一种芯片测试用高低温箱制造技术

本实用新型专利技术涉及一种芯片测试用高低温箱，包括高低温箱本体，所述高低温箱本体内设置有转动圆盘，所述转动圆盘的周向侧壁上开设有若干个放置槽，若干个所述放置槽内均设置有放置组件，所述高低温箱本体内设置有驱动放置组件进行转动的转动组件，将芯片放置在对地放置组件内，随后通过电机带动转动圆盘进行转动，转动圆盘在转动的过程中，通过转动组件的设置，可以使放置组件进行自转，使芯片随着转动圆盘公转的同时还能进行自转。本实用新型专利技术涉及芯片测试高低温箱的技术领域。本实用新型专利技术具有即可实现对芯片进行双面检测，提高了对芯片检测的精度的效果。精度的效果。精度的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试用高低温箱


[0001]本技术涉及芯片测试高低温箱的
，尤其是涉及一种芯片测试用高低温箱。

技术介绍

[0002]高低温试验箱：适用于工业产品高温、低温的可靠性试验。对电子电工、汽车摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研单位等相关产品的零部件及材料在高温、低温（交变）循环变化的情况下，检验其各项性能指标，当芯片大批量制造出来时需要对其进行性能检测，因此需要高低温箱进行性能检测。
[0003]通常对芯片进行检测时，是将芯片放置在框架上，然后再用设备对其进行检测，芯片放置在放置框架上时，只能对上端面进行更好的检测，较难全面地对芯片进行检测，降低了对芯片检测的精度。

