【技术实现步骤摘要】
用于动态眼压测量的光学光栅柔性传感器及其制造方法
本专利技术属于动态眼压测量领域,涉及一种基于光学光栅的软性角膜接触镜,更具体地,涉及一种用于动态眼压测量的光学光栅柔性传感器及其制造方法。
技术介绍
眼压升高并伴随有眼压波动引起的视神经损害称之为青光眼,它是全球第一位不可逆性致盲眼病,对人体健康危害很大,其导致视神经的缓慢的不可逆损坏,在发病早期很难检测到。眼压升高并不是青光眼损害的唯一因素,病理性的眼压波动同样在青光眼发展中扮演重要角色,而且表现更为隐蔽。人在一天中眼压的波动难以控制,因此,关注眼压的绝对值升高和眼压的24小时波动,二者相比,后者更为重要。目前,临床用来检测眼压24小时波动的方法通常采用每2小时测量一次,这种以12个检测点表征24小时的方法不足以充分反映眼压波动的全过程。此外,测量常常需要坐位进行,因此,无法获悉患者在自然生活状态下的真实情况,如:睡眠,运动等。因此,有必要对24小时眼压检测技术进行更多的研究。现有24小时眼压波动监测技术,包括侵入式测量方法和非侵入式测量方法;侵入式测量是将传感器直接置入眼内,眼压变化导致“LC-谐振回路”电容极片距离变化,由外界接收器捕获整体电路共振频率,反映眼压变化与波动。侵入式测量法虽然可以直接进行测量,但是会对眼球造成不可恢复的损害,通常只用于危重青光眼病人,对普通人群的眼压测量是不适用的。与侵入式测量方法相比,非侵入式测量方法是通过测量角膜在压力变化下的形变来测量眼压,它能够克服侵入式测量法的缺陷。CN102098956A公开了一种传感器角膜接触镜及测量方法,在角膜接触镜上制备多组电极,测量电极 ...
【技术保护点】
1.一种用于动态眼压测量的光学光栅柔性传感器的制造方法,其特征在于,包括如下制造步骤:(1)光刻步骤:首先在硅衬底上旋涂厚度为30nm~15μm的光刻胶,再对光刻胶进行光刻曝光,显影、定影后在硅衬底上得到由剩余光刻胶形成的线宽为30nm~15μm的微纳米尺寸图纹;(2)干法刻蚀步骤:以剩余光刻胶做掩膜,利用干法刻蚀硅衬底,在其上得到深度为30nm~15μm,线宽为30nm~15μm的微纳米尺寸图纹;(3)压印步骤:清洗除去硅衬底上剩余光刻胶,得到具有微纳米尺寸图纹的硅凹模,以其作为模板,利用压印将所述硅凹模的图纹复制到树脂片;(4)微电铸步骤:在所述树脂片上喷银,然后进行微电铸,将树脂片上的图纹复制在镍片上,得到多个厚度为0.04mm~0.15mm的镍凹模,所述镍凹模上具有深度为30nm~15μm、线宽为30nm~15μm的微纳米尺寸图纹;(5)模压成型步骤:将制造隐形眼镜的液态原料或固态毛坯注入镍凹模进行铸压,批量得到具有深度为30nm~15μm、线宽为30nm~15μm的用于动态眼压测量的光学光栅柔性传感器。
【技术特征摘要】
