一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法技术

一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，S1：将N个元器件串联，N为大于等于2的正整数；S2：测试N个元器件的串联电压为V1；S3：N个元器件正常电压范围(Vmin Vmax），且Vmin小于Vmax；如果V1小于Vmin，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于Vmax，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于或等于Vmin，且V1小于或等于Vmax，则串联的N个元器件均合格；能够快速检测串联或并联的多个元器件电连接后的串联电压或并联电流是否合格，提高多元器件经过电连接后的测试效率。

A Fast Testing Method for Judging the Qualification of Electrical Connections of Multivariate Devices

【技术实现步骤摘要】
一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法
本专利技术涉及一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法。
技术介绍
对于电连接的多元器件测试，采用常规的单个元器件测试效率很低且无必要，在将多个元器件电连接前就进行了单个元器件测试；电连接的多元器件由于连接加工工艺差异，使多个元器件串联的电压并不一定等于单个元器件电压之和，多个并联的元器件电流之和并不等于单个元器件电流之和；这种实际串联电压与理论串联电压的误差太大会影响该串联的多个元器件的组合使用寿命；所述实际并联的电流之和与理论电流之和之间的误差会影响并联元器件的使用寿命。
技术实现思路
为解决多元器件电连接对使用寿命造成不良影响的问题，本专利技术提出一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法。本专利技术的技术方案为：一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，S1：将N个元器件串联，N为大于等于2的正整数；S2：测试N个元器件的串联电压为V1；S3：N个元器件正常电压范围(VminVmax），且Vmin小于Vmax；如果V1小于Vmin，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于Vmax，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于或等于Vmin，且V1小于或等于Vmax，则串联的N个元器件均合格。进一步的，当如果V1小于Vmin或者V1大于Vmax，还包括，S4：将上述N个元器件按串联顺序分成两组分别为：N1个元器件和N2个元器件，即N1+N2=N；所述N1个元器件串联测试电压为V2，N1个元器件正常电压范围为（Vmin1Vmax2），如果V2小于Vmin1，则N1个串联的元器件不合格；如果V2大于Vmax2，则N1个串联的元器件不合格；如果V2大于或等于Vmin1，且V2小于或等于Vmax2，则则N1个串联的元器件合格；所述N2个元器件串联测试电压为V3，N2个元器件正常电压范围为（Vmin3Vmax4），如果V3小于Vmin3，则N2个串联的元器件不合格；如果V3大于Vmax4，则N2个串联的元器件不合格；如果V3大于或等于Vmin3，且V3小于或等于Vmax4，则N2个串联的元器件合格。进一步的，串联的N个元器件为电参数要求一致的元器件，即每个元器件电压范围均要求为（VaVb），Va小于Vb；则N*Va=Vmin，N*Vb=Vmax。进一步的，所述多元器件为多个LED灯珠；所述N大于等于5，且N小于等于15。进一步的，当串联的N个元器件不合格，N1和N2均合格时，需要将串联的N1个元器件和串联的N2个元器件分开使用，对于串联的N个元器件不可分拆时，则判定串联的N个元器件不合格。一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，S1：将M个元器件并联，M为大于等于2的正整数；S2：测试M个元器件的并联电流为I1；S3：M个元器件正常电流范围（IminImax），且Imin小于Imax；如果I1小于Imin，则并联的M个元器件均不合格；如果I1大于Imax，则并联的M个元器件均不合格；如果I1大于或等于Imin，且I1小于或等于Imax，则并联的M个元器件均合格。进一步的，S4：将上述M个元器件分成两组分别为：M1个元器件和M2个元器件，即M1+M2=M；所述M1个元器件并联测试电流为I2，M1个元器件正常电流范围为（Imin1Imax2），如果I2小于Imin1，则M1个并联的元器件不合格；如果I2大于Imax2，则M1个并联的元器件不合格；如果I2大于或等于Imin1，且I2小于或等于Imax2，则则M1个并联的元器件合格；所述M2个元器件并联测试电流为I3，M2个元器件正常电流范围为（Imin3Imax4），如果I3小于Imin3，则M2个并联的元器件不合格；如果I3大于Imax4，则M2个并联的元器件不合格；如果I3大于或等于Imin3，且I3小于或等于Imax4，则M2个并联的元器件合格。进一步的，并联的M个元器件为电参数要求一致的元器件，即每个元器件电流范围均要求为（IaIb），Ia小于Ib；则M*Ia=Imin，M*Ib=Imax。进一步的，所述多元器件为多个LED灯珠；所述M大于等于5，且M小于等于15。进一步的，当M1和M2均合格时，需要将并联的M1个元器件和并联的M2个元器件分开使用，对于并联的M个元器件不可分拆时，则判定并联的M个元器件不合格。本专利技术的有益效果在于：能够快速检测串联或并联的多个元器件电连接后的串联电压或并联电流是否合格，提高多元器件经过电连接后的测试效率。附图说明图1为多个串联的元器件示意图；图2为多个并联的元器件示意图。具体实施方式为便于本领域技术人员理解本专利技术的技术方案，下面将本专利技术的技术方案结合具体实施例作进一步详细的说明。实施例一对于现在的汽车车灯，由于采用了多个LED灯珠串联的结构，在单颗灯珠满足电参数要求的前提下，串联后的灯珠并不一定能够满足设定的使用要求，故需要采用特殊的测试方法快速判断串联的LED灯珠是否合格。如图1所示，一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，S1：将N个元器件串联，N为大于等于2的正整数；S2：测试N个元器件的串联电压为V1；按照电路基本知识可知，串联电路的总电压为各串联元器件电压之和，然而由于需要保证各串联元器件正常工作需要保证各串联元器件具有合理电压，即单个元器件电压在（VminVmax）范围内；S3：N个元器件正常电压范围（VminVmax），且Vmin小于Vmax；如果V1小于Vmin，则串联的N个元器件均不合格，快速判断N个元器件整体是否合格，如果不合格，选择将整个串联的N个元器件放弃；如果V1大于Vmax，则串联的N个元器件均不合格，快速判断N个串联的元器件不合格，提高测试效率；如果V1大于或等于Vmin，且V1小于或等于Vmax，则串联的N个元器件均合格；由于单个元器件生产好后会进行单独检测，此时再结合串联的N个元器件整体满足电压要求，故判断该串联的N个元器件电压参数合格；采用上述方法快速判断多个串联的元器件是否满足电参数要求，便于判断多个元器件串联组装的成品是否满足电参数要求；同时，通过比较V1与Vmin的偏差，以及V1与Vmax偏差能够反馈出将N个元器件串联的生产工艺是否能够满足要求，从而改善工艺提高N个元器件串联生产工艺的合格率。如1所示，所述快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，还包括S4：将上述N个元器件串联顺序分成两组分别为：N1个元器件和N2个元器件，即N1+N2=N；所述N1个元器件串联测试电压为V2，N1个元器件正常电压范围为（Vmin1Vmax2），如果V2小于Vmin1，则N1个串联的元器件不合格；如果V2大于Vmax2，则N1个串联的元器件不合格；如果V2大于或等于Vmin1，且V2小于或等于Vmax2，则则N1个串联的元器件合格；所述N2个元器件串联测试电压为V3，N2个元器件正常电压范围为（Vmin3Vmax4），如果V3小于Vmin3，则N2个串联的元器件不合格；如果V3大于Vmax4，则N2个串联的元器件不合格；如果V3大于或等于Vmin3，且V3小于或等于Vmax4，则N2个串联的元器件合格；即，当N个串联的元器件不合格时，通过进一步分组为N1和N2，可能出现有四种情况，N1不合格且N2不合格，则选择判定串联的N个元器件均本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，其特征在于：S1：将N个元器件串联，N为大于等于2的正整数；S2：测试N个元器件的串联电压为V1；S3：N个元器件正常电压范围(Vmin Vmax），且Vmin小于Vmax；如果V1小于Vmin，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于Vmax，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于或等于Vmin，且V1小于或等于Vmax，则串联的N个元器件均合格。

