本发明专利技术公开了一种用于射线底片黑度动态测量的装置，涉及工业射线底片黑度测量领域。本发明专利技术克服了传统的黑度测量设备主要用于单点测量，测量过程繁琐，不适用于大批量底片黑度值检测的缺陷。本发明专利技术基于多传感器采集光照，巧妙结构设计，采用皮带自动无损传片的原理和高性能芯片的信号处理，实现了底片黑度值的多区域、高精度、高速度的动态测量，能够满足工业评片场合要求的大批量底片质量快速评判，从而保证底片后续处理的顺利进行，提高了底片处理效率。
【技术实现步骤摘要】
一种用于射线底片黑度动态测量的装置
本专利技术涉及底片黑度测量领域，尤其是一种用于射线底片黑度动态测量的装置。
技术介绍
射线底片是由射线探伤原理形成的底片，可以用于判断焊缝焊接质量。当射线通过被检查的焊缝时，由于焊缝缺陷对射线的吸收能力不同，底片上焊缝缺陷所对应位置射线强度不一样，导致底片感光程度不同，从而底片透明度不同。底片黑度指底片变黑的透明度，约与每单位面积的金属银或染料的质量成正比。黑度值过大或者过小，工业底片质量均被视为不合格，因此黑度值是判断底片质量优劣的基本指标之一。目前公知测量底片黑度值的仪器大都是由发光源、测量臂（内嵌光强传感器）、数码管、光阑、微处理器、校零按钮以及相关电容电阻等搭建而成。这些仪器使用前均需进行校零：首先，光阑上不放底片，按下测量臂，此时入射光直接照到光传感器。接着按下校零按钮，数码管显示0.00，此时微处理器记下入射光通量，至此校零过程结束。在完成校零后才可进行正式测量：将底片放于光阑上，按下测量臂，入射光透过底片照到传感器，测量出透射光通量，最后由微处理器计算出黑度值，并且驱动数码管显示黑度值，完成单次测量。此类仪器在使用过程中需要手工操作，且单次检测区域过小，仅为直径约2mm的圆形区域，不利于底片大批量处理。在工业场合中往往会有大量射线探伤底片待需处理，且单张底片的面积较大，若采用此类仪器，单张底片评片速度过慢，需要耗费大量人力资源。
技术实现思路
本专利技术要提供一种用于射线底片黑度动态测量装置，以克服现有装置对于人工依赖性强，单点测量、测量速度慢的问题，从而实现底片黑度值的多区域、高速度、高精度的动态测量。为了实现本专利技术的目的，本专利技术提供一种用于射线底片黑度动态测量装置，所述系统由光照强度采集组件、数据处理组件、送片出片组件组成；所述光照强度采集组件包括从上到下依次水平设置的光照强度传感器组、光阑、遮光底板、强光LED光源组和导轨型散热底座，其中光照强度传感器组、光阑和遮光底板构成组件，所述光阑位于光照强度传感器组和遮光底板之间，所述遮光底板的下部设置有送片出片组件，所述强光LED光源组设置于导轨型散热底座上构成组件；所述光照强度传感器组2由数个光照强度传感器组成，所述光阑上设置有数个通孔，所述强光LED光源组由数个LED发光源组成；所述光照强度传感器的感光器件中心与光阑通孔中心以及强光LED发光源的中心处于同一条直线。所述数据处理组件的核心为高性能STM32处理器。所述送片出片组件包括上部开口的外壳、两对辊轴，同步轮，第一齿轮，第二齿轮，同步皮带，压紧轮和步进电机，所述每对辊轴包括上下两个紧密接触的辊轴，分别架设于外壳的两端，每对辊轴中上方辊轴两端分别连接有同步轮和第一齿轮，下方辊轴一端设置有与第一齿轮啮合的第二齿轮，所述出片端的同步轮一侧的外壳下部设置有压紧轮；所述步进电机设置于外壳进片端的外部，所述同步皮带绕于两个同步轮、压紧轮和步进电机的输出轴上。所述遮光底板下部固定设置有导向槽。与现有技术相比，本专利技术的优点如下：1、通过硬件结构设计实现无损自动送片出片，减少人工操作，测量方式更为简单便利，降低人工依赖程度；2、多区域，高精度测量：通过对各个区域分别放置光照强度传感器采集相关信号从而能够实多区域测量；通过采用高精度传感器以及相关软件程序编写以实现高精度测量，相较于标准黑白密度片，本专利技术测量精度能够达到0.1；3、大大提高评片速度：经实际测量，一张规格为300mm*80mm、各个测量点之间水平与垂直间隔均为6mm*6.5mm的工业底片，利用现有公知测量设备需要花费将近三十分钟才可测量完成，而本专利技术可在保证测量误差在±0.1时，将该时间缩短至10s以内。附图说明：图1为系统硬件整体结构示意图，图2为系统工作原理框图；图3为系统工作流程图。附图标记说明如下：1-光阑，2-光照强度传感器组，3-强光LED光源组，4-导轨型散热底座，5-第一齿轮，6-辊轴，7-同步轮，8-光电检测开关，9-外壳，10-压紧轮，11-遮光底板，12-导向槽，13-第二齿轮，14-同步皮带，15-步进电机，16-工业底片。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。参见图1，为了实现本专利技术的目的，本专利技术提供一种用于射线底片黑度动态测量装置，所述系统由光照强度采集组件、数据处理组件、送片出片组件组成；所述光照强度采集组件包括从上到下依次水平设置的光照强度传感器组2、光阑1、遮光底板11、强光LED光源组3和导轨型散热底座4，其中光照强度传感器组2、光阑1和遮光底板11构成组件，所述光阑1位于光照强度传感器组2和遮光底板11之间，所述遮光底板11的下部设置有送片出片组件，所述强光LED光源组3设置于导轨型散热底座4上构成组件；所述光照强度传感器组2由数个光照强度传感器组成，所述光阑1上设置有数个通孔，所述强光LED光源组3由数个LED发光源组成；所述光照强度传感器的感光器件中心与光阑通孔中心以及强光LED发光源的中心处于同一条直线。所述数据处理组件的核心为高性能STM32处理器。所述送片出片组件包括上部开口的外壳9、两对辊轴6，同步轮7，第一齿轮5，第二齿轮13，同步皮带14，压紧轮10和步进电机15，所述每对辊轴6包括上下两个紧密接触的辊轴，分别架设于外壳的两端，每对辊轴6中上方辊轴两端分别连接有同步轮7和第一齿轮5，下方辊轴一端设置有与第一齿轮5啮合的第二齿轮13，所述出片端的同步轮7一侧的外壳下部设置有压紧轮10；所述步进电机15设置于外壳进片端的外部，所述同步皮带14绕于两个同步轮7、压紧轮10和步进电机15的输出轴上。所述遮光底板11下部固定设置有导向槽12。进一步详细说明如下：所述由数个光照强度传感器组成的光照强度传感器组设置于光阑组的数个通孔中心正上方；所述遮光底板11上设置有数个通孔，在数个通孔的位置上对应设置有数个光阑，数个光阑的通孔连通对应传感器的安装位置与其下方的遮光底板11的通孔，遮光底板11支撑各个传感器的同时能够形成暗室环境以滤除杂光；所述遮光底板11正下方设置有由数个强光LED光源组成的强光LED光源组3，各个LED光源位于同一个平面，光照强度传感器的感光器件中心与光阑通孔中心，遮光底板11的通孔以及强光LED发光源的中心处于同一条直线；所述强光LED光源组3位于导轨型散热底座4上方。只要能够使光照强度传感器组、光阑组及遮光底板11上通孔分层顺序设置且使多个光照强度传感器、光阑、通孔和强光LED光源分别对应在一条直线上的固定结构均可采用。所述送片出片组件包括辊轴6，同步轮7，第一齿轮5，第二齿轮13，同步皮带14，压紧轮10，步进电机15。所述辊轴6通过上下两个紧密接触以形成两组辊轴组，分别位于装置送片与出片两端，位于上方的辊轴两侧连接有同步轮7和第一齿轮5，位于下方的辊轴仅在一侧连接有第二齿轮13（与上方辊轴连接齿轮处于同一侧，并与其紧密配合以带动下方辊轴转动）；所述步进电机15输出轴上连接有一个同步轮7，通过同步皮带14本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于射线底片黑度动态测量的装置，其特征在于：所述系统由光照强度采集组件、数据处理组件、送片出片组件组成；所述光照强度采集组件包括从上到下依次水平设置的光照强度传感器组（2）、光阑（1）、遮光底板（11）、强光LED光源组（3）和导轨型散热底座（4），其中光照强度传感器组（2）、光阑（1）和遮光底板（11）构成组件，所述光阑（1）位于光照强度传感器组（2）和遮光底板（11）之间，所述遮光底板（11）的下部设置有送片出片组件，所述强光LED光源组（3）设置于导轨型散热底座（4）上构成组件；所述光照强度传感器组（2）由数个光照强度传感器组成，所述光阑（1）上设置有数个通孔，所述强光LED光源组（3）由数个LED发光源组成；所述光照强度传感器的感光器件中心与光阑通孔中心以及强光LED发光源的中心处于同一条直线。
【技术特征摘要】
1.一种用于射线底片黑度动态测量的装置，其特征在于：所述系统由光照强度采集组件、数据处理组件、送片出片组件组成；所述光照强度采集组件包括从上到下依次水平设置的光照强度传感器组（2）、光阑（1）、遮光底板（11）、强光LED光源组（3）和导轨型散热底座（4），其中光照强度传感器组（2）、光阑（1）和遮光底板（11）构成组件，所述光阑（1）位于光照强度传感器组（2）和遮光底板（11）之间，所述遮光底板（11）的下部设置有送片出片组件，所述强光LED光源组（3）设置于导轨型散热底座（4）上构成组件；所述光照强度传感器组（2）由数个光照强度传感器组成，所述光阑（1）上设置有数个通孔，所述强光LED光源组（3）由数个LED发光源组成；所述光照强度传感器的感光器件中心与光阑通孔中心以及强光LED发光源的中心处于同一条直线。2.根据权利要求1所述的一种用于射线底片黑度动态测量的装置，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨波，袁黎明，贾潇，张宽，闫芬婷，安庆，黄宝洋，王柄凯，许红愿，李小兵，
申请(专利权)人：陕西西宇无损检测有限公司，西安工业大学，
类型：发明
国别省市：陕西,61
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