The utility model discloses a visual inspection device for array LED chips, which comprises a base, a support rod arranged on the base, an elastic depressor arranged on the support rod, an upward elastic recovery direction of the elastic depressor, a conductive pressure pile arranged on the lower surface of the elastic depressor, and a Cobalt Glass shielding lens arranged on the elastic depressor. The supporting rod is rotated to connect at least one auxiliary Cobalt Glass lens. The utility model realizes visual inspection of array packaged LED chips with different power by using elastic depressor and auxiliary Cobalt Glass lenses.
【技术实现步骤摘要】
一种阵列型LED芯片目测用检测装置
本技术涉及目测用检测工装
，尤其涉及一种阵列型LED芯片目测用检测装置。
技术介绍
阵列封装是大功率LED集成芯片常用的一种封装形式，阵列封装的检测相对普通LED芯片的检测中不同之处在于，阵列封装中存在多个LED晶圆，而普通的LED芯片仅一个晶圆，所以普通的LED目测检测中只需要判断亮还是不亮，而阵列封装则需要判断那几个晶圆不亮，而阵列封装的功率一般较大，既是降低功率，也会有很高亮度，且功率降低后对晶圆的时间工作状态也会造成判断误差，现有的工装无法支持检测人员之间用眼睛进行目测检测。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种阵列型LED芯片目测用检测装置，本技术通过弹性下压台配合辅助钴玻璃镜片实现对不同功率的阵列封装LED芯片进行目测检测。为实现上述目的，本技术的技术方案是：本技术的一种阵列型LED芯片目测用检测装置，包括基座，所述的基座上设置有支撑杆，所述支撑杆上设置有弹性下压台，所述的弹性下压台的弹力回复方向向上，所述的弹性下压台的下表面设置有导电压桩，所述的弹性下压台上设置有钴玻璃遮挡镜片，所述的支撑杆上转动连接至少一个辅助钴玻...
【技术保护点】
1.一种阵列型LED芯片目测用检测装置，其特征在于：包括基座(1)，所述的基座(1)上设置有支撑杆(3)，所述支撑杆(3)上设置有弹性下压台(4)，所述的弹性下压台(4)的弹力回复方向向上，所述的弹性下压台(4)的下表面设置有导电压桩(5)，所述的弹性下压台(4)上设置有钴玻璃遮挡镜片(6)，所述的支撑杆(3)上转动连接至少一个辅助钴玻璃镜片(7)。
【技术特征摘要】
1.一种阵列型LED芯片目测用检测装置，其特征在于：包括基座(1)，所述的基座(1)上设置有支撑杆(3)，所述支撑杆(3)上设置有弹性下压台(4)，所述的弹性下压台(4)的弹力回复方向向上，所述的弹性下压台(4)的下表面设置有导电压桩(5)，所述的弹性下压台(4)上设置有钴玻璃遮挡镜片(6)，所述的支撑杆(3)上转动连接至少一个辅助钴玻璃镜片(7)。2.根据权利要求1所述的一种阵列型LED芯片目测用检测装置，其特征在于：所述的基座(1)上设置有芯片固定台(8)，所述的芯片固定台(8)的四角均设置有连接柱(9)，所述的芯片固定台(8)上设置有金属散热部(10)。3.根据权利要求1所述的一种阵列型LED芯片目测用检测装置，其特征在于：所述的基座(1)的底部设置有散热腔(11)，所述的散热腔(11)内设置有散热风扇(12)。4.根据权利要求1所述的一种阵列型LED芯片目测用检测装置，其特征在于：所述的弹性下压台(4)包括固定板(4-1)，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：尚跃，余夕霞，
申请(专利权)人：上海聚跃检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：上海,31
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