本实用新型专利技术涉及一种带限位结构的芯片测试装置，本实用新型专利技术涉及集成电路的技术领域。本实用新型专利技术包括操作台，操作台的上方设置有检测台，操作台的上方设置有顶板，顶板的下端固定连接有测试仪，检测台的上端开设有两个连接槽，两个连接槽的内底壁开设有安装槽，两个连接槽的上方均滑动设置有两个夹持板，安装槽内设置有两组夹持机构；每组夹持机构均包括螺杆、移动块、两个弹簧和两个连接块，移动块滑动连接于安装槽的侧壁之间，夹持机构、夹持板和检测台配合，夹持板可以移动将芯片固定在检测台的上端，防止检测时芯片移动，影响检测效果。影响检测效果。影响检测效果。
【技术实现步骤摘要】
一种带限位结构的芯片测试装置
[0001]本技术涉及集成电路的
，尤其是涉及一种带限位结构的芯片测试装置。
技术介绍
[0002]集成电路或称微电路、微芯片、晶片/芯片在电子学中是一种将电路（主要包括半导体设备，也包括被动组件等）小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上。
[0003]现有技术中芯片在投入使用时需要通过大量的检测和测试，在测试时芯片在测试板上，若测试板受到外力容易导致芯片晃动，偏离测试板的中心位置，影响测试仪对芯片的检测效果。
技术实现思路
[0004]根据现有技术存在的不足，本技术的目的是提供一种带限位结构的芯片测试装置，具有将芯片进行限位固定在测试板中心位置，提高芯片的测试位置的效果。
[0005]本技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：
[0006]一种带限位结构的芯片测试装置，包括操作台，所述操作台的上方设置有检测台，所述操作台的上方设置有顶板，所述顶板的下端固定连接有测试仪，所述检测台的上端开设有两个连接槽，两个所述连接槽的内底壁开设有安装槽，两个所述连接槽的上方均滑动设置有两个夹持板，所述安装槽内设置有两组夹持机构；
[0007]每组所述夹持机构均包括螺杆、移动块、两个弹簧和两个连接块，所述移动块滑动连接于安装槽的侧壁之间，两个所述连接块均固定连接于移动块的上端，且两个连接块分别滑动连接于两个连接槽内，两个所述弹簧均固定连接于移动块和安装槽的侧壁之间，所述螺杆设置于检测台的一侧，且螺杆螺纹贯穿安装槽的侧壁并与移动块的一侧相抵；四个所述夹持板分别固定连接于四个连接块的上端。
[0008]通过采用上述技术方案，夹持机构、夹持板和检测台配合，夹持板可以移动将芯片固定在检测台的上端，防止检测时芯片移动，影响检测效果。
[0009]本技术在一较佳示例中可以进一步配置为：每组所述夹持机构均还包括两个限位槽，两个所述限位槽均开设于安装槽的内底壁，所述移动块滑动连接于两个限位槽内。
[0010]通过采用上述技术方案，限位槽和移动块滑动配合，可以提高移动块的移动稳定性。
[0011]本技术在一较佳示例中可以进一步配置为：所述操作台的上端开设有升降槽，所述升降槽的内底壁开设有矩形槽，所述矩形槽的一侧壁转动连接有双头丝杆，所述双头丝杆的周向侧螺纹连接有两个丝杆螺母，两个所述丝杆螺母的上端均铰接有推杆，所述检测台铰接于两个推杆的上端。
[0012]通过采用上述技术方案，双头丝杆、丝杆螺母和推杆配合，可以提高检测台的高度方便测试仪进行检测。
[0013]本技术在一较佳示例中可以进一步配置为：所述矩形槽的侧壁之间固定连接有两个限位杆，两个所述丝杆螺母均滑动连接于两个限位杆的周向侧。
[0014]通过采用上述技术方案，丝杆螺母和限位杆滑动配合，可以使得丝杆螺母做直线平移运动，提高检测台的移动稳定性。
[0015]本技术在一较佳示例中可以进一步配置为：所述升降槽的内底壁固定连接有两个伸缩杆，且两个伸缩杆的上端均与检测台之间固定。
[0016]通过采用上述技术方案，伸缩杆可以提高检测台的稳定性。
[0017]本技术在一较佳示例中可以进一步配置为：所述操作台的一侧铰接有支架，所述支架的一侧与顶板固定，所述双头丝杆的一侧活动贯穿操作台的一侧并固定连接有旋钮。
[0018]通过采用上述技术方案，旋钮可以方便转动双头丝杆。
[0019]综上所述，本技术包括以下至少一种有益技术效果：
[0020]1.设置有测试仪、夹持机构、夹持板和检测台，转动螺杆，螺杆推动移动块，弹簧处于拉伸状态，夹持板随着连接块移动，多个夹持板移动将芯片夹持住固定在检测台的上端，防止检测时芯片移动，影响检测效果。
[0021]2.设置有矩形槽、丝杆螺母、双头丝杆、旋钮、推杆和检测台，转动旋钮，旋钮带动双头丝杆转动，丝杆螺母在双头丝杆上移动，推杆推动检测台向上移动，检测台带动芯片上下移动，方便测试仪对芯片进行检测。
