一种时序校准方法及芯片测试机技术

本发明专利技术公开了一种时序校准方法及芯片测试机。该方法包括：校准芯片测试机的内部时序；依次调整待测件的每个数据通道对应的时序窗口；根据每个数据通道对应的时序窗口，计算时序校准值，并将时序校准值配置到每个数据通道中。本发明专利技术实施例能够在不增加任何设备的前提下完成对MIPI信号的时序校准，保证MIPI信号的传输速率和稳定性，降低设备的维护和使用成本。

【技术实现步骤摘要】
一种时序校准方法及芯片测试机
本专利技术实施例涉及信号处理
，尤其涉及一种时序校准方法及芯片测试机。
技术介绍
互补金属氧化物半导体传感器(ComplementaryMetalOxideSemiconductorSensor，CMOSSensor)以其高灵敏度、短曝光时间等优点被广泛的作为数码摄影中的图像传感器使用。现有的CMOS传感器芯片在测试时通常是将CMOS传感器芯片转接在芯片测试机上进行测试的，由于测试对CMOS传感器芯片产生的移动行业处理器接口(MobileIndustryProcessorInterface，MIPI)信号的时序有着非常高的要求，因此通常需要使用信号分析仪对MIPI信号的时序进行测量，然后对其进行相应的时序补偿。然而，该方法需要用到信号分析仪，不便于携带使用，并且增加了设备的维护和使用成本。
技术实现思路
本专利技术提供一种时序校准方法及芯片测试机，能够在不增加任何设备的前提下完成对MIPI信号的时序校准，保证MIPI信号的传输速率和稳定性，降低设备的维护和使用成本。第一方面，本专利技术实施例提供了一种时序校准方法，包括：校准芯片测试机的内部时序；依次调整待测件的每个数据通道对应的时序窗口；根据每个数据通道对应的时序窗口，计算时序校准值，并将时序校准值配置到每个数据通道中。可选的，待测件具有n个数据通道，其中，n为正整数；依次调整待测件的每个数据通道对应的时序窗口，具体包括：在待测件的前n-1个数据通道对应的时序窗口调整完成后，配置待测件的前n个数据通道输出测试图像；根据前n-1个数据通道对应的时序窗口，设定前n-1个数据通道的时序参数；调整第n个数据通道的时序，得到第n个数据通道对应的时序窗口。可选的，在配置待测件的前n个数据通道输出测试图像前，还包括：计算第n个数据通道一个延时单位的延时值Tn，以及第n个数据通道的延时总长度Mn，其中，Tn＝T/(Mtn-Mbn)，Mn＝D/Tn；Mbn为校准芯片测试机的内部时序后第n个数据通道的时序调整值，Mtn为校准芯片测试机的内部时序后第n个数据通道经延时T后的时序调整值，D为码元宽度。可选的，调整第n个数据通道的时序，得到第n个数据通道对应的时序窗口，具体包括：在Mbn至Mn+Mbn的范围内调整第n个数据通道的时序；获取测试图像样本，并将测试图像样本与标准图像进行比对得到比对结果；若比对结果的误差率小于或者等于预设值，则得到第n个数据通道对应的时序窗口。可选的，时序校准值为每个数据通道对应的时序窗口的平均值。第二方面，本专利技术实施例提供了一种芯片测试机，包括：校准模块，调整模块，计算模块和配置模块；校准模块，用于校准芯片测试机的内部时序；调整模块，用于依次调整待测件的每个数据通道对应的时序窗口；计算模块，用于根据每个数据通道对应的时序窗口，计算时序校准值；配置模块，用于将时序校准值配置到每个数据通道中。可选的，待测件具有n个数据通道，其中，n为正整数；调整模块，具体用于在待测件的前n-1个数据通道对应的时序窗口调整完成后，配置待测件的前n个数据通道输出测试图像；根据前n-1个数据通道对应的时序窗口，设定前n-1个数据通道的时序参数；调整第n个数据通道的时序，得到第n个数据通道对应的时序窗口。可选的，计算模块，还用于在调整模块配置待测件的前n个数据通道输出测试图像前，计算第n个数据通道一个延时单位的延时值Tn，以及第n个数据通道的延时总长度Mn，其中，Tn＝T/(Mtn-Mbn)，Mn＝D/Tn；Mbn为校准芯片测试机的内部时序后第n个数据通道的时序调整值，Mtn为校准芯片测试机的内部时序后第n个数据通道经延时T后的时序调整值，D为码元宽度。可选的，调整模块，具体用于在Mbn至Mn+Mbn的范围内调整第n个数据通道的时序；获取测试图像样本，并将测试图像样本与标准图像进行比对得到比对结果；若比对结果的误差率小于或者等于预设值，则得到第n个数据通道对应的时序窗口。可选的，时序校准值为每个数据通道对应的时序窗口的平均值。第三方面，本专利技术实施例提供了一种芯片测试机，包括：一个或多个处理器；存储器，用于存储一个或多个程序及图像样本数据；当一个或多个程序被一个或多个处理器执行，使得一个或多个处理器实现如本专利技术实施例第一方面任一的时序校准方法。第四方面，本专利技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如本专利技术实施例第一方面任一的时序校准方法。本专利技术实施例提供了一种时序校准方法及芯片测试机。通过在校准芯片测试机的内部时序后，依次调整芯片测试机的每个数据通道对应的时序窗口，并根据每个数据通道对应的时序窗口，计算时序校准值，将时序校准值配置到每个数据通道中。能够在不增加任何设备的前提下完成对MIPI信号的时序校准，保证MIPI信号的传输速率和稳定性，降低设备的维护和使用成本。附图说明图1是本专利技术实施例提供的一种时序校准方法的流程示意图；图2是本专利技术实施例提供的另一种时序校准方法的流程示意图；图3是本专利技术实施例提供的一种芯片测试机的结构示意图；图4是本专利技术实施例提供的另一种芯片测试机的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。需要说明的是，本专利技术中术语“系统”和“网络”在本文中常被可互换使用。本专利技术实施例中提到的“和/或”是指”包括一个或更多个相关所列项目的任何和所有组合。本专利技术的说明书和权利要求书及附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等是用于区别不同对象，而不是用于限定特定顺序。还需要说明是，本专利技术下述各个实施例可以单独执行，各个实施例之间也可以相互结合执行，本专利技术实施例对此不作具体限制。下面，对时序校准方法、芯片测试机及其技术效果进行详细描述。图1为本专利技术实施例提供的一种时序校准方法的流程示意图，本专利技术实施例公开的方法适用于芯片测试机，该芯片测试机通常为自动化CMOS传感器芯片测试机，如图1所示，该方法可以包括下述步骤：S101、芯片测试机校准芯片测试机的内部时序。可以理解的，在本专利技术实施例提供的时序校准方法开始校准前，首先需要将待测件(CMOS传感器芯片)通过路径转接板接入芯片测试机。其中，待测件可以为移动行业处理器接口D-PHY物理层的相机串行口发送端被测件(MobileIndustryProcessorInterfaceD-PhysicalLayerCameraSerialInterfaceTransmitterDeviceunderTest，MIPID-PHYCSITXDUT)。待测件可以产生移动行业处理器接口D-PHY物理层的相机串行口接收端(MobileIndustryProcessorInterfaceD-PhysicalLayerCameraSerialInterfaceReceiver，MIPID-PHYCSIRX)信号。在将待测件通过路径转接板接入芯片测试机后，芯片测试机还可以配置待测件使其工作在测试模式下，即待测件的所有数据通道可以输出测试图像。S102、芯片测试机依次调整待测件的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种时序校准方法，其特征在于，包括：校准芯片测试机的内部时序；依次调整待测件的每个数据通道对应的时序窗口；根据所述每个数据通道对应的时序窗口，计算时序校准值，并将所述时序校准值配置到所述每个数据通道中。

