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本实用新型公开了一种阵列型LED芯片目测用检测装置，包括基座，所述的基座上设置有支撑杆，所述支撑杆上设置有弹性下压台，所述的弹性下压台的弹力回复方向向上，所述的弹性下压台的下表面设置有导电压桩，所述的弹性下压台上设置有钴玻璃遮挡镜片，所述的...
该专利属于上海聚跃检测技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海聚跃检测技术有限公司授权不得商用。

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