测量装置制造方法及图纸

技术编号:21663221 阅读:24 留言:0更新日期:2019-07-20 06:48
本实用新型专利技术提供一种测量装置,用于测量阶梯工件的阶梯的高度。该测量装置包括:底座,包括沿第一方向相继分布的第一主体部和第二主体部,在第二方向上第一主体部至少部分凸出第二主体部形成凸缘,其中,第一方向与第二方向垂直;测量仪,设置于凸缘,测量仪包括表盘和与表盘连接的、沿第一方向延伸且可沿第一方向伸缩的测量杆。本实施例中,测量待测阶梯工件阶梯高度时,将第二主体部的远离第一主体部的端面与待测阶梯工件的一个阶梯面接触,测量杆的自由端与待测阶梯工件的另一个阶梯面接触,可以直接利用测量出待测阶梯工件的阶梯高度或判定阶梯的高度是否满足设计需求,而不用借助其他辅助工具,操作方便,测量准确,避免了累积误差。

Measuring device

【技术实现步骤摘要】
测量装置
本技术属于测量
,尤其涉及一种用于测量阶梯工件的阶梯高度的测量装置。
技术介绍
对于具有阶梯形状的阶梯工件的阶梯高度的测量,使用常规的工具不易直接测量,通常需要多种工具的配合来进行测量,不仅不易操作,且测量的尺寸会有累积公差。因此,亟需一种可以直接测量阶梯工件的阶梯高度的测量装置。
技术实现思路
本技术实施例提供了一种测量装置,用于测量阶梯工件的阶梯的高度,旨在直接测量阶梯工件的阶梯高度,减小测量误差。本技术一实施例提供一种测量装置,用于测量阶梯工件的阶梯的高度,包括:底座,包括沿第一方向相继分布的第一主体部和第二主体部,在第二方向上第一主体部至少部分凸出第二主体部形成凸缘,其中,第一方向与第二方向垂直;测量仪,设置于凸缘,测量仪包括表盘和与表盘连接的、沿第一方向延伸且可沿第一方向伸缩的测量杆。根据本技术的一个方面,在凸缘上沿第一方向设置有第一通孔;测量仪还包括与测量杆同轴设置的套筒,套筒套设在测量杆且与表盘连接,测量杆能够沿套筒伸缩;其中,套筒贯穿第一通孔,且固定在第一通孔内。根据本技术的一个方面,在凸缘的外侧壁沿第二方向设置有螺纹孔,螺纹孔与第一通孔连通;通过与螺纹孔相匹配的螺钉将套筒固定在第一通孔内,以使测量仪可拆卸连接于凸缘。根据本技术的一个方面,套筒通过焊接物或胶水固定在第一通孔内,以使测量仪固定连接于凸缘。根据本技术的一个方面,测量装置还包括固定组件,测量仪通过固定组件固定在凸缘的外侧面。根据本技术的一个方面,第二主体部远离第一主体部的端面能够抵靠待测阶梯工件的具有高度差的两个台阶面中的一个,且与该台阶面贴合,测量杆的自由端能够抵靠另一个台阶面。根据本技术的一个方面,测量杆的自由端相对于第二主体部远离第一主体部的端面的初始位具有预设高度。根据本技术的一个方面,第一主体部和第二主体部均为圆柱体,第一主体部与第二主体部同轴设置;测量仪为千分表或百分表。根据本技术的一个方面,第二主体部远离第一主体部的端面与第一主体部之间的距离可调节。根据本技术的一个方面,第一主体部与第二主体部可拆卸连接;第二主体部具有多个,多个第二主体部形状相异以与不同形状的待测阶梯工件相匹配。在本技术实施例中,测量仪设置于底座的第一主体部凸出第二主体部的凸缘上,且测量仪的测量杆沿第一方向延伸且可沿第一方向伸缩,利用该测量装置对待测阶梯工件的阶梯高度进行测量时,将第二主体部的远离第一主体部的端面与待测阶梯工件的一个阶梯面接触,测量杆的自由端与待测阶梯工件的另一个阶梯面接触,可以直接利用该测量装置测量出待测阶梯工件的阶梯高度或判定阶梯的高度是否满足设计需求,而不用借助其他辅助工具,操作方便,测量准确,避免了累积误差。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案,下面将对本技术实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面所描述的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术实施例的一种测量装置的结构示意图;图2是本技术实施例的一种待测阶梯工件的结构示意图;图3是本技术实施例的一种测量装置测量待测阶梯工件的结构示意图;图4是本技术实施例的图3的A部放大示意图。附图标记说明:11、第一主体部;12、第二主体部;111、凸缘;112、第一通孔;113、螺纹孔;121、底端;21、表盘;22、测量杆;23、套筒;4、待测阶梯工件;41、第一台阶面;42、第二台阶面。具体实施方式下面将详细描述本技术的各个方面的特征和示例性实施例。在下面的详细描述中,提出了许多具体细节,以便提供对本技术的全面理解。但是,对于本领域技术人员来说很明显的是,本技术可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本技术的示例来提供对本技术的更好的理解。在附图和下面的描述中,至少部分的公知结构和技术没有被示出,以便避免对本技术造成不必要的模糊;并且,为了清晰,可能夸大了部分结构的尺寸。此外,下文中所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。下述描述中出现的方位词均为图中示出的方向,并不是对本技术的实施例的具体结构进行限定。在本技术的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是直接相连,也可以间接相连。对于本领域的普通技术人员而言,可视具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。为了更好的理解本技术,下面结合图1-4对本技术的测量装置进行详细描述。图1为本技术实施例提供的一种测量装置的结构示意图;图2为本技术实施例提供的一种待测阶梯工件的结构示意图;图3为本技术实施例提供的一种测量装置测量待测阶梯工件的结构示意图;图4为本技术实施例提供的一种测量装置测量待测阶梯工件的A部放大示意图。本技术实施例的测量装置包括底座和测量仪。底座包括沿第一方向(图示竖直方向)相继分布的第一主体部11和第二主体部12,在第二方向(图示水平方向)上第一主体部11至少部分凸出第二主体部12形成凸缘111,其中,第一方向与第二方向垂直。测量仪包括表盘21和与表盘21连接的、沿第一方向延伸且可沿第一方向伸缩的测量杆22。该测量仪设置于凸缘111上。利用该测量仪对待测阶梯工件进行测量,例如对如图2所示的待测阶梯工件4进行测量,该待测阶梯工件4包括第一台阶面41和第二台阶面42,其具体测量方式可以有多种,以待测阶梯工件4的台阶高度满足10mm±0.02为合格工件为例进行说明。第一种测量方式为,在测量前,可以将测量仪的测量杆22的自由端相对底座的第二主体部12的远离第一主体部11的端面的距离调节为a,其中a≤10mm,也即测量杆22与第二主体部12的底端121的初始位的预设高度为a,将此时表盘21的读数也调为a,这样,在测量时,如图3、图4所示,测量装置的底座的第二主体部12的底端121抵靠待测阶梯工件4的一个测量面,如图示第一阶梯面41,测量杆22的自由端抵靠待测阶梯工件4的另一个测量面如图示第二阶梯面42,则此时,测量仪的表盘21的读数即为待测阶梯工件4的阶梯高度值。第二种测量方式为,在测量前,可以将测量杆22的自由端调整为与第二主体部12的底端121齐平,也即测量杆22与第二主体部12的底端121的初始位的预设高度a=0,将此时表盘21的读数调节为0,也即测量杆22的自由端与第二主体部12的底端121的初始位齐平,初始值设为0,这样,在测量时,将第二主体部12的底端121抵靠待测阶梯工件4的一个测量面,测量杆22的自由端抵靠待测阶梯工件4的另一个测量面,则此时,表盘21的读数即为待测阶梯工件4的阶梯高度值。第三种测量方式为,在测量前,可以将测量杆22的自由端与第二主体部12的底端121的距离调节为标准高度差,也即测量杆22与第二主体部12的底端121的初始位的预设高度a=10mm,而将此时表盘21的读数调为0,这样,在测量时,将第二主体部12的底端121抵靠待测阶梯工本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量装置,用于测量阶梯工件的阶梯的高度,其特征在于,包括:底座,包括沿第一方向相继分布的第一主体部和第二主体部,在第二方向上所述第一主体部至少部分凸出所述第二主体部形成凸缘,其中,所述第一方向与所述第二方向垂直;测量仪,设置于所述凸缘,所述测量仪包括表盘和与所述表盘连接的、沿所述第一方向延伸且可沿所述第一方向伸缩的测量杆。

