导电装置动态接触电阻测试方法制造方法及图纸

导电装置动态接触电阻测试方法，包括导电装置和动态接触电阻测试仪，在所述导电装置上设有导电环，将导电装置的导电环分成测试组和回路组，工作时接通任一导电环上的继电器进行该环的实际动态接触电阻测试，将另一组所有导电环闭合负责构成该环测试的回路,通过动态接触电阻测试仪进行多次采样，再结合公式

Test Method for Dynamic Contact Resistance of Conductive Devices

The test method of dynamic contact resistance of conductive device includes conductive device and dynamic contact resistance tester. There are conductive rings on the conductive device. The conductive rings of conductive device are divided into test group and loop group. When working, the relay on any conductive ring is connected to test the actual dynamic contact resistance of the ring, and the other group of all conductive rings are closed to form the test of the ring. Loop, through dynamic contact resistance tester for multiple sampling, and then combined with the formula

【技术实现步骤摘要】
导电装置动态接触电阻测试方法
本专利技术涉及导电装置的电气性能参数测试领域，具体涉及导电装置动态接触电阻测试方法。
技术介绍
动态接触电阻目前的测试方法为：首先将导电装置的导电杆引出线两两短接，固定导电装置的电刷架，随后在额定转速下转动导电装置的导电杆，测试相应电刷引出线的接触电阻，计算接触电阻的最大波动值即动态接触电阻。此方法测试动态接触电阻，实际每次测量的是两环接触电阻之和，无法精确到每一环的接触电阻，如果需要测试每一环的动态接触电阻，直接将数表的一端接电刷引出线，另一端接导电杆的引出线，则动态电阻测试过程中，由于导电杆不停的转动，故转动部分的导电杆引出线就会旋转缠绕，严重时造成引线损伤断裂。
技术实现思路
为解决上述现有技术的缺陷，本专利技术提供导电装置动态接触电阻测试方法本专利技术的技术方案是：导电装置动态接触电阻测试方法，利用导电装置和动态接触电阻测试仪进行动态接触电阻测试，所述导电装置包括导电杆和刷架组件，所述导电杆包括滑环，所述滑环连接设有滑环引线，滑环引线均连接在同一个点上，所述刷架组件包括刷丝，所述刷丝连接设有电刷引线，且所述刷丝与滑环连接，在每一电刷引线上接有继电器，电刷引线分为两组，一组沿所述继电器方向的电刷引线并联形成第一测试端点，另一组沿所述继电器方向的电刷引线并联形成第二测试端点，所述第一测试端点和所述第二测试端点分别连接所述动态接触电阻测试仪，电刷引线、刷丝、继电器、滑环及滑环引线组成环；测试导电装置上的任一一环的动态接触电阻时，先接通该环上的继电器，随后闭合另一组导电环上的继电器，通过环上继电器闭合的滑环引线组形成测试回路，在额定转速下转动导电杆，导电杆带动滑环引线组转动；设导电装置共有2n个环，动态接触电阻测试仪对该环的接触电阻进行多次采样，利用下述公式计算动态接触电阻；该环的静态接触电阻为：该环的动态接触电阻为：其中rX为该环的静态电阻，r为另一组上每一环的静态电阻，△rX为该环的动态电阻波动值，△r为另一组上每一环的动态电阻，n为另一组的环数。本专利技术的有益效果：将导电装置的导电环分成测试组和回路组，工作时接通任一导电环上的继电器进行该环的实际动态接触电阻测试，将另一组所有导电环闭合负责构成该环测试的回路,通过动态接触电阻测试仪进行多次采样，再结合公式和可测得该导电环的动态接触电阻，解决了导电装置动态接触电阻无法实现单环测试和测试过程中的线束缠绕问题。附图说明图1为本专利技术10环导电装置动态电阻测试图；图2为本专利技术在测试S1环动态电阻测试图。具体实施方式为使本专利技术要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。