The utility model discloses an integrated packaging structure, which comprises a plastic sealing layer arranged on the periphery of the package, and a second chip and a substrate are stacked on the inner part of the plastic sealing layer from bottom to top; a first chip placement window and a second bump placement window are arranged on the substrate, a filling layer is arranged in the first chip placement window, and a first chip encapsulated in the filling layer is arranged on the upper end of the first chip. The first solder pad, the first bump electrically connected with the first solder pad and the first solder ball electrically connected with the first bump and protruding the plastic seal layer are arranged at the upper end of the second chip, the second bump electrically connected with the second solder pad and the second bump electrically connected with the second bump and protruding the second solder ball of the plastic seal layer. The first chip and the second chip are encapsulated on the substrate, and the first welding ball is arranged on the first chip, and the second welding ball is arranged on the second chip, so that the encapsulation operation of the utility model can be carried out quickly and efficiently, and the reliability after encapsulation is high.
【技术实现步骤摘要】
集成封装结构
本技术涉及半导体芯片封装
,特别是一种集成封装结构。
技术介绍
随着电子工程的发展,人们对于集成电路(IntegratedCircuit,简称IC)芯片小型化、轻量化及功能化的需求日渐增加,从最开始的单一组件的开发阶段,逐渐进入到了集结多个组件的系统开发阶段,与此同时在产品高效能及外观轻薄的要求下,不同功能的芯片开始迈向整合的阶段,因此封装技术的不断发展和突破,成为推动整合的力量之一。多芯片封装技术的一个最重要的应用—系统级封装(SysteminPackage,简称:SiP)概念随即被提出,SiP作为一种封装技术是指通过将多芯片集中于一个单一封装内,从而使芯片获得系统功能,其具体的封装形式千变万化,可依照客户或产品的需求对于不同的芯片排列方式及内部接合技术进行生产,从而满足不同的市场需求。目前的比较成熟的SiP技术主要是堆叠封装即POP封装。现有的POP封装中,主要有:1.两个独立的封装体通过焊球来实现电性连接及外部PCB板的连接。但是该方案的缺点主要是由于上下2个独特的封装体的结构差异,可能会影响焊球连接结构的可靠性。2.WB(打线)的形式通过金属打线来连接两芯片间的焊垫,最后将打线引到基板上。但是该方案的缺点主要是通过打线方式进行连接,这样就存在导线过长、单一导线所需的弯折点变多,以及导线之间的交错排列而相对提高了耗材成本,可靠性不高,同时,也不利于整体尺寸的微型化设计趋势。3.通过干法刻蚀或者激光打孔的方式形成TSV(硅通孔),以TSV来连接各层芯片。但是该方案的缺点主要是TSV难度大,成本高。
技术实现思路
本技术需要解决的技术问题是提 ...
【技术保护点】
1.集成封装结构,其特征在于:包括封装设置在外围对装置整体进行高效密封的塑封层(2),塑封层(2)的内部自下至上依次堆叠设置有第二芯片(4)和基板(1);基板(1)上开设有第一芯片放置窗(12)和第二凸点放置窗(13),第一芯片放置窗(12)内设置有填充层(5)以及封装在填充层(5)内的第一芯片(3),第一芯片(3)的上端设置有第一焊盘(6)、与第一焊盘(6)电性连接并穿过填充层(5)的第一凸点(7)以及与第一凸点(7)电性连接并凸出塑封层(2)的第一焊球(8);所述第二芯片(4)的上端设置有第二焊盘(9)、与第二焊盘(9)电性连接并穿过第二凸点放置窗(13)的第二凸点(10)以及与第二凸点(10)电性连接并凸出塑封层(2)的第二焊球(11)。
【技术特征摘要】
1.集成封装结构,其特征在于:包括封装设置在外围对装置整体进行高效密封的塑封层(2),塑封层(2)的内部自下至上依次堆叠设置有第二芯片(4)和基板(1);基板(1)上开设有第一芯片放置窗(12)和第二凸点放置窗(13),第一芯片放置窗(12)内设置有填充层(5)以及封装在填充层(5)内的第一芯片(3),第一芯片(3)的上端设置有第一焊盘(6)、与第一焊盘(6)电性连接并穿过填充层(5)的第一凸点(7)以及与第一凸点(7)电性连...
【专利技术属性】
技术研发人员:江子标,
申请(专利权)人:深圳铨力半导体有限公司,
类型:新型
国别省市:广东,44
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。