式元器件；2、上屏蔽金属盖；21、第二上安装孔；22、让位孔；3、下屏蔽金属盖；31、第二下安装孔；32、螺孔；33、螺栓；4、上绝缘块；41、第一上安装孔；42、安装槽；5、下绝缘块；51、第一下安装孔；52、一段孔；53、二段孔；6、上电极探针；7、下电极探针；8、上引线；9、下引线；101、针管；102、针头；11、凹槽。具体实施方式如图1至图3所示，片式元器件1具有两端电极，用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具包括上屏蔽金属盖2、下屏蔽金属盖3、上绝缘块4、下绝缘块5、上电极探针6、下电极探针7、上引线8和下引线9，上屏蔽金属盖2可盖紧在下屏蔽金属盖3上，也可从下屏蔽金属盖3上拆除，上绝缘块4和下绝缘块5分别设置在上屏蔽金属盖2和下屏蔽金属盖3内，上电极探针6和下电极探针7相对布置，上电极探针6设置在上绝缘块4内且其下端可向上收缩，下电极探针7固定设置在下绝缘块5内，上、下引线9分别与上电极探针6上端、下电极探针7下端连接，下电极探针7顶部与下绝缘块5之间形成有放置片式元器件1的凹槽11，上屏蔽金属盖2盖紧在下屏蔽金属盖3上后，片式元器件1的两端电极分别与上电极探针6和下电极探针7接触。在本实施例中，片式元器件1为微波单层电容器，上电极探针6为弹簧探针，下电极探针7为无伸缩性的探针。上屏蔽金属盖2左右两端均设置有让位孔22，下屏蔽金属盖3上设置有与让位孔22对应的螺孔32，上屏蔽金属盖2通过与螺孔32匹配的螺栓33盖紧在下屏蔽金属盖3上，盖紧时，螺栓33穿过让位孔22后锁紧在螺孔32中。上绝缘块4和下绝缘块5均由上矩形块和下矩形块构成，上绝缘块4的下矩形块长度略小于上矩形块长度，下绝缘块5的上、下矩形块呈“T”字型，上绝缘块4的下矩形块下端设置有与“T”字上部(即下绝缘块5的上矩形块)匹配的安装槽42，上屏蔽金属盖2和下屏蔽金属盖3上分别设置有用于安装上绝缘块4和下绝缘块5的第二上安装孔21和第二下安装孔31。上电极探针6和下电极探针7均包括针管101和设置在针管101一端的针头102，上电极探针6的针管101内设置有弹簧，以使针头102可上相收缩，其中，针头102与针管101的结构为现有技术。上绝缘块4上设置有用于安装上电极探针6的第一上安装孔41，具体地，第一安装孔形状为矩形，且设置在上矩形块上。下绝缘块5上设置有用于安装下电极探针7的第一下安装孔51，第一下安装孔51包括相互连通的一段孔52和二段孔53，下电极探针7的针头102直径小于一段孔52直径且大于二段孔53直径，如此该针头102与一段孔52即可形成放置片式元器件1的凹槽11。上电极探针6和下电极探针7的针管101分别通过焊接方式固定在第一上安装孔41和第一下安装孔51的二段孔53内。以上所述，仅为本技术的较佳实施例而已，故不能以此限定本技术实施的范围，即依本技术申请专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本技术专利涵盖的范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具，片式元器件具有两端电极，其特征在于：包括上屏蔽金属盖、下屏蔽金属盖、上绝缘块、下绝缘块、上电极探针、下电极探针、上引线和下引线，上屏蔽金属盖可盖紧在下屏蔽金属盖上，上、下绝缘块分别设置在上、下屏蔽金属盖内，上、下电极探针相对布置，上电极探针设置在上绝缘块内且其下端可向上收缩，下电极探针固定设置在下绝缘块内，上、下引线分别与上电极探针上端、下电极探针下端连接，下电极探针顶部与下绝缘块之间形成有放置片式元器件的凹槽，上屏蔽金属盖盖紧在下屏蔽金属盖上后，片式元器件的两端电极分别与上、下电极探针接触。

【技术特征摘要】
1.一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具，片式元器件具有两端电极，其特征在于：包括上屏蔽金属盖、下屏蔽金属盖、上绝缘块、下绝缘块、上电极探针、下电极探针、上引线和下引线，上屏蔽金属盖可盖紧在下屏蔽金属盖上，上、下绝缘块分别设置在上、下屏蔽金属盖内，上、下电极探针相对布置，上电极探针设置在上绝缘块内且其下端可向上收缩，下电极探针固定设置在下绝缘块内，上、下引线分别与上电极探针上端、下电极探针下端连接，下电极探针顶部与下绝缘块之间形成有放置片式元器件的凹槽，上屏蔽金属盖盖紧在下屏蔽金属盖上后，片式元器件的两端电极分别与上、下电极探针接触。2.根据权利要求1所述的一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具，其特征在于：所述上、下电极探针均包括针管和设置在针管一端的针头，下绝缘块上设置有用于安装所述下电极探针的第一下安装孔，第一下安装孔包括相互连通的一段孔和二段孔，下电极探针的针头直径小于一段孔直径且大于二段孔直径，所述凹槽由下电极探针针...

【专利技术属性】
技术研发人员：张烽，丁烨，朱敏蔚，
申请(专利权)人：福建毫米电子有限公司，
类型：新型
国别省市：福建,35