【技术实现步骤摘要】
一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法
本专利技术属于光纤传像材料性能检测
，特别是涉及一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法。
技术介绍
当前，超二代和三代微光夜视技术向4G技术发展，要求光谱响应波长向长波和短波方向延伸、成像质量因子超过1800、高于57lp/mm的成像分辨率和更高的成像分辨力。光纤间的杂光串扰是恶化成像清晰度，降低对比度的主要因素。如何表征光纤传像元件中杂光串扰性能就成为一个重要的问题。目前与光串扰性能评价相关的表征方法是刀口响应值，通过测量光线经光纤传像材料透过刀口的光亮度。该方法仍是目前国内光纤传像元件制造者普遍采用的表征光串扰性能的指标。对于杂光串扰性能的表征，国内外还没有统一标准。用刀口响应值表征光串扰性能从检测的角度来看存在三个明显的不足：一是测量值不准确，测试条件与实际使用环境不一致，制样复杂且制样对测量结果影响较大，从而导致检测结果的稳定性或者说可靠性存在问题，往往一个样品的刀口响应值多次检测量的结果存在较大的差异，最大偏差可超到50％。其二是该方法不具有普适性。对于光纤传像元件在测试厚度上有范围要求，不能直接...
【技术保护点】
1.一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法，其特征在于，包括：S1、在测量模板两侧分别设置光源和待测光纤传像元件，使所述待测光纤传像元件的第一表面与所述测量模板紧密贴合；所述测量模板由第一区域和第二区域组成；所述第一区域的透过率小于所述第二区域的透过率，两者的透过率之差大于90％；S2、在避光环境内，所述光源射出的光线依次经所述测量模板和所述待测光纤传像元件后，使所述测量模板上与所述待测光纤传像元件重合的第一区域和第二区域在所述待测光纤传像元件的第二表面形成图像；所述第二表面为所述待测光纤传像元件的与所述第一表面相背的表面；S3、采集所述的图像，对所述图像进行处理，得...
【技术特征摘要】
1.一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法，其特征在于，包括：S1、在测量模板两侧分别设置光源和待测光纤传像元件，使所述待测光纤传像元件的第一表面与所述测量模板紧密贴合；所述测量模板由第一区域和第二区域组成；所述第一区域的透过率小于所述第二区域的透过率，两者的透过率之差大于90％；S2、在避光环境内，所述光源射出的光线依次经所述测量模板和所述待测光纤传像元件后，使所述测量模板上与所述待测光纤传像元件重合的第一区域和第二区域在所述待测光纤传像元件的第二表面形成图像；所述第二表面为所述待测光纤传像元件的与所述第一表面相背的表面；S3、采集所述的图像，对所述图像进行处理，得到所述图像上对应每个像素点的灰度值；S4、对所述灰度值进行归一化处理，得到任一位置点的归一化透过率值，并用得到的归一化透过率值来表征光纤传像元件上任一位置点的杂光串扰性能。2.根据权利要求1所述的光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法，其特征在于，在步骤S2中，所述的使所述测量模板上与所述待测光纤传像元件重合的第一区域和第二区域在所述待测光纤传像元件的第二表面形成图像，包括：选取所述待测光纤传像元件的第二表面上的任一点作为测量点，移动所述待测光纤传像元件或所述测量模板，使所述测量点位于所述第一区域和所述第二区域的交界线上，在所述待测光纤传像元件的第二表面上得到相应的第一图像和第二图像，其中所述第一图像与所述第一区域对应，所述第二图像与所述第二区域对应。3.根据权利要求2所述的光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法，其特征在于，在步骤S4中，所述归一化处理包括：选取包含所述测量点的测量范围，计算出所述测量范围内与所述交界线的平行方向上的平均灰度值，然后选择其中的最大平均灰度值和最小平均灰度值，进行归一化计算，得到所述测量范围内任一位置点的归一...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄永刚，王云，赵冉，石攀，贾金升，
申请(专利权)人：中国建筑材料科学研究总院有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11
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