附图说明
[0022]图1是本实施例的立体图；
[0023]图2是本实施例的立体剖视图；
[0024]图3是本实施例图2中A处的局部放大图；
[0025]图4是本实施例图2中B处的局部放大图。
[0026]图中，1、操作台；2、支架；3、测试仪；4、检测台；5、夹持板；6、夹持机构；601、螺杆；602、弹簧；603、限位槽；604、连接块；605、移动块；7、旋钮；8、矩形槽；9、丝杆螺母；10、推杆；11、双头丝杆；12、限位杆；13、伸缩杆；14、安装槽；15、连接槽；16、升降槽；17、顶板。
具体实施方式
[0027]以下结合附图对本技术作进一步详细说明。
[0028]实施例：
[0029]参照图1
‑
4，本技术公开的一种带限位结构的芯片测试装置，包括操作台1，操作台1的上方设置有检测台4，操作台1的上方设置有顶板17，顶板17的下端固定连接有测试仪3，检测台4的上端开设有两个连接槽15，两个连接槽15的内底壁开设有安装槽14，两个连接槽15的上方均滑动设置有两个夹持板5，安装槽14内设置有两组夹持机构6；每组夹持机构6均包括螺杆601、移动块605、两个弹簧602和两个连接块604，移动块605滑动连接于安装槽14的侧壁之间，两个连接块604均固定连接于移动块605的上端，且两个连接块604分别滑动连接于两个连接槽15内，两个弹簧602均固定连接于移动块605和安装槽14的侧壁之间，螺杆601设置于检测台4的一侧，且螺杆601螺纹贯穿安装槽14的侧壁并与移动块605的一侧
相抵；四个夹持板5分别固定连接于四个连接块604的上端，每组夹持机构6均还包括两个限位槽603，两个限位槽603均开设于安装槽14的内底壁，移动块605滑动连接于两个限位槽603内，限位槽603和移动块605滑动配合，可以提高移动块605的移动稳定性，转动螺杆601，螺杆601推动移动块605，弹簧602处于拉伸状态，夹持板5随着连接块604移动，多个夹持板5移动将芯片夹持住固定在检测台4的上端，防止检测时芯片移动，影响检测效果。
[0030]操作台1的上端开设有升降槽16，升降槽16的内底壁开设有矩形槽8，矩形槽8的一侧壁转动连接有双头丝杆11，双头丝杆11的周向侧螺纹连接有两个丝杆螺母9，两个丝杆螺母9的上端均铰接有推杆10，检测台4铰接于两个推杆10的上端，双头丝杆11、丝杆螺母9和推杆10配合，可以提高检测台4的高度方便测试仪3进行检测。矩形槽8的侧壁之间固定连接有两个限位杆12，两个丝杆螺母9均滑动连接于两个限位杆12的周向侧，转动旋钮7，旋钮7带动双头丝杆11转动，丝杆螺母9在双头丝杆11上移动，推杆10推动检测台4向上移动，检测台4带动芯片上下移动，方便测试仪3对芯片进行检测。
[0031]升降槽16的内底壁固定连接有两个伸缩杆13，且两个伸缩杆1本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括操作台（1），其特征在于：所述操作台（1）的上方设置有检测台（4），所述操作台（1）的上方设置有顶板（17），所述顶板（17）的下端固定连接有测试仪（3），所述检测台（4）的上端开设有两个连接槽（15），两个所述连接槽（15）的内底壁开设有安装槽（14），两个所述连接槽（15）的上方均滑动设置有两个夹持板（5），所述安装槽（14）内设置有两组夹持机构（6）；每组所述夹持机构（6）均包括螺杆（601）、移动块（605）、两个弹簧（602）和两个连接块（604），所述移动块（605）滑动连接于安装槽（14）的侧壁之间，两个所述连接块（604）均固定连接于移动块（605）的上端，且两个连接块（604）分别滑动连接于两个连接槽（15）内，两个所述弹簧（602）均固定连接于移动块（605）和安装槽（14）的侧壁之间，所述螺杆（601）设置于检测台（4）的一侧，且螺杆（601）螺纹贯穿安装槽（14）的侧壁并与移动块（605）的一侧相抵；四个所述夹持板（5）分别固定连接于四个连接块（604）的上端。2.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：每组所述夹持机构（6）均还包括两个限位槽（603），两个所...
【专利技术属性】
技术研发人员：江子标，李青春，
申请(专利权)人：深圳铨力半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：
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