【技术实现步骤摘要】
一种可提升氧化炉炉口硅片氧化膜厚均匀性的装置
本技术涉及电子半导体工艺生产专用装备领域,具体为一种可提升氧化炉炉口硅片氧化膜厚均匀性的装置。
技术介绍
在电子半导体集成电路工艺中,氧化是必不可少的一项工艺技术。自从早期人们发现硼、磷、砷、锑等杂质元素在SiO2的扩散速度比Si中的扩散速度慢得多,SiO2膜就被大量用在器件生产中作为选择扩散的掩模,并促进了硅平面工艺的出现。同时在Si表面生长的SiO2膜不但能与Si有着良好的附着性,而且具有非常稳定的化学性质和电绝缘性能,因此SiO2膜在集成电路中起着极其重要的作用。SiO2膜常用于表面钝化、掺杂阻挡层、表面绝缘体、器件绝缘体、缓冲层、隔离层等。在半导体器件的生产中常采用的SiO2膜生产方法有热生长法、化学气相沉积法、阴极溅射法、真空蒸发法、外延生产法等。选择何种方法来生长SiO2膜与器件的性能有很大的关系,其中,目前最为普遍的方法是采用热生长法,由氧化炉实现SiO2膜的生长。氧化炉制备SiO2膜的过程是Si的一个表面过程,即在氧化炉反应管的高温环境中放入Si,再通入工艺气体O2,与Si原子反应在表面进行反应生产Si ...
【技术保护点】
1.一种可提升氧化炉炉口硅片氧化膜厚均匀性的装置,包括石英炉门(1)和连接着石英炉门(1)用于硅片氧化的石英管(2),其特征在于:位于所述石英管(2)管口位置分别设有石英管测压口(4)和补气进气口(5),所述石英管测压口(4)和补气进气口(5)之间连接有进量控制系统(6);所述进量控制系统(6)包括压力控制仪(7)和流量控制阀(8),所述石英管测压口(4)实时监测氧化炉反应中石英管(2)管口的压力,并通过所述压力控制仪(7)结合流量控制阀(8)对所述补气进气口(5)补气进气量进行实时控制。
【技术特征摘要】
1.一种可提升氧化炉炉口硅片氧化膜厚均匀性的装置,包括石英炉门(1)和连接着石英炉门(1)用于硅片氧化的石英管(2),其特征在于:位于所述石英管(2)管口位置分别设有石英管测压口(4)和补气进气口(5),所述石英管测压口(4)和补气进气口(5)之间连接有进量控制系统(6);所述进量控制系统(6)包括压力控制仪(7)和流量控制阀(8),所述石英管测压口(4)实时监测氧化炉反应中石英管(2)管口的压力,并通过所述压力控制仪(7)结合流量控制阀(8)对所述补气进气口(5)补气进气量进行实时控制。2.根据权利要求1所述的一种可提升氧化炉炉口硅片氧...
【专利技术属性】
技术研发人员:田杰成,陈益民,
申请(专利权)人:湖南艾科威智能装备有限公司,
类型:新型
国别省市:湖南,43
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