测试装置及其测试电路板制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测试装置，包括至少一测试电路板，每一该测试电路板均具有独立运作能力，且每一该测试电路板包括：一缓冲存储器模块用于自一动态随机存取存储器读取并储存多个测试向量；一存储器接口控制器储存读取指令，以供该缓冲存储器模块读取该些测试向量；一测试向量产生器依据一测试微指令中的存储器位置自该缓冲存储器模块读取该多个测试向量之一，并以该读取的测试向量产生一测试信号；及一传输电路用于发送该测试向量产生器所产生的一测试控制信号，或接收另一测试控制信号并传送至该测试向量产生器。

Testing Device and Its Test Circuit Board

The invention discloses a test device, including at least one test circuit board, each of which has independent operation capability, and each test circuit board includes: a buffer memory module for reading and storing multiple test vectors from a dynamic random access memory; and a memory interface controller for storing reading instructions for the buffer memory module to read the test vectors. Some test vectors; a test vector generator reads one of the test vectors from the buffer memory module according to the memory location in a test microinstruction, and generates a test signal with the read test vectors; and a transmission circuit for transmitting a test control signal generated by the test vector generator, or receiving another test control signal and transmitting it to the test. Vector generator.

【技术实现步骤摘要】
测试装置及其测试电路板
本专利技术是关于一种具有多个测试电路板的测试装置，特别是每一个测试电路板都具有缓冲存储器模块与测试向量产生器，以供个别独立运作并以该多个测试电路板共同完成所有测试项目的测试装置。
技术介绍
现有测试装置的系统架构，通常藉由一个中央控制电路板来控制多个功能电路板。中央通道控制电路板藉由读取该电路板存储器内的测试微指令，依序产生并传送功能电路板的测试图案资料存储器位置至多个功能电路板。随后，每个功能电路板藉由读取该电路板存储器内的测试图案资料，使该电路板的多个通道波形产生器产生测试信号来对测试物进行测试。于上述架构中，现有功能电路板测试装置产生测试信号的运作能力显然会受限于中央控制电路板的效能。详言之，由于中央控制电路板的效能需求必须考虑公用背板的传输线数量、传输线长度及传输速度等因素，故当测试物需要被测试的功能信号增加而需要对应增加更多的功能电路板时，不仅导致现有测试装置需要增加共用背板的插槽数量，更可能因为效能需求而必须更换效能更强大、运作速度更快的中央控制电路板。此外，虽然以单一中央控制电路板来控制所有功能电路板的架构思维较为简单，但会降低整体测试系统的效能本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试装置，其特征在于，包括至少一测试电路板，每一测试电路板均用于连接一动态随机存取存储器，以读取该动态随机存取存储器中的测试向量并产生测试信号，其中每一该测试电路板均具有独立运作能力，且每一该测试电路板包括：一缓冲存储器模块，用于电性连接至该动态随机存取存储器，并用于自该动态随机存取存储器读取并储存多个测试向量；一存储器接口控制器，连接该缓冲存储器模块，且该存储器接口控制器至少储存读取指令，以供该缓冲存储器模块从该动态随机存取存储器读取该些测试向量；一测试向量产生器，连接该缓冲存储器模块，且依据一测试微指令中的存储器位置自该缓冲存储器模块读取该多个测试向量之一，并以该读取的测试向量产生...

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括至少一测试电路板，每一测试电路板均用于连接一动态随机存取存储器，以读取该动态随机存取存储器中的测试向量并产生测试信号，其中每一该测试电路板均具有独立运作能力，且每一该测试电路板包括：一缓冲存储器模块，用于电性连接至该动态随机存取存储器，并用于自该动态随机存取存储器读取并储存多个测试向量；一存储器接口控制器，连接该缓冲存储器模块，且该存储器接口控制器至少储存读取指令，以供该缓冲存储器模块从该动态随机存取存储器读取该些测试向量；一测试向量产生器，连接该缓冲存储器模块，且依据一测试微指令中的存储器位置自该缓冲存储器模块读取该多个测试向量之一，并以该读取的测试向量产生一测试信号；以及一传输电路，连接该测试向量产生器，且该传输电路用于发送该测试向量产生器所产生的一测试控制信号，或用于接收另一测试控制信号并传送至该测试向量产生器。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该测试微指令预先写入于该测试向量产生器中，或者包含于该读取的测试向量中。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，该测试向量产生器包括一测试微指令处理模块及一测试图案资料处理模块，该测试向量另包括一测试图案资料，该测试微指令处理模块执行该测试微指令以读取该缓冲存储器模块中的测试向量并控制该测试图案资料处理模块，...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾瀚升，廖江鹏，
申请(专利权)人：致茂电子苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32