【技术特征摘要】
1.一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，其特征在于：S1：将N个元器件串联，N为大于等于2的正整数；S2：测试N个元器件的串联电压为V1；S3：N个元器件正常电压范围(VminVmax），且Vmin小于Vmax；如果V1小于Vmin，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于Vmax，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于或等于Vmin，且V1小于或等于Vmax，则串联的N个元器件均合格。2.根据权利要求1所述的快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，其特征在于：当如果V1小于Vmin或者V1大于Vmax，还包括，S4：将上述N个元器件按串联顺序分成两组分别为：N1个元器件和N2个元器件，即N1+N2=N；所述N1个元器件串联测试电压为V2，N1个元器件正常电压范围为（Vmin1Vmax2），如果V2小于Vmin1，则N1个串联的元器件不合格；如果V2大于Vmax2，则N1个串联的元器件不合格；如果V2大于或等于Vmin1，且V2小于或等于Vmax2，则则N1个串联的元器件合格；所述N2个元器件串联测试电压为V3，N2个元器件正常电压范围为（Vmin3Vmax4），如果V3小于Vmin3，则N2个串联的元器件不合格；如果V3大于Vmax4，则N2个串联的元器件不合格；如果V3大于或等于Vmin3，且V3小于或等于Vmax4，则N2个串联的元器件合格。3.根据权利要求1所述的快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，其特征在于：串联的N个元器件为电参数要求一致的元器件，即每个元器件电压范围均要求为（VaVb），Va小于Vb；则N*Va=Vmin，N*Vb=Vmax。4.根据权利要求1所述的快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，其特征在于：所述多元器件为多个LED灯珠；所述N大于等于5，且N小于等于15。5.根据权利要求2所述的快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，其特征在于：当串联的N个元器件不合格时，N1和N2均合格时，需要将串联的N1个元器件和串联的N2个元器件分开使用，对于串联的N...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘振辉，王业文，王胜利，
申请(专利权)人：深圳市矽电半导体设备有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44