一种FINAT残余接着率测试方法技术

本发明专利技术公开一种FINAT残余接着率测试方法，包括如下步骤：截取胶带以及涂硅离型膜，取胶带A、胶带B，以及涂硅离型膜C，同时取空白PET膜D、空白PET膜E；将胶带A粘附在涂硅离型膜C的表面，并用不锈钢条在烘箱中压20小时后，取出并在室温下静置1小时；将胶带A与涂硅离型膜C分离，然后将胶带A粘在空白PET膜D的表面，1.5小时后，将采用离型力测试机进行测试，记拉伸角度为180度时的拉力F1；将胶带B粘附在空白PET膜E的表面，1.5小时后，将采用离型力测试机进行测试，记拉伸角度为180度时的拉力F2；计算残余接着率。本发明专利技术通过将胶带与涂硅离型膜黏贴处理后，将胶带与空白PET膜做拉升测试，从而计算出FINAT残余接着率，测试结果准确，且测试方法方便快捷。

A Method for Measuring Residual Succession Rate of FINAT

【技术实现步骤摘要】
一种FINAT残余接着率测试方法
本专利技术涉及离型膜生产
，具体为一种FINAT残余接着率测试方法。
技术介绍
离型膜又称剥离膜、隔离膜、分离膜、硅油膜、防粘膜，是指表面具有分离性的薄膜，是将塑料薄膜做等离子处理，或涂氟处理，或涂硅离型剂于薄膜材质的表层上，如PET、PE、OPP等等，让它对于各种不同的有机压感胶可以表现出极轻且稳定的离型力，主要有基材，底胶和离型剂组成，在离型纸与离型膜的结构中，硅酮是重要的功能组分，起着与压敏胶分离的作用，而通过残余接着力的测试可以准确反映出硅酮离型材料表面对粘合剂的影响。传统的测试方法在进行测试时，步骤繁多，且测试结果准确性较差。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种FINAT残余接着率测试方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种FINAT残余接着率测试方法，包括如下步骤：步骤S1：截取胶带以及涂硅离型膜，取胶带A、胶带B，以及涂硅离型膜C，同时取空白PET膜D、空白PET膜E；步骤S2：将胶带A粘附在涂硅离型膜C的表面，并用不锈钢条在烘箱中压20小时后，取出并在室温下静置1小时；步骤S3：将胶带A与涂硅离型膜C分离，然后将胶带A粘附在空白PET膜D的表面，1.5小时后，将采用离型力测试机进行测试，并记拉伸角度为180度时的拉力F1；步骤S4：将胶带B粘附在空白PET膜E的表面，1.5小时后，将采用离型力测试机进行测试，并记拉伸角度为180度时的拉力F2；步骤S5：计算残余接着率F1/F2*100％。优选的，步骤S1中所截取的胶带A、胶带B，以及涂硅离型膜C、空白PET膜D、空白PET膜E的长度、宽度均相等，且胶带A、胶带B为同一型号，空白PET膜D、空白PET膜E的厚度相同。优选的，步骤S2中烘箱的温度为70℃。优选的，步骤S2中不锈钢条对胶带A施加作用力的标准为20g/cm2。优选的，步骤S3以及步骤S4采用离型力测试机进行测试时，测试的拉伸速度均控制在0.3m/min。优选的，步骤1中截取多组材料，并均执行步骤S2、步骤S3、以及步骤S4，在步骤S5进行计算时，取多组材料的F1以及F2的平均值进行计算。优选的，所截取的多组材料的长宽均相等。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：通过截取两段胶带，将其中一一段胶带贴于涂硅离型膜表面，经过处理后，将胶带撕下后与空白PET膜黏贴，并通过离型力测试机进行测试，而另一段胶带直接与空白PET膜黏贴进行测试，取两次的测试数据进行计算，从而得出残余接着率，测试结果准确，且测试方法方便快捷，同时，可去多组材料进行测试，从而分别得出两组测试数据的平均值，最后得出残余接着率，使得测试结果更准确。附图说明图1为一种FINAT残余接着率测试方法的流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1，本专利技术提供一种技术方案：一种FINAT残余接着率测试方法，截取胶带以及涂硅离型膜，取胶带A、胶带B，以及涂硅离型膜C，同时取空白PET膜D、空白PET膜E，将胶带A粘附在涂硅离型膜C的表面，并用不锈钢条在烘箱中压20小时后，取出并在室温下静置1小时，将胶带A与涂硅离型膜C分离，然后将胶带A粘附在空白PET膜D的表面，1.5小时后，将采用离型力测试机进行测试，并记拉伸角度为180度时的拉力F1，将胶带B粘附在空白PET膜E的表面，1.5小时后，将采用离型力测试机进行测试，并记拉伸角度为180度时的拉力F2，计算残余接着率F1/F2*100％，在测试过程中，所截取的胶带A、胶带B，以及涂硅离型膜C、空白PET膜D、空白PET膜E的长度、宽度均相等，且胶带A、胶带B为同一型号，空白PET膜D、空白PET膜E的厚度相同，控制影响测试结果的因素，从而确保测试结果的准确性；其中，烘箱的温度为70℃且不锈钢条对胶带A施加作用力的标准为20g/cm2，而采用离型力测试机进行测试时，测试的拉伸速度均控制在0.3m/min，在进行测试时，可同时截取多组材料，并均执行步骤S2、步骤S3、以及步骤S4，在步骤S5进行计算时，取多组材料的F1以及F2的平均值进行计算，多度材料同时进行测试，最终通过计算平均值，并且所截取的多组材料的长宽均相等，有效的减少材料的长度、宽度对测试结果的影响，保证测试结果的准确性。需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。尽管已经示出和描述了本专利技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本专利技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本专利技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种FINAT残余接着率测试方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤S1：截取胶带以及涂硅离型膜，取胶带A、胶带B，以及涂硅离型膜C，同时取空白PET膜D、空白PET膜E；步骤S2：将胶带A粘附在涂硅离型膜C的表面，并用不锈钢条在烘箱中压20小时后，取出并在室温下静置1小时；步骤S3：将胶带A与涂硅离型膜C分离，然后将胶带A粘附在空白PET膜D的表面，1.5小时后，将采用离型力测试机进行测试，并记拉伸角度为180度时的拉力F1；步骤S4：将胶带B粘附在空白PET膜E的表面，1.5小时后，将采用离型力测试机进行测试，并记拉伸角度为180度时的拉力F2；步骤S5：计算残余接着率F1/F2*100％。

【技术特征摘要】
1.一种FINAT残余接着率测试方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤S1：截取胶带以及涂硅离型膜，取胶带A、胶带B，以及涂硅离型膜C，同时取空白PET膜D、空白PET膜E；步骤S2：将胶带A粘附在涂硅离型膜C的表面，并用不锈钢条在烘箱中压20小时后，取出并在室温下静置1小时；步骤S3：将胶带A与涂硅离型膜C分离，然后将胶带A粘附在空白PET膜D的表面，1.5小时后，将采用离型力测试机进行测试，并记拉伸角度为180度时的拉力F1；步骤S4：将胶带B粘附在空白PET膜E的表面，1.5小时后，将采用离型力测试机进行测试，并记拉伸角度为180度时的拉力F2；步骤S5：计算残余接着率F1/F2*100％。2.根据权利要求1所述的一种FINAT残余接着率测试方法，其特征在于：步骤S1中所截取的胶带A、胶带B，以及涂硅离型膜C、空白PET膜D、空白PET膜E的长度、宽...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘勇雄，
申请(专利权)人：深圳市普利司德高分子材料有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44