【技术特征摘要】
1.一种测量装置,用于测量阶梯工件的阶梯的高度,其特征在于,包括:底座,包括沿第一方向相继分布的第一主体部和第二主体部,在第二方向上所述第一主体部至少部分凸出所述第二主体部形成凸缘,其中,所述第一方向与所述第二方向垂直;测量仪,设置于所述凸缘,所述测量仪包括表盘和与所述表盘连接的、沿所述第一方向延伸且可沿所述第一方向伸缩的测量杆。2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,在所述凸缘上沿所述第一方向设置有第一通孔;所述测量仪还包括与所述测量杆同轴设置的套筒,所述套筒套设在所述测量杆且与所述表盘连接,所述测量杆能够沿所述套筒伸缩;其中,所述套筒贯穿所述第一通孔,且固定在所述第一通孔内。3.根据权利要求2所述的测量装置,其特征在于,在所述凸缘的外侧壁沿所述第二方向设置有螺纹孔,所述螺纹孔与所述第一通孔连通;通过与所述螺纹孔相匹配的螺钉将所述套筒固定在所述第一通孔内,以使所述测量仪可拆卸连接于所述凸缘。4.根据权利要求2所述的测量装置,其特征在于,所述套筒通过焊接物或胶水固定在所述第一通孔内,以使所述测量仪固定连...

【专利技术属性】
技术研发人员:闫晓刚刘立波刘晓飞
申请(专利权)人:北京天智航医疗科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:北京,11

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