基于双DMD的single-shot叠层相位恢复技术制造技术

一种基于双DMD的single‑shot叠层相位恢复技术，属于相位恢复成像领域。本发明专利技术解决了传统叠层相位恢复技术需要扫描物体的问题。本发明专利技术首先在样品之前放置两个DMD；然后配合开关这两个DMD上的微镜并利用准直相干光照明，当两个DMD对应的微镜都是开状态时光经过全开微镜反射在物体上，被探测器接收；再次，联合更换双DMD微镜的开关状态，照明样品不同的部位被探测器接收；最后通过相位恢复算法恢复样品的复振幅。本发明专利技术可以无需机械扫描实现叠层相位恢复。

【技术实现步骤摘要】
基于双DMD的single-shot叠层相位恢复技术
基于双DMD的single-shot叠层相位恢复技术属于叠层相位恢复成像领域，是一种计算图像重建技术。
技术介绍
叠层相位恢复作为一种图像重建技术被广泛应用于生物、材料等各种领域，该技术可以从频谱强度中恢复出物体的复振幅，而且实验设备简单，很多时候不需要透镜，因此没有像差，但是该技术需要扫描物体以解决恢复物体尺寸较小的问题，但是这种方法会降低系统的时间分辨率并且扫描精度严重影响恢复质量。
技术实现思路
本专利技术公开了一种基于双DMD的single-shot叠层相位恢复技术，该技术通过使用双DMD扫描物体解决机械扫描精度差及速度低的问题，并且利用single-shot技术提高系统的时间分辨率。本专利技术的目的是这样实现的：基于双DMD的single-shot叠层相位恢复技术，包括以下步骤：步骤a、首先根据图1所示搭建实验设备；步骤b、激光照射在DMD1上，其中一部分DMD1上的微镜为开状态并且转动一定角度，DMD2上对应的微镜转动相应的角度保证出射到物体的激光为准直的，并用探测器接收；步骤c、改变DMD1和2上不同微镜的开关状态及转动本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于双DMD的single‑shot叠层相位恢复技术，其特征在于，包括以下步骤：步骤a、首先根据图1所示搭建实验设备；步骤b、激光照射在DMD1上，其中一部分DMD1上的微镜为开状态并且转动一定角度，DMD2上对应的微镜转动相应的角度保证出射到物体的激光为准直的，并用探测器接收；步骤c、改变DMD1和2上不同微镜的开关状态及转动角度，照射物体不同部分，利用探测器接收；步骤d、使用传统的相位恢复算法恢复出物体的复振幅。

【技术特征摘要】
1.一种基于双DMD的single-shot叠层相位恢复技术，其特征在于，包括以下步骤：步骤a、首先根据图1所示搭建实验设备；步骤b、激光照射在DMD1上，其中一部分DMD1上的微镜为开状态并且转动一定角度，DMD2上对应的微镜转动相应的角度保证出射到物体的激光为准直的，并用探测器接收；步骤c、改变DMD1和2上不同微镜的开关状态及转动角度，照射物体不同部分，利用探测器接收；步骤d、使用传统的相位恢复算法恢复出物体的复振幅。2.根据权利要求1所述的基于双DMD的single-shot叠层相位恢复技术，其特征在于，在传统的相位恢复设备中添加两个...

【专利技术属性】
技术研发人员：王伟波，李勇，刘俭，李季学，刘鹏飞，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：黑龙江,23