一种 DIO 通道状态检测方法及嵌入式测试系统技术方案

一种DIO通道状态检测方法及嵌入式测试系统，其中，该方法包括：步骤一、获取待测DIO通道中待测开关器件的开关次数；步骤二、将待测开关器件的开关次数与该开关器件的预设可用开关次数参考阈值进行比较，根据比较结果确定待测开关器件的状态。本方法能够通过统计待测开关器件的开关次数来判断该待测开关器件的状态，从而在待测开关器件的开关次数达到一定次数时生成并输出告警信号，这样也就方便用户能够更加准确、可靠地了解到开关器件的当前状态，防止由于开关器件老化失效而导致对应的DIO通道失效。

【技术实现步骤摘要】
一种DIO通道状态检测方法及嵌入式测试系统
本专利技术涉及嵌入式控制
，具体地说，涉及一种DIO通道状态检测方法及嵌入式测试系统。
技术介绍
随着中国工业化进程的发展，嵌入式控制软件的应用越来越广泛，对嵌入式控制软件的可靠性要求也越来越高，软件测试作为嵌入式控制软件质量的一个重要保证，也越来越受到重视。嵌入式控制软件的测试系统构建过程中，常使用DIO硬件实现被测产品的数字量输入输出信号的采集、转换及驱动输出功能。常用的DIO硬件通道包括MOSFET方式和继电器方式。DIO硬件在实际工作中，影响DIO硬件通道可用性的一个关键因素是通道开关器件的可用性。当DIO硬件采用继电器方式的DIO通道时，因继电器开关器件存在一定的电气寿命，当开关器件的开关次数达到一定值后，器件可能会出现老化失效，从而导致对应的DIO通道失效，此时需要整体更换DIO硬件。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术提供了一种DIO通道状态检测方法，所述方法包括：步骤一、获取待测DIO通道中待测开关器件的开关次数；步骤二、将所述待测开关器件的开关次数与该开关器件的预设可用开关次数参考阈值进行比较，根据比较结果确定所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种DIO通道状态检测方法，其特征在于，所述方法包括：步骤一、获取待测DIO通道中待测开关器件的开关次数；步骤二、将所述待测开关器件的开关次数与该开关器件的预设可用开关次数参考阈值进行比较，根据比较结果确定所述待测开关器件的状态。

【技术特征摘要】
1.一种DIO通道状态检测方法，其特征在于，所述方法包括：步骤一、获取待测DIO通道中待测开关器件的开关次数；步骤二、将所述待测开关器件的开关次数与该开关器件的预设可用开关次数参考阈值进行比较，根据比较结果确定所述待测开关器件的状态。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤一中，通过对所述待测开关器件的开关次数进行实时累积计数，得到所述的待测开关器件的开关次数。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述步骤一中，检测经过所述待测开关器件的信号，并对该信号的上升沿进行检测，当检测到信号上升沿时，将所述待测开关器件的开关次数增加一次；或，检测经过所述待测开关器件的信号，并对该信号的下降沿进行检测，当检测到信号下降沿时，将所述待测开关器件的开关次数增加一次；或，检测经过所述待测开关器件的信号，并对该信号的上升沿和下降沿进行检测，当检测到一组成对的信号上升沿和信号下降沿时，将所述待测开关器件的开关次数增加一次。4.如权利要求1～3中任一项所述的方法，其特征在于，如果所述待测开关器件的开关次数与预设可用开关次数参考阈值的比值大于或等于第一预设比例阈值，则生成并输出第一告警信号。5.如权利要求1～4中任一项所述的方法，其特征在于，如果所述待测开关器件的开关次数与预设可用开关次数参考阈值的比值大于或等于第一预设比例阈值但小于第二预设比例阈值，则生成并输出第一告警信号；如果所述待测开关器件的开关次数与预设可用开关次数参考阈值的比值大于或等于第二预设比例阈值，则生成并输出第二告警信号。6.如权利要求1～5中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据开关器件的开关次数与其对应的...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋明睿，李宁，郭策，陈明奎，费巧玲，黄帅，刘鹏翔，贺晓梅，
申请(专利权)人：株洲中车时代电气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南,43