本专利技术技术方案如下：导电装置动态接触电阻测试方法，利用导电装置和动态接触电阻测试仪进行动态接触电阻测试，如图1所示，导电装置包括导电杆和刷架组件，导电杆为导电装置转动部分，刷架组件为导电装置固定部分，导电杆包括滑环，滑环连接设有滑环引线，滑环引线均连接在同一个点上，刷架组件包括刷丝，刷丝连接设有电刷引线，且刷丝与滑环连接，在每一电刷引线上接有继电器，电刷引线分为两组，一组沿继电器方向的电刷引线并联形成第一测试端点，另一组沿继电器方向的电刷引线并联形成第二测试端点，第一测试端点和第二测试端点分别连接动态接触电阻测试仪，电刷引线、刷丝、继电器、滑环及滑环引线组成环，一环由一电刷引线、一刷丝、一继电器、一滑环及一滑环引线组成，；测试导电装置上的任一一环的动态接触电阻时，先接通该环上的继电器，随后闭合另一组导电环上的继电器，通过环上继电器闭合的滑环引线组形成测试回路，在额定转速下转动导电杆，导电杆带动滑环引线组转动；设导电装置共有2n个环，动态接触电阻测试仪对该环的接触电阻进行多次采样，利用下述公式计算动态接触电阻；该环的静态接触电阻为：该环的动态接触电阻为：其中rX为该环的静态电阻，r为另一组上每一环的静态电阻，△rX为该环的动态电阻波动值，△r为另一组上每一环的动态电阻，n为另一组的环数。实施例：如图2所示，将10环导电装置上的环分为测试组和回路组，测试组和回路组分别为5个环，在测试组的每一电刷引线上接入环号为S1、S2、S3、S4、S5的继电器，在回路组的每一电刷引线上接入环号为S6、S7、S8、S9、S10的继电器，测试组电刷引线并联连形成第一测试端点，回路组电刷引线并联连形成第二测试端点，第一测试端点和第二测试端点分别连接动态接触电阻测试仪，测试组每一滑环引线和回路组每一滑环引线均并联接在同一个点上。先将导电装置动态电阻切换电路控制测试组上的继电器S1闭合，再将回路组的所有继电器闭合，在额定转速下转动导电杆，导电杆带动测试组滑环引线和回路组滑环引线转动，动态电阻测试仪对导电环的接触电阻进行多次采样，将测量的接触电阻的最大值减去最小值就是第1环的动态电阻波动值，根据公式计算出第1环的动态接触电阻。通过本专利技术测试90环导电装置的动态接触电阻部分实测数据如下表：由于导电装置的动态接触电阻本身较小，再加上导电装置的环数较多，因此故该回路的动态接触电阻按照本专利技术测试方法可实现多个导电环的动态接触电阻测试，将所有导电环分为两组，每一组既可以是测试组也可以是回路组。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例，并非用于限定本专利技术的保护范围。凡在本专利技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本专利技术的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.导电装置动态接触电阻测试方法，利用导电装置和动态接触电阻测试仪进行动态接触电阻测试，其特征在于：所述导电装置包括导电杆和刷架组件，所述导电杆包括滑环，所述滑环连接设有滑环引线，滑环引线均连接在同一个点上，所述刷架组件包括刷丝，所述刷丝连接设有电刷引线，且所述刷丝与滑环连接，在每一电刷引线上接有继电器，电刷引线分为两组，一组沿所述继电器方向的电刷引线并联形成第一测试端点，另一组沿所述继电器方向的电刷引线并联形成第二测试端点，所述第一测试端点和所述第二测试端点分别连接所述动态接触电阻测试仪，电刷引线、刷丝、继电器、滑环及滑环引线组成环；测试导电装置上的任一一环的动态接触电阻时，先接通该环上的继电器，随后闭合另一组导电环上的继电器，通过环上继电器闭合的滑环引线组形成测试回路，在额定转速下转动导电杆，导电杆带动滑环引线组转动；设导电装置共有2n个环，动态接触电阻测试仪对该环的接触电阻进行多次采样，利用下述公式计算动态接触电阻；该环的静态接触电阻为：

【技术特征摘要】
1.导电装置动态接触电阻测试方法，利用导电装置和动态接触电阻测试仪进行动态接触电阻测试，其特征在于：所述导电装置包括导电杆和刷架组件，所述导电杆包括滑环，所述滑环连接设有滑环引线，滑环引线均连接在同一个点上，所述刷架组件包括刷丝，所述刷丝连接设有电刷引线，且所述刷丝与滑环连接，在每一电刷引线上接有继电器，电刷引线分为两组，一组沿所述继电器方向的电刷引线并联形成第一测试端点，另一组沿所述继电器方向的电刷引线并联形成第二测试端点，所述第一测试端点和所述第二测试端点分别连接所述动态接触电阻测试仪，电刷引线、...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭旺，黄静，董宏章，
申请(专利权)人：陕西航天时代导航设备有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西,61