【技术实现步骤摘要】
一种循环加热合成大颗粒SiC粉料的方法
本专利技术涉及一种循环加热合成大颗粒SiC粉料的方法,属于晶体生长
技术介绍
碳化硅(SiC)半导体又称宽禁带半导体或第三代半导体,与第一代半导体硅(Si)和第二代半导体砷化镓(GaAs)相比,其具有硬度高(仅次于金刚石)、热导率高(4.9W/cm·K)、热膨胀系数低(3.1~4.5×10-6/K)、禁带宽度大(2.40~3.26eV)、饱和电子漂移速度高(2.0~2.5×107cm/s),临界击穿场强大(2~3×106V/cm)、化学稳定性高、抗辐射能力强等优异性能。这些优异的性能使SiC半导体器件能在高温、高压、强辐射的极端环境下工作,在电力电子和微波通信领域具有广阔的应用前景,并对未来半导体产业的发展产生重要影响。生长SiC单晶的主要方法包括物理气相传输法、高温化学气相沉积法、液相法。其中,物理气相传输法(PhysicalVaporTransport-PVT)是目前生长SiC晶体的主流方法,即将SiC籽晶粘接在石墨坩埚盖上,石墨坩埚内装有作为生长原料的SiC多晶粉料,生长过程中籽晶温度控制在2100℃到220 ...
【技术保护点】
1.一种大颗粒SiC粉料的制备方法,是在单晶生长炉中采用循环加热法制备所述的SiC粉料,包括:‑在放置于炉室内的第一坩埚内设置有第二坩埚,该第二坩埚与第一坩埚呈间隔关系;在第二坩埚内提供高纯硅粉和高纯碳粉的混合料;‑炉室内抽真空,感应加热所述坩埚提供合成温度环境;a.开始升温至1400‑1600℃,通入氩气,使炉腔压力达750‑850mbar,保温1.5‑2.5小时;再升温至1700‑1900℃,保温4‑6小时;b.继续升温至2000‑2150℃,保持压力750~850mbar,保温1.5‑2.5小时,然后降温至1700‑1900℃,压力降至90‑120mbar,保温1.5 ...
【技术特征摘要】
1.一种大颗粒SiC粉料的制备方法,是在单晶生长炉中采用循环加热法制备所述的SiC粉料,包括:-在放置于炉室内的第一坩埚内设置有第二坩埚,该第二坩埚与第一坩埚呈间隔关系;在第二坩埚内提供高纯硅粉和高纯碳粉的混合料;-炉室内抽真空,感应加热所述坩埚提供合成温度环境;a.开始升温至1400-1600℃,通入氩气,使炉腔压力达750-850mbar,保温1.5-2.5小时;再升温至1700-1900℃,保温4-6小时;b.继续升温至2000-2150℃,保持压力750~850mbar,保温1.5-2.5小时,然后降温至1700-1900℃,压力降至90-120mbar,保温1.5-2.5小时;重复b.所述的升温、降温步骤若干次,经循环加热实现SiC颗粒的长大;-合成结束,通入氩气使炉腔压力升至900-1100mbar,缓慢降至室温,得大颗粒SiC粉料。2.如权利要求1所述的大颗粒SiC粉料的制备方法,其特征在于,所述高纯硅粉和高纯碳粉的纯度均大于99%;所述高纯硅粉的粒径为20-200μm;所述高纯碳粉的...
【专利技术属性】
技术研发人员:胡小波,彭燕,徐现刚,王垚浩,于国建,陈秀芳,杨祥龙,徐南,
申请(专利权)人:广州南砂晶圆半导体技术有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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