【技术实现步骤摘要】
一种表面瑕疵检测器
本技术涉及检测领域,特别是涉及一种表面瑕疵检测器。
技术介绍
在产品的生产过程中,其表面划痕、凹痕或者凸点的瑕疵是常见的品质不良现象,所以在检验中,要筛选检出不良品;现有技术中,表面检测通常采用CCD检测或者激光检测光源检测,这两种检测方法所使用的设备都结构复杂,造价较高,尤其是CCD检测方法,一个CCD摄像头就造价较高。
技术实现思路
为解决上述的问题,本技术提供了一种表面瑕疵检测器,利用光敏电阻的特性,感应产品表面的光线的变化,判断产品表面瑕疵结果。本技术所采取的技术方案是:一种表面瑕疵检测器,包括检测室和设于检测室内的光敏检测模块;光敏检测模块包括主控芯片、光源单元、光敏电阻传感单元和电压检测单元;光源单元电性连接主控芯片,主控芯片控制光源单元提供光源进行检测。光敏电阻传感单元电性连接主控芯片,主控芯片控制光敏电阻传感单元进行检测,光敏电阻传感单元位于待检测产品的待检测面上并感应待检测产品的待检测面光线变化改变光敏电阻传感单元的电阻值;电压检测单元电性连接光敏电阻传感单元并检测光敏电阻传感单元的电压值,并传输电压值给主控芯片;光源单元的光照射到待 ...
【技术保护点】
1.一种表面瑕疵检测器,其特征在于,包括检测室和设于检测室内的光敏检测模块;光敏检测模块包括主控芯片、光源单元、光敏电阻传感单元和电压检测单元;光源单元电性连接主控芯片;光敏电阻传感单元电性连接主控芯片,光敏电阻传感单元位于产品的待检测面上;电压检测单元电性连接光敏电阻传感单元片。
【技术特征摘要】
1.一种表面瑕疵检测器,其特征在于,包括检测室和设于检测室内的光敏检测模块;光敏检测模块包括主控芯片、光源单元、光敏电阻传感单元和电压检测单元;光源单元电性连接主控芯片;光敏电阻传感单元电性连接主控芯片,光敏电阻传感单元位于产品的待检测面上;电压检测单元电性连接光敏电阻传感单元片。2.根据权利要求1所述的一种表面瑕疵检测器,其特征在于:待检测产品的每个待检测面上都设有光敏检测模块。3.根据权利要求1或2所述的一种表面瑕...
【专利技术属性】
技术研发人员:李川,邓君,孙振忠,李培,陈卫东,廖钊华,王湘,罗海明,张国森,邓凯,
申请(专利权)人:东莞理工学院,
类型:新型
国别省市:广东,44
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