带有辅助加热气体喷流的低温等离子体探针制造技术

本发明专利技术公开了一种低温等离子体探针和质谱系统以及使用低温等离子体探针的方法。在一种实施方式中，该低温等离子体探针包括一个进气毛细管，提供从样品表面到质谱仪的离子流；至少一个低温等离子体管，提供低温等离子体气体；至少一个加热气体管，向样品表面提供加热气体，其中，加热气体增强样品表面的样品的解吸和电离。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】带有辅助加热气体喷流的低温等离子体探针联邦政府资助的研究或开发本专利技术是基于与国土安全部签订的合同HSHQDC-15-C-B0027、在政府支持下完成的。政府对本专利技术享有一定的权利。
技术介绍
质谱仪(MS)在真空条件下工作，并根据质量-电荷比分离离子。在一些使用质谱仪的实施方式中，可以是固体、液体或气体的待测样品被电离，这些离子在质谱分析仪中按质荷比分离，并由一种能够检测带电粒子的装置进行检测。质谱仪检测器发出的信号被处理成离子相对丰度关于质荷比的函数的光谱。通过将测定得到的质量与已知质量相关联或通过特征裂解方式来识别原子或分子。
技术实现思路
本专利技术公开了一种低温等离子体探针和一个质谱系统以及使用低温等离子体探针的方法。在一种实施方式中，低温等离子体探针包括一个进气毛细管，提供从样品表面到质谱仪的离子流；至少一个低温等离子体管，提供低温等离子体气体；至少一个加热气体管，向样品表面提供加热气体，其中，所述加热气体增强样品表面的低温等离子体气体的解吸和样品的电离，还能够引导待测离子进入所述进气毛细管。加热气体管比低温等离子体管更接近所述样品表面，并向所述样品表面提供加热气体，从而增强本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种低温等离子体探针，包括：一个进气毛细管，提供从样品表面到质谱仪的离子流；至少一个低温等离子体管，提供低温等离子体气体；至少一个加热气体管，向样品表面提供加热气体，其中，所述加热气体增强所述样品表面的样品的解吸和电离。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.07.29 US 15/223,2001.一种低温等离子体探针，包括：一个进气毛细管，提供从样品表面到质谱仪的离子流；至少一个低温等离子体管，提供低温等离子体气体；至少一个加热气体管，向样品表面提供加热气体，其中，所述加热气体增强所述样品表面的样品的解吸和电离。2.根据权利要求1所述的低温等离子体探针，其中，所述进气毛细管配置为第一电极。3.根据权利要求1所述的低温等离子体探针，其中，所述至少一个低温等离子体管包括设置在进气毛细管外表面的两根低温等离子体管，其中，低温等离子体管端与所述进气毛细管的入口平齐。4.根据权利要求1所述的低温等离子体探针，其中，所述至少一个低温等离子体管包括一个与所述进气毛细管同心的外管，其中，气体通过所述外管被泵送，所述进气毛细管配置为第一电极，所述外管配置为第二电极。5.根据权利要求4所述的低温等离子体探针，其中，所述至少一个加热气体管与所述外管和所述进气毛细管同心。6.根据权利要求1所述的低温等离子体探针，其中，空气通过所述至少一个低温等离子体管泵送。7.根据权利要求1所述的低温等离子体探针，其中，至少一种掺杂剂通过所述至少一个低温等离子体管泵送。8.根据权利要求1所述的低温等离子体探针，其中，所述至少一个加热气体管包括设置在所述至少一个低温等离子体管外表面上的一个加热气体管，所述一个加热气体管延伸超出低温等离子体的管端和所述进气毛细管的入口，其中，所述低温等离子体管端和所述进气毛细管的所述入口平齐。9.根据权利要求1所述的低温等离子体探针，其中，所述至少一个加热气体管包括设置在所述至少一个低温等离子体管外表面的两个加热气体管，所述两个加热气体管延伸超出低温等离子体管端和所述进气毛细管的入口，其中，所述低温等离子体管端和所述进气毛细管的所述入口平齐。10.根据权利要求1所述的低温等离子体探针，其中，所述至少一个加热气体管包括设置在所述至少一个加热气体管的顶端的切口部分。11.根据权利要求1所述的低温等离子体探针，其中，还包括：一个与所述至少一个加热气体管耦合的加热气体源。12.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：V·贝尔库特，T·D·索尔，
申请(专利权)人：史密斯探测公司，
类型：发明
国别省市：美国,US