避免相互干扰的电子零件测试装置及其系统制造方法及图纸

一种避免相互干扰的电子零件测试装置，包含测试电路板及电子零件测试电路，该电子零件测试电路电性连接至该测试电路板；该测试电路板包含多个测试电路子板及多条电源线，该多个测试电路子板分别连接至该电子零件测试电路，该多条电源线分别连接至该多个测试电路子板，该多条电源线分别布线在该多个测试电路子板上或该多个测试电路子板内，该多条电源线彼此隔离以避免该多个测试电路子板相互干扰。一种避免相互干扰的电子零件测试系统，包含该避免相互干扰的电子零件测试装置、电源供应器及多个电子零件，该电源控制器通过该多条电源线分别供电予该多个测试电路子板及该多个电子零件，使得该电子零件测试电路测试该多个电子零件。

【技术实现步骤摘要】
避免相互干扰的电子零件测试装置及其系统
本技术涉及一种电子零件测试装置及一种电子零件测试系统，特别是一种避免相互干扰的电子零件测试装置及一种避免相互干扰的电子零件测试系统。
技术介绍
电子零件，例如集成电路(IC)、存储器或微处理器，在制造完成之后，会放置于测试板上进行测试；一个测试板上可放置并测试多个电子零件。在电子零件测试完毕之后，测试结果为及格的电子零件就可进行出货，而测试结果为不及格的电子零件即进行淘汰销毁。上述测试板测试多个电子零件的缺点为，给这些电子零件供电的电源布线是连接在一起而没有互相隔离的，例如全部的电源布线都会通过电路板的通孔、盲孔或埋孔连接到电路板的电源层，而电源供应器则通过电源层为同时测试这些电子零件而供电；因此，如果这些电子零件的其中一个损坏，就会很容易地通过连接在一起而没有互相隔离的电源布线和电路板的电源层而影响到其他电子零件的测试结果。
技术实现思路
为解决上述问题，本技术的第一目的在于提供一种避免相互干扰的电子零件测试装置。为解决上述问题，本技术的第二目的在于提供一种避免相互干扰的电子零件测试系统。为解决上述问题，本技术的第三目的在于提供一种避免相互干扰的电子零件测试系统。为达成本技术的上述第一目的，本技术的避免相互干扰的电子零件测试装置包含：测试电路板；及电子零件测试电路，该电子零件测试电路电性连接至该测试电路板。其中该测试电路板包含：多个测试电路子板，该多个测试电路子板分别连接至该电子零件测试电路；及多条电源线，该多条电源线分别连接至该多个测试电路子板，该多条电源线分别布线在该多个测试电路子板上或该多个测试电路子板内，该多条电源线彼此隔离以避免该多个测试电路子板相互干扰。为达成本技术的上述第二目的，本技术的避免相互干扰的电子零件测试系统包含：避免相互干扰的电子零件测试装置；及电源供应器，该电源供应器电性连接至该避免相互干扰的电子零件测试装置。其中该避免相互干扰的电子零件测试装置包含：测试电路板；及电子零件测试电路，该电子零件测试电路电性连接至该测试电路板。其中该测试电路板包含：多个测试电路子板，该多个测试电路子板分别连接至该电子零件测试电路；及多条电源线，该多条电源线分别连接至该多个测试电路子板及该电源供应器，该多条电源线分别布线在该多个测试电路子板上或该多个测试电路子板内，该多条电源线彼此隔离以避免该多个测试电路子板相互干扰。其中该电源供应器通过该多条电源线分别供电予该多个测试电路子板。为达成本技术的上述第三目的，本技术的避免相互干扰的电子零件测试系统包含：避免相互干扰的电子零件测试装置；电源供应器，该电源供应器电性连接至该避免相互干扰的电子零件测试装置；及多个电子零件，该多个电子零件分别设置于该避免相互干扰的电子零件测试装置上。其中该避免相互干扰的电子零件测试装置包含：测试电路板；及电子零件测试电路，该电子零件测试电路电性连接至该测试电路板。其中该测试电路板包含：多个测试电路子板，该多个测试电路子板分别连接至该电子零件测试电路，该多个电子零件分别设置于该多个测试电路子板上；及多条电源线，该多条电源线分别连接至该多个测试电路子板及该电源供应器，该多条电源线分别布线在该多个测试电路子板上或该多个测试电路子板内，该多条电源线彼此隔离以避免该多个测试电路子板相互干扰。其中该电源供应器通过该多条电源线分别供电予该多个测试电路子板及该多个电子零件，使得该电子零件测试电路测试该多个电子零件；当该多个电子零件的其中之一损坏时，因为该多条电源线彼此隔离，所以该电子零件测试电路测试其余该多个电子零件不会受到损坏的该电子零件的影响。本技术的功效在于避免该多个测试电路子板的相互干扰。附图说明图1是本技术的该测试电路板(即该多个测试电路子板)的第一层布线图。图2是本技术的该测试电路板(即该多个测试电路子板)的第二层布线图。图3是本技术的该测试电路板(即该多个测试电路子板)的第三层布线图。图4是本技术的避免相互干扰的电子零件测试装置示意图。图5是本技术的避免相互干扰的电子零件测试系统的一实施例示意图。图6是本技术的避免相互干扰的电子零件测试系统的另一实施例示意图。其中，附图标记为：避免相互干扰的电子零件测试装置10避免相互干扰的电子零件测试系统20电子零件30电源供应器40测试电路板102电子零件测试电路104测试电路子板106电源线108接地线110电源布线P1～P5接地布线GND具体实施方式为了能更进一步了解本技术为达成预定目的所采取之技术、手段及功效，请参阅以下有关本技术的详细说明与附图，以获得对本技术的目的、特征与特点的具体了解，所附图式仅用于参考与说明，并非用来对本技术加以限制。在本揭露当中，提供了许多特定的细节，借以提供对本技术的具体实施例彻底了解；然而，本领域技术人员应当知晓，在没有一个或更多个该些特定的细节的情况下，依然能实践本技术；在其他情况下，则未显示或描述众所周知的细节以避免模糊了本技术的主要技术特征。兹有关本技术的
技术实现思路
及详细说明，配合图式说明如下：图4是本技术的避免相互干扰的电子零件测试装置示意图。请参阅图4，本技术的一种避免相互干扰的电子零件测试装置10包含测试电路板102及电子零件测试电路104；该测试电路板102包含多个测试电路子板106、多条电源线108及多条接地线110。该电子零件测试电路104电性连接至该测试电路板102；该多个测试电路子板106分别连接至该电子零件测试电路104；该多条电源线108分别连接至该多个测试电路子板106，该多条电源线108分别布线在该多个测试电路子板106上或该多个测试电路子板106内(如图1～3所示)，该多条电源线108彼此隔离以避免该多个测试电路子板106相互干扰；该多条接地线110分别连接至该多个测试电路子板106，该多条接地线110分别布线在该多个测试电路子板106上或该多个测试电路子板106内(如图1～3所示)，该多条接地线110彼此隔离以避免该多个测试电路子板106相互干扰。图5是本技术的避免相互干扰的电子零件测试系统之一实施例示意图。请参阅图5，本技术的一种避免相互干扰的电子零件测试系统20包含避免相互干扰的电子零件测试装置10及电源供应器40；该避免相互干扰的电子零件测试装置10包含测试电路板102及电子零件测试电路104；该测试电路板102包含多个测试电路子板106、多条电源线108及多条接地线110。该电源供应器40电性连接至该避免相互干扰的电子零件测试装置10；该电子零件测试电路104电性连接至该测试电路板102；该多个测试电路子板106分别连接至该电子零件测试电路104；该多条电源线108分别连接至该多个测试电路子板106及该电源供应器40，该多条电源线108分别布线在该多个测试电路子板106上或该多个测试电路子板106内(如图1～3所示)，该多条电源线108彼此隔离以避免该多个测试电路子板106相互干扰；该电源供应器40通过该多条电源线108分别供电予该多个测试电路子板106；该多条接地线110分别连接至该多个测试电路子板106及该电源供应器40，该多条接地线110分别布本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种避免相互干扰的电子零件测试装置，其特征在于，包含：测试电路板；及电子零件测试电路，该电子零件测试电路电性连接至该测试电路板，其中该测试电路板包含：多个测试电路子板，该多个测试电路子板分别连接至该电子零件测试电路；及多条电源线，该多条电源线分别连接至该多个测试电路子板，该多条电源线分别布线在该多个测试电路子板上或该多个测试电路子板内，该多条电源线彼此隔离以避免该多个测试电路子板相互干扰。