【技术特征摘要】
1.一种时序校准方法，其特征在于，包括：校准芯片测试机的内部时序；依次调整待测件的每个数据通道对应的时序窗口；根据所述每个数据通道对应的时序窗口，计算时序校准值，并将所述时序校准值配置到所述每个数据通道中。2.根据权利要求1所述的时序校准方法，其特征在于，所述待测件具有n个数据通道，其中，n为正整数；所述依次调整待测件的每个数据通道对应的时序窗口，具体包括：在所述待测件的前n-1个数据通道对应的时序窗口调整完成后，配置所述待测件的前n个数据通道输出测试图像；根据前n-1个数据通道对应的时序窗口，设定前n-1个数据通道的时序参数；调整第n个数据通道的时序，得到第n个数据通道对应的时序窗口。3.根据权利要求2所述的时序校准方法，其特征在于，在配置所述待测件的前n个数据通道输出测试图像前，还包括：计算第n个数据通道一个延时单位的延时值Tn，以及第n个数据通道的延时总长度Mn，其中，Tn＝T/(Mtn-Mbn)，Mn＝D/Tn；Mbn为校准所述芯片测试机的内部时序后第n个数据通道的时序调整值，Mtn为校准所述芯片测试机的内部时序后第n个数据通道经延时T后的时序调整值，D为码元宽度。4.根据权利要求3所述的时序校准方法，其特征在于，所述调整第n个数据通道的时序，得到第n个数据通道对应的时序窗口，具体包括：在Mbn至Mn+Mbn的范围内调整第n个数据通道的时序；获取测试图像样本，并将所述测试图像样本与标准图像进行比对得到比对结果；若所述比对结果的误差率小于或者等于预设值，则得到第n个数据通道对应的时序窗口。5.根据权利要求1-4中任意一项所述的时序校准方法，其特征在于，所述时序校准值为所述每个数据通道对应的时序窗口的平均值。6.一种芯片测试机，其特征在于，包括：校准模块，调整模块，计算模块和配置模块；所述校准模块，用于校准芯片测试机的内部时序；所述调整...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈耀闯，郭彦锋，尹忠平，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32