【技术实现步骤摘要】
飞针测试机测试方法、装置、飞针测试机及存储介质
本专利技术涉及飞针测试
，特别是涉及一种飞针测试机测试方法、装置、飞针测试机及存储介质。
技术介绍
多轴飞针测试机是用于测试PCB板的测试设备，由正反两面的四个探针组成，在实际测试中，四个探针在驱动机构的驱动下能够在X-Y轴上独立的移动，待测试的印制电路板(PCB)由夹具夹持在设备的中间，利用驱动电机驱动测试轴移动，实现探针相对印制电路板的三维运动，并且在探针接触到测试点时，电测板卡通过给探针施加一定的电流，得到不同的测试信号，从而判断待测PCB板网络的通断情况。现在电子产品日益向小型化、高集成、高性能的趋势发展，电子元器件的体积也越来越小，密度越来越高。作为元器件互联载体的印制板，其密度和芯片的密度是息息相关的，因此PCB板也朝着高密度，小型化发展。而飞针测试设备刚好具有精度高、不受网格限制、测试灵活、速度快、误报率低等特点被越来越多的印制板厂应用到生产中。目前，在利用飞针测试机进行测试时，通常需要获取固定位置例如PCB板的对位点进行对位，以确定PCB板的位置和方向，然而，选取的对位点是固定的对位点，对位效果...
【技术保护点】
1.一种飞针测试机测试方法，其特征在于，包括以下步骤：接收对PCB板进行测试的测试指令，所述PCB板上包括多个子PCB板，所述PCB板放置在飞针测试机的测试区域；响应所述测试指令，根据所述PCB板中子PCB板的排布信息将所述PCB板划分为多个子区域，其中，所述子区域包括至少两个子PCB板；以子区域作为一个对位单位，确定各个所述子区域中的子PCB板对应的对位点位置信息；根据当前子PCB板的对位点位置信息对所述当前子PCB板进行对位，根据对位结果对所述当前子PCB板进行测试。
【技术特征摘要】
1.一种飞针测试机测试方法，其特征在于，包括以下步骤：接收对PCB板进行测试的测试指令，所述PCB板上包括多个子PCB板，所述PCB板放置在飞针测试机的测试区域；响应所述测试指令，根据所述PCB板中子PCB板的排布信息将所述PCB板划分为多个子区域，其中，所述子区域包括至少两个子PCB板；以子区域作为一个对位单位，确定各个所述子区域中的子PCB板对应的对位点位置信息；根据当前子PCB板的对位点位置信息对所述当前子PCB板进行对位，根据对位结果对所述当前子PCB板进行测试。2.根据权利要求1所述的飞针测试机测试方法，其特征在于，所述根据所述PCB板中子PCB板的排布信息将所述PCB板划分为多个子区域包括：确定所述PCB板中的各个子PCB板的摆放角度；根据所述PCB板中的各个子PCB板的摆放角度将所述PCB板划分为多个子区域，其中，相同摆放角度的子PCB板在不同子区域中；所述以子区域作为一个对位单位，确定各个所述子区域中的子PCB板对应的对位点位置信息包括：对于当前子区域的当前子PCB板，获取前向子区域中与所述当前子PCB板相同摆放角度的前向子PCB板，根据所述前向子PCB板的对位点位置信息确定当前子PCB板中的对位点位置信息。3.根据权利要求2所述的飞针测试机测试方法，其特征在于，所述PCB板中包括按照第一摆放角度排列的第一子PCB板队列以及按照第二摆放角度排列的第二子PCB板队列，所述根据所述PCB板中的各个子PCB板的摆放角度将所述PCB板划分为多个子区域包括：获取所述第一子PCB板队列中的当前第一子PCB板，根据所述当前第一子PCB板的位置从所述第二子PCB板队列中获取当前第二子PCB板，将所述当前第一子PCB板以及所述当前第二子PCB板作为当前子区域中的子PCB板。4.根据权利要求1所述的飞针测试机测试方法，其特征在于，所述多个子区域对应的PCB板布局相同，所述以子区域作为一个对位单位，确定各个所述子PCB板对应的对位点位置信息包括：根据所述测试指令从所述多个PCB板中选取至少一个子区域作为基准子区域；对所述基准子区域的对位点进行检测，确定所述基准子区域的对位点位置信息；根据所述基准子区域的对位点位置信息以及子区域的排布信息确定非基准子区域的对位点位置信息。5.一种飞针测试机测试装置，其特征在于，包括：测试指令接收模块，用于接收对PCB板进行测试的测试指令，所述PCB板上包括多个子PCB板，所述PCB...
【专利技术属性】
技术研发人员：欧阳云轩，王星，翟学涛，杨朝辉，高云峰，
申请(专利权)人：大族激光科技产业集团股份有限公司，深圳市大族数控科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44
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