【技术特征摘要】
1.一种避免相互干扰的电子零件测试装置，其特征在于，包含：测试电路板；及电子零件测试电路，该电子零件测试电路电性连接至该测试电路板，其中该测试电路板包含：多个测试电路子板，该多个测试电路子板分别连接至该电子零件测试电路；及多条电源线，该多条电源线分别连接至该多个测试电路子板，该多条电源线分别布线在该多个测试电路子板上或该多个测试电路子板内，该多条电源线彼此隔离以避免该多个测试电路子板相互干扰。2.如权利要求1所述的避免相互干扰的电子零件测试装置，其特征在于，该测试电路板还包含：多条接地线，该多条接地线分别连接至该多个测试电路子板，该多条接地线分别布线在该多个测试电路子板上或该多个测试电路子板内，该多条接地线彼此隔离以避免该多个测试电路子板相互干扰。3.如权利要求2所述的避免相互干扰的电子零件测试装置，其特征在于，该多条电源线彼此平行；该多条接地线彼此平行。4.一种避免相互干扰的电子零件测试系统，其特征在于，包含：避免相互干扰的电子零件测试装置；及电源供应器，该电源供应器电性连接至该避免相互干扰的电子零件测试装置，其中该避免相互干扰的电子零件测试装置包含：测试电路板；及电子零件测试电路，该电子零件测试电路电性连接至该测试电路板，其中该测试电路板包含：多个测试电路子板，该多个测试电路子板分别连接至该电子零件测试电路；多条电源线，该多条电源线分别连接至该多个测试电路子板及该...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈文祺，
申请(专利权)人：陈文祺，
类型：新型
国别省市：中国台湾,71