技术实现思路

[0004]根据现有技术存在的不足，本技术的目的是提供一种芯片测试用高低温箱，具有即可实现对芯片进行双面检测，提高了对芯片检测的精度的效果。
[0005]本技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：
[0006]一种芯片测试用高低温箱，包括高低温箱本体，所述高低温箱本体内设置有转动圆盘，所述转动圆盘的周向侧壁上开设有若干个放置槽，若干个所述放置槽内均设置有放置组件，所述高低温箱本体内设置有驱动放置组件进行转动的转动组件。
[0007]本技术在一较佳示例中可以进一步配置为：所述转动组件包括固定安装在高低温箱本体内腔侧壁上的固定柱和固定安装在固定柱一端的固定齿轮，所述固定齿轮转动设置在转动圆盘上，所述转动圆盘上设置有连接腔室，所述放置槽的两端均开设有凹槽，所述连接腔室内转动设置有转动齿轮，所述转动齿轮的一端固定安装有连接轴，所述连接轴转动设置在连接腔室内，且延伸到凹槽内，所述转动齿轮与固定齿轮啮合，所述放置组件与连接轴之间设置有连接组件。
[0008]本技术在一较佳示例中可以进一步配置为：所述放置组件包括滑动设置在凹槽上的放置框架和开设在放置框架两侧壁上的限制槽，所述放置框架的两端分别固定安装有定位柱，所述定位柱通过连接组件与连接轴相连接。
[0009]本技术在一较佳示例中可以进一步配置为：所述连接组件包括分别开设在连接轴以及定位柱一端面的十字槽和固定安装在十字槽内的电磁铁，所述定位柱的一端滑动设有十字柱，所述定位柱的内腔侧壁固定连接有弹簧，所述弹簧与对应位置的十字柱固定连接，所述十字柱与电磁铁相磁吸。
[0010]本技术在一较佳示例中可以进一步配置为：所述十字柱穿插设置在连接轴上的十字槽内，且十字柱滑动设置在定位柱上的十字槽内。
[0011]综上所述，本技术包括以下至少一种芯片测试用高低温箱有益技术效果：
[0012]1.将芯片放置在对地放置组件内，随后通过电机带动转动圆盘进行转动，转动圆盘在转动的过程中，通过转动组件的设置，可以使放置组件进行自转，使芯片随着转动圆盘公转的同时还能进行自转，即可实现对芯片进行双面检测，提高了对芯片检测的精度。
[0013]2.每个电磁铁都对应单独的电路，当其进行充电时，放置框架的两端定位柱放入到对应的十字槽，因电磁铁通上电之后，其会产生磁力，此时电磁铁将十字柱吸住，十字柱将对弹簧进行拉伸，随后十字柱将插入到对应的十字槽内进行限位，即可将放置框架进行限位，当需要将放置框架取出时，只需要将对应的电磁铁断电，即可将放置框架进行取出，操作便捷。
附图说明
[0014]图1是本实施例的整体结构示意图；
[0015]图2是本实施例的转动圆盘结构示意图；
[0016]图3是本实施例的结构示意图局部剖视图；
[0017]图4是本实施例的图3中A处放大图；
[0018]图5是本实施例的连接组件结构示意图。
[0019]图中，1、高低温箱本体；2、转动圆盘；3、放置槽；4、放置组件；41、放置框架；42、限制槽；43、定位柱；5、凹槽；6、转动组件；61、固定齿轮；62、固定柱；63、转动齿轮；64、连接轴；65、连接组件；651、电磁铁；652、十字槽；653、十字柱；654、弹簧；7、连接腔室。
具体实施方式
[0020]以下结合附图对本技术作进一步详细说明。
[0021]实施例：
[0022]参照图1
‑
5，本技术公开的一种芯片测试用高低温箱，包括高低温箱本体1，高低温箱本体1内设置有转动圆盘2，转动圆盘2的周向侧壁上开设有若干个放置槽3，若干个放置槽3内均设置有放置组件4，高低温箱本体1内设置有驱动放置组件4进行转动的转动组件6。
[0023]本实施例中，将芯片放置在对地放置组件4内，随后通过电机带动转动圆盘2进行转动，转动圆盘2在转动的过程中，通过转动组件6的设置，可以使放置组件4进行自转，即可实现对芯片进行双面检测。
[0024]在一些优选的实施例中，请参照图1、图3、图4和图5，转动组件6包括固定安装在高低温箱本体1内腔侧壁上的固定柱62和固定安装在固定柱62一端的固定齿轮61，固定齿轮61转动设置在转动圆盘2上，转动圆盘2上设置有连接腔室7，放置槽3的两端均开设有凹槽5，连接腔室7内转动设置有转动齿轮63，转动齿轮63的一端固定安装有连接轴64，连接轴64转动设置在连接腔室7内，且延伸到凹槽5内，转动齿轮63与固定齿轮61啮合，放置组件4与连接轴64之间设置有连接组件65。
[0025]当转动圆盘2进行转动时，其带动若干个转动齿轮63沿着固定齿轮61周向转动，在转动的过程中，转动齿轮63会发生转动，转动齿轮63带动连接轴64进行转动，通过连接轴64的设置可带动对应的放置组件4进行转动，实现被检测的芯片可在转动圆盘2公转的同时再进行自转。
[0026]在一些优选的实施例中，请参照图2，放置组件4包括滑动设置在凹槽5上的放置框架41和开设在放置框架41两侧壁上的限制槽42，放置框架41的两端分别固定安装有定位柱43，定位柱43通过连接组件65与连接轴64相连接。
[0027]对芯片进行检测时，可将芯片的两端放置在放置框架41上对应的限制槽42内，然后将定位柱43通过连接组件65固定在连接轴64上，即可完成对芯片的放置。
[0028]需要注意的是：放置框架41具有一定的弹性，可便于对芯片的放入。
[0029]在一些优选的实施例中，请参照图5，连接组件65包括分别开设在连接轴64以及定位柱43一端面的十字槽652和固定安装在十字槽652内的电磁铁651，定位柱43的一端滑动设有十字柱653，定位柱43的内腔侧壁固定连接有弹簧654，弹簧654与对应位置的十字柱653固定连接，十字柱653与电磁铁651相磁吸。
[0030]每个电磁铁651都对应单独的电路，当其进行充电时，放置框架41的两端定位柱43放入到对应的十字槽652，因电磁铁651通上电之后，其会产生磁力，此时电磁铁651将十字柱653吸住，十字柱653将对弹簧654进行拉伸，随后十字柱653将插入到对应的十字槽652内进行限位，即可将放置框架41进行限位，当需要将放置框本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试用高低温箱，包括高低温箱本体（1），其特征在于：所述高低温箱本体（1）内设置有转动圆盘（2），所述转动圆盘（2）的周向侧壁上开设有若干个放置槽（3），若干个所述放置槽（3）内均设置有放置组件（4），所述高低温箱本体（1）内设置有驱动放置组件（4）进行转动的转动组件（6）。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试用高低温箱，其特征在于：所述转动组件（6）包括固定安装在高低温箱本体（1）内腔侧壁上的固定柱（62）和固定安装在固定柱（62）一端的固定齿轮（61），所述固定齿轮（61）转动设置在转动圆盘（2）上，所述转动圆盘（2）上设置有连接腔室（7），所述放置槽（3）的两端均开设有凹槽（5），所述连接腔室（7）内转动设置有转动齿轮（63），所述转动齿轮（63）的一端固定安装有连接轴（64），所述连接轴（64）转动设置在连接腔室（7）内，且延伸到凹槽（5）内，所述转动齿轮（63）与固定齿轮（61）啮合，所述放置组件（4）与连接轴（64）之间设置有连接组件（65）。3.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：江子标，李青春，
申请(专利权)人：深圳铨力半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：