1.一种用于动态眼压测量的光学光栅柔性传感器的制造方法,其特征在于,包括如下制造步骤:(1)光刻步骤:首先在硅衬底上旋涂厚度为30nm~15μm的光刻胶,再对光刻胶进行光刻曝光,显影、定影后在硅衬底上得到由剩余光刻胶形成的线宽为30nm~15μm的微纳米尺寸图纹;(2)干法刻蚀步骤:以剩余光刻胶做掩膜,利用干法刻蚀硅衬底,在其上得到深度为30nm~15μm,线宽为30nm~15μm的微纳米尺寸图纹;(3)压印步骤:清洗除去硅衬底上剩余光刻胶,得到具有微纳米尺寸图纹的硅凹模,以其作为模板,利用压印将所述硅凹模的图纹复制到树脂片;(4)微电铸步骤:在所述树脂片上喷银,然后进行微电铸,将树脂片上的图纹复制在镍片上,得到多个厚度为0.04mm~0.15mm的镍凹模,所述镍凹模上具有深度为30nm~15μm、线宽为30nm~15μm的微纳米尺寸图纹;(5)模压成型步骤:将制造隐形眼镜的液态原料或固态毛坯注入镍凹模进行铸压,批量得到具有深度为30nm~15μm、线宽为30nm~15μm的用于动态眼压测量的光学光栅柔性传感器。2.如权利要求1所述的一种用于动态眼压测量的光学光栅柔性传感器的制造方法,其特征在于,光学光栅的参数Q包括Λ、W、M、H、D、α:对于平行条纹光栅或环形条纹光栅:Λ-周期、W-线条顶部线宽、M-线条底部线宽、H-槽深、D-槽的底部宽度、α侧壁角,W≤M,Λ=M+D,0°<α≤90°;对于柱状阵列光栅:Λ-周期、W-柱状线条顶部线宽、M-柱状线条底部线宽、H-柱高、D-邻柱底部间距、α侧壁角,W≤M,Λ=M+D,0°<α≤90°;光学光栅的参数Q按照如下设计步骤确定:S1、按照如下设计目标选取多组光学光栅的参数Q的解:1)在给定的入射光下,观察到的衍射光谱信号呈高斯形;2)在给定的入射光下,观察到的衍射光谱信号只存在零级反射和衍射,或只存在其他指定级次的反射和衍射;S2、对步骤S1获得的多组解分别进行蒙特卡洛模拟,在同样误差条件下,选择包络线内整体光谱曲线最多的一组解作为Q的最优解,即光学光栅的制造参数;以及,对最优解中的各个参数进行灵敏度分析,所述的灵敏度是指光栅衍射光谱特性对各个参数的变化率,光栅衍射光谱特性对某个参数的变化率越大则该参数的灵敏度越高;在权利要求1所述的制造步骤中,按照步骤S2确定的最优解制备硅凹模,并在制备过程中按照步骤S2确定的灵敏度顺序,优先保证灵敏度高的制造参数的精度。3.如权利要求2所述的制造方法,其特征在于,步骤S1中,先初筛出x组Q的解,或初步给出Q的取值范围,然后对初筛出的x组解或Q的取值范围进行数值优化计算,在给定的设计目标内找到多组解{Q},使得在某个波段内,满足设计目标,所述数值优化计算的方法为遗传算法、总极值法、最小二乘法或平方根法。4.如权利要求2所述的制造方法,其特征在于,步骤S1中,将光栅截面视为任意面型,对于任意面型的光栅结构进行建模时,首先对光栅截面进行分层,并将每一层的光栅面型近似为矩形面型,然后采用严格耦合波分析法、有限元法、边界元法或有限时域差分法对各层矩形面型分别建模计算,最后通过电磁场边界条件将各层的计算结果进行关联,并对影响衍射特性的参数进行数值优化计算,在给定的设计目标内找到Q的多组解。5.如权利要求2~4任意一项所述的制造方法,其特征在于,所述蒙特卡洛模拟的步骤如下:对于从Q的多组解中选取的某个解{Q}={Λ,W,M,H,D,α},根据衍射光谱计算函数,模拟Λ、W、M、H、D、α的各项误差,产生服从误...
【专利技术属性】
技术研发人员:李晓平,夏金松,史铁林,张虹,李贵刚,汤自荣,赵英俊,
申请(专利权)人:华中科技大学,
类型:发明
国别省市:湖北,42
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