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本发明是关于一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法，其包括：S1、在测量模板两侧分别设置光源和待测光纤传像元件，使待测光纤传像元件的第一表面与测量模板紧密贴合；S2、在避光环境内，光源射出的光线依次经测量模板和待测光纤传像元件后，使测...
该专利属于中国建筑材料科学研究总院有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国建筑材料科学研究总院有限公司授权不得商用。

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