The invention proposes a method for testing power-off of storage medium based on Linux system, which includes the following steps: power on the test system, start the operating system, mount the storage medium to be tested, load the test storage medium; randomly select at least one copy of the file stored in the source disk partition to the target disk partition, and disconnect the power supply during the copy process; restart the operation. As a system, check whether the source disk partition is damaged, if not damaged, continue to perform the following steps; read all the files in the source disk partition and the target disk partition, get the same number of files in the source disk partition and the target disk partition, and compare the files if the same number of files is not less than 1.
【技术实现步骤摘要】
一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法
本专利技术涉及存储器测试领域,特别涉及一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法。
技术介绍
NandFlash/eMMC作为一种性能优秀的存储设备,应用在越来越多的产品上。但是越来越多的应用场景给NandFlash/eMMC驱动开发者带来了很多的困难。例如:电视盒子,智能音响,车载中控这些应用场景都是没有电池的,存储设备在异常掉电时候都有一个致命的问题:数据丢失。这样会导致实际产品死机,变砖的情况,给客户带来极大的损失。所以存储介质驱动在产品发布前做大量的测试,其中就有专项的掉电测试。因此需要设计一种测试方法,更接近于实际的应用场景,将存储介质驱动的所有问题暴露出来。现有的技术将eMMC和U盘读卡器相连接,在windows上执行相关的掉电应用程序或基于实际产品,或在android系统下随机掉电,实现掉电功能。然而,现有技术测试环境不能与实际的使用环境相符,表现如下:使用windows加应用程序测试U盘的这种方式,和实际的产品是有很大的差异的,这种方法并不能模拟真实的应用场景。从硬件角度来看,实际的产品中,主控和存储介质无论在通信频率,通信协议,电压,都是有很大的差异的。从软件角度来看,windows加应用程序的数据流,文件操作等行为和实际的产品有很大的差异。使用android系统测试发现问题的概率很低,并没有太强的针对性,测试组合过于复杂,测试场景复杂,如果测试出问题,要解决问题也比较复杂。
技术实现思路
本专利技术针对现有技术测试环境不能与实际的使用环境相符的问题,提出一种基于Linux系统的存储介质掉电测试 ...
【技术保护点】
1.一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法,其特征在于,包括以下步骤:S100)对测试系统通电,启动操作系统,挂载待测试的存储介质,加载测试存储介质;S200)将源盘分区中存储的文件中随机地至少选择一个拷贝到目标盘分区,并在拷贝的过程中断开电源;S300)重新启动操作系统,检查源盘分区是否损坏,若损坏,则结束本步骤,若未损坏,则继续执行以下步骤;S400)读取源盘分区中及目标盘分区中的所有文件,获取源盘分区和目标盘分区中相同的文件数量,若相同的文件数量不小于1,则进行文件对比,否则,结束本步骤。
【技术特征摘要】
1.一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法,其特征在于,包括以下步骤:S100)对测试系统通电,启动操作系统,挂载待测试的存储介质,加载测试存储介质;S200)将源盘分区中存储的文件中随机地至少选择一个拷贝到目标盘分区,并在拷贝的过程中断开电源;S300)重新启动操作系统,检查源盘分区是否损坏,若损坏,则结束本步骤,若未损坏,则继续执行以下步骤;S400)读取源盘分区中及目标盘分区中的所有文件,获取源盘分区和目标盘分区中相同的文件数量,若相同的文件数量不小于1,则进行文件对比,否则,结束本步骤。2.根据权利要求1所述的存储介质掉电测试方法,其特征在于,步骤S100还包括以下前置步骤:S101)将操作系统上将存储器划分为至少两个分区,分别为源盘分区和目标盘分区,其中源盘分区中存储至少一个文件,目标盘分区中不包含任何一个与源分区存储的文件相同的文件。3.根据权利要求2所述的存储介质掉电测试方法,其特征在于,所述源盘分区只能读出数据,所述目标盘分区既能读出数据,也能写入数据。4.根据权利要求1所述的存储介质掉电测试方法,其特征在于,步骤S400还包括以下子步骤:S410A)获取源盘分区和目标盘分区中相同的文件的文件类型;S420A)从源盘分区和目标盘分区中分别选取至少一个相同的文件,并读...
【专利技术属性】
技术研发人员:宋魏杰,
申请(专利权)人:珠海妙存科技有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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