一种芯片测试压块衬套防呆设计结构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，包括测试压板、衬套安装板和衬套，所述衬套安装板对应测试通孔开设有螺纹通槽，所述衬套的外壁设置有安装螺纹，并通过安装螺纹与螺纹通槽内部螺旋安装，所述衬套的外部通过安装螺纹与测试通孔内壁接触设置，且槽位内部通过滑板固定安装有定位针，所述滑板的端面设置有调节槽位。该芯片测试压块衬套防呆设计结构，具备便于根据对不同芯板定位后测试，避免芯板被测试时损坏，提高测试压块的防呆效果，以及便于对测试压块上的衬套进行更换，降低对芯片测试成本的优点，解决了现有对芯片测试压块衬套不易更换，增加对芯片测试成本，以及对芯片测试时测试压板防呆效果不佳的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试压块衬套防呆设计结构
本技术涉及芯片测试
，具体为一种芯片测试压块衬套防呆设计结构。
技术介绍
在工业设计上，为了避免使用者的操作失误造成机器或人身伤害，会有针对这些可能发生的情况来做预防措施，称为防呆，现有对芯片测试是通过孔与导向PIN来对准后测试，对芯片测试承载板上不设置对芯片定位防呆的结构，极易导致芯片被测试时放置出现偏差而造成芯片的损坏或造成芯片测试结果不精确。现有专利申请号为CN201720892599.3中公开了一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，通过在测试压块上开设圆形定位孔和腰形定位孔以及在测试压块的两侧分别设置不同尺寸的衬套对芯片测试进行防呆，且结构不能避免芯片在被测试时因触碰而出现偏移，导致测试压块对芯片与测试机器压合对芯片测试时造成芯片的损坏，不能很好的解决对芯片测试防呆的效果，而且衬套为固定安装在测试压块的两侧，由于衬套为代替测试压板上的通孔对测试机器的定位柱承接，以降低对孔的磨损，在衬套磨损严重影响使用时不易更换，需要对整组测试压块更换，增加的芯片测试使用成本。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，具备便于根据对不同芯本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，包括测试压板（1）、衬套安装板（2）和衬套（3），其特征在于：所述测试压板（1）的中心固定设置有测试压头（11），所述测试压板（1）的相对两侧开设有测试通孔（31），所述测试压板（1）对应测试通孔（31）的周边开设有卡槽（21），并对应卡槽（21）内部开设有定位通孔（22），所述衬套安装板（2）的安装端面固定设置有定位螺钉（23），所述衬套安装板（2）固定卡装在卡槽（21）内部，并通过定位螺钉（23）穿过定位通孔（22）设置，所述衬套安装板（2）对应测试通孔（31）开设有螺纹通槽（24），所述衬套（3）的外壁设置有安装螺纹（32），并通过安装螺纹（32）与...

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，包括测试压板（1）、衬套安装板（2）和衬套（3），其特征在于：所述测试压板（1）的中心固定设置有测试压头（11），所述测试压板（1）的相对两侧开设有测试通孔（31），所述测试压板（1）对应测试通孔（31）的周边开设有卡槽（21），并对应卡槽（21）内部开设有定位通孔（22），所述衬套安装板（2）的安装端面固定设置有定位螺钉（23），所述衬套安装板（2）固定卡装在卡槽（21）内部，并通过定位螺钉（23）穿过定位通孔（22）设置，所述衬套安装板（2）对应测试通孔（31）开设有螺纹通槽（24），所述衬套（3）的外壁设置有安装螺纹（32），并通过安装螺纹（32）与螺纹通槽（24）内部螺旋安装，所述衬套（3）的末端通过安装螺纹（32）螺旋进测试通孔（31）内部设置，所述衬套（3）的外部通过安装螺纹（32）与测试通孔（31）内壁接触设置，所述测试压板（1）对应卡槽（21）的内侧开设有槽位（13），且槽位（13）内部通过滑板（131）固定安装有定位针（14），所述滑板（131）的端面设置有调节槽位（132）。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：所述测试压头（11）的周...

【专利技术属性】
技术研发人员：王杨，王骏卿，
申请(专利权)人：昆山